[實用新型]殼體斜孔斜度測具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320457503.2
• 申請日: 2013-07-29
• 公開（公告）號: CN203396343U
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發(fā)明（設計）人: 華文磊
• 申請（專利權）人: 南京金城精密機械有限公司
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種殼體斜孔斜度測具，其特征在于，包括基體、導向套、測量桿、百分表、百分表支座和具有內斜面的標準樣圈，前述基體具有高出基體1mm的凸臺，該凸臺用于與殼體斜孔的斜面點貼緊，前述標準樣圈可移除地設置在基體下方并且其內斜孔與凸臺貼緊用于將百分表對零，前述百分表在標準樣圈的內斜孔深度為3mm時對零并使得測量桿與殼體斜孔的接觸點的寬度是0.353mm，前述測量桿通過基體上的導向套與殼體斜孔在寬度0.353mm的位置接觸而測量出斜面的深度位置。

2.根據(jù)權利要求1所述的殼體斜孔斜度測具，其特征在于，前述標準樣圈內斜面的傾角與殼體斜孔斜度的標準尺寸相同。

3.根據(jù)權利要求2所述的殼體斜孔斜度測具，其特征在于，前述標準樣圈內斜面的傾角為80°。