[實(shí)用新型]X射線熒光光譜儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320411650.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN203432926U | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊寧波 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳市禾苗分析儀器有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/223 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/223 |
| 代理公司: | 廣東國(guó)暉律師事務(wù)所 44266 | 代理人: | 鄧鉅明 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)南頭關(guān)口二*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射線 熒光 光譜儀 | ||
1.一種X射線熒光光譜儀,包括準(zhǔn)直器系統(tǒng)單元、樣品系統(tǒng)單元、真空系統(tǒng)單元和機(jī)箱,其特征在于:所述的機(jī)箱包括測(cè)量箱和輔助箱,所述的準(zhǔn)直器系統(tǒng)單元和所述的樣品系統(tǒng)單元存放在所述的測(cè)量箱內(nèi)的測(cè)量室中,所述的真空系統(tǒng)單元存放在所述的輔助箱內(nèi)的輔助室中。?
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的測(cè)量箱設(shè)置在所述的輔助箱上方,所述的測(cè)量箱和所述的輔助箱之間設(shè)有用于緩沖振動(dòng)的彈性墊。?
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的測(cè)量箱包括測(cè)量箱主殼體、主面罩、測(cè)量箱左側(cè)門(mén)、測(cè)量箱右側(cè)門(mén)、測(cè)量箱后門(mén)和取樣門(mén),所述的主面罩設(shè)置在所述的測(cè)量箱主殼體上,取樣門(mén)樞接在主面罩的頂部,測(cè)量箱左側(cè)門(mén)設(shè)置在測(cè)量箱主殼體的左側(cè),測(cè)量箱右側(cè)門(mén)設(shè)置在測(cè)量箱主殼體的右側(cè),測(cè)量箱后門(mén)安裝在測(cè)量箱主殼體的后面,測(cè)量箱后門(mén)上安裝有用于鎖住測(cè)量箱后門(mén)的門(mén)鎖;所述的測(cè)量箱主殼體的底部安裝有用于所述的測(cè)量箱進(jìn)風(fēng)、排風(fēng)的風(fēng)扇,所述的測(cè)量箱后門(mén)上安裝有用于所述的測(cè)量箱進(jìn)風(fēng)的風(fēng)扇。?
4.根據(jù)權(quán)利要求書(shū)1所述的X射線熒光光譜儀,其特征是:所述的輔助箱包括輔助箱主殼體、輔助箱左側(cè)門(mén)、輔助箱右側(cè)門(mén)、輔助箱后門(mén),輔助箱左側(cè)門(mén)設(shè)置在輔助箱主殼體的左側(cè),輔助箱右側(cè)門(mén)設(shè)置在輔助箱主殼體的右側(cè),輔助箱后門(mén)安裝在輔助箱主殼體的后面,輔助箱后門(mén)上安裝有用于鎖住輔助箱后門(mén)的?門(mén)鎖;所述的輔助箱主殼體的底部安裝有用于所述的輔助箱排風(fēng)的風(fēng)扇,所述的輔助箱后門(mén)上安裝有用于所述的輔助箱進(jìn)風(fēng)的風(fēng)扇。?
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的取樣門(mén)包括密封蓋座和底座,所述的底座固定在所述的主面罩上,所述的密封蓋座和所述的底座通過(guò)合頁(yè)、軸承或鉸鏈合頁(yè)活動(dòng)連接,所述的密封蓋座上嵌裝鉛玻璃片。?
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的樣品系統(tǒng)單元包括樣品平臺(tái),所述的樣品平臺(tái)將測(cè)量室分割為相互獨(dú)立的上部空間和下部空間,所述的上部空間為用于存放樣品系統(tǒng)單元的樣品室,所述的下部空間為用于存放準(zhǔn)直器系統(tǒng)單元的分析室。?
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的樣品平臺(tái)包括測(cè)樣面板、樣品臺(tái)和樣品盤(pán),所述的測(cè)樣面板上設(shè)有階梯孔,所述的樣品臺(tái)嵌合在所述的階梯孔內(nèi);所述的樣品臺(tái)上容置所述的樣品盤(pán)。?
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的樣品平臺(tái)包括測(cè)樣面板、真空閘和多樣品輸送盤(pán),所述的測(cè)樣面板上容置有多樣品輸送盤(pán),所述的多樣品輸送盤(pán)包括鑲嵌有磁鋼的多樣品輸送盤(pán)本體和鐵磁性的盤(pán)座,所述的鐵磁性的盤(pán)座上設(shè)有凸起,在所述的多樣品輸送盤(pán)本體的對(duì)應(yīng)位置設(shè)有與所述的盤(pán)座的凸起完全耦合的凹槽。?
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的多樣品輸送盤(pán)本體上設(shè)有至少2個(gè)用于存放樣品杯的樣品孔;所述的多樣品輸送盤(pán)本體呈圓盤(pán)形,所述的多樣品輸送盤(pán)本體的邊緣緊密嵌合環(huán)形的齒輪;所述多樣品輸送盤(pán)本體的凹槽位置的底部裝有滾動(dòng)軸承,所述的滾動(dòng)軸承與所述的盤(pán)座的凸起完全耦合。?
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的X射線熒光光譜儀,其特征在于:所述的測(cè)樣面板上設(shè)有真空隔斷裝置,所述的真空隔斷裝置包括真空閘和密封圈,所述的真空閘的底部用于與測(cè)樣面板緊密結(jié)合形成密封面,在所述的真空閘的底部開(kāi)設(shè)向內(nèi)凹陷的凹槽,所述的密封圈對(duì)應(yīng)地嵌入所述的凹槽內(nèi)。?
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





