[實(shí)用新型]一種芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320435045.2
• 申請(qǐng)日: 2013-07-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN203423155U
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉菁華
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海耐普微電子有限公司;鈺太科技股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H01L21/68
• 分類(lèi)號(hào): H01L21/68;H05K13/08
• 代理公司: 上海申新律師事務(wù)所 31272
• 代理人: 竺路玲

1.一種芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)，適用于引腳呈軸對(duì)稱(chēng)形狀分布的芯片的檢測(cè)系統(tǒng)，所述檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)置有檢測(cè)單元；

其特征在于，所述芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)包括：

與所述芯片的引腳匹配的連接座，所述連接座按預(yù)置的邏輯與所述檢測(cè)單元連接；

位置檢測(cè)裝置；所述位置檢測(cè)裝置包括第一檢測(cè)端和第二檢測(cè)端；所述第一檢測(cè)端連接所述連接座的第一預(yù)設(shè)位置；所述第二檢測(cè)端連接所述連接座的第二預(yù)設(shè)位置；所述位置檢測(cè)裝置通過(guò)所述第二檢測(cè)端的輸出判斷所述第一預(yù)設(shè)位置和所述第二預(yù)設(shè)位置之間的電路狀態(tài)；

處理裝置；所述處理裝置的輸入端連接所述位置檢測(cè)裝置；所述處理裝置將通過(guò)所述位置檢測(cè)裝置獲取的所述電路狀態(tài)與所述處理裝置中預(yù)置的基準(zhǔn)狀態(tài)進(jìn)行匹配，并根據(jù)匹配結(jié)果自輸出端輸出相應(yīng)的控制指令；

校準(zhǔn)裝置；所述校準(zhǔn)裝置的輸入端連接所述處理裝置的輸出端，還包括設(shè)置于所述連接座與所述檢測(cè)單元之間的切換模塊，所述切換模塊根據(jù)所述控制指令以及所述切換模塊中預(yù)置的切換邏輯切換所述連接座與位置檢測(cè)裝置之間的連接形式或者切換所述連接座與所述檢測(cè)單元之間的連接形式。

2.如權(quán)利要求1所述的芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)通過(guò)所述第一檢測(cè)端輸入一個(gè)預(yù)設(shè)大小的電壓；所述位置檢測(cè)裝置通過(guò)所述第二檢測(cè)端的輸出所判斷的所述電路狀態(tài)為所述第一預(yù)設(shè)位置和所述第二預(yù)設(shè)位置之間的電壓值；所述基準(zhǔn)狀態(tài)為電壓值。

3.如權(quán)利要求1所述的芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)通過(guò)所述第一檢測(cè)端輸入一個(gè)預(yù)設(shè)大小的電流；所述位置檢測(cè)裝置通過(guò)所述第二檢測(cè)端的輸出所判斷的所述電路狀態(tài)為所述第一預(yù)設(shè)位置和所述第二預(yù)設(shè)位置之間的電流值；所述基準(zhǔn)狀態(tài)為電流值。

4.如權(quán)利要求1所述的芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)檢測(cè)所述第一檢測(cè)端和所述第二檢測(cè)端之間的電阻值；所述位置檢測(cè)裝置通過(guò)所述第二檢測(cè)端的輸出所判斷的所述電路狀態(tài)為所述第一預(yù)設(shè)位置和所述第二預(yù)設(shè)位置之間的電阻值；所述基準(zhǔn)狀態(tài)為電阻值。

5.如權(quán)利要求1所述的芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)位置位于與所述芯片的引腳匹配的所述連接座的一個(gè)頂角處。

6.如權(quán)利要求1或5中任意一項(xiàng)所述的芯片校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，所述第二預(yù)設(shè)位置位于所述連接座上的與所述第一預(yù)設(shè)位置呈中心對(duì)稱(chēng)的位置上。