[實用新型]IC測試座

有效

• 申請號: 201320409811.8
• 申請日: 2013-07-10
• 公開（公告）號: CN203365478U
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 曾強
• 申請（專利權）人: 曾強
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京商專永信知識產權代理事務所(普通合伙) 11400
• 代理人: 高之波;鄔玥

技術領域

本實用新型涉及到一種IC性能檢測裝置，特別是涉及到一種IC測試座。

背景技術

隨著半導體集成電路器件（IC）在電子產品中的廣泛運用，IC的市場需求量也越來越大。為了確保IC的性能符合要求，我們通常用到了IC性能檢測裝置。現有技術中的IC性能檢測裝置中用到的IC測試座主要包括測試架和連接件，其中測試架將待測IC固定，并通過連接件連通功能型測定裝置來實現IC性能的檢測。這類連接件主要包括用絕緣材料制作成型的絕緣底板和絕緣蓋板，該絕緣底板和絕緣蓋板上對應設有多個細小的針孔，在制作過程中，首先在針孔中加入PIN針，再通過絕緣底板和絕緣蓋板對PIN針進行固定。采用這種方式制造的連接件，首先由于PIN非常小，故組裝起來非常麻煩，組裝成本高并不便于大量生產；其次采用這種方法用到的PIN針的長度一般需要有5mm左右，并且PIN針與IC以及功能型測量裝置之間接觸的間隙大，故而在連接待測IC和功能型測定裝置時，在PIN針進行信號傳到的過程中，損失的信號也比較多，致使測量不夠精確，同時PIN針長度較長，材料的成本高。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種成本低、組裝方便、測量精確度高的IC測試座。

根據本實用新型的一個方面，提供了一種IC測試座，包括測試架和連接件，該測試架上設有凹槽，連接件位于凹槽的下方，連接件包括導電柱和絕緣骨架，導電柱分布在絕緣骨架上，導電柱和絕緣骨架為一體成型結構。由于使用一體成型結構的導電柱和絕緣骨架作為連接件，因此本實用新型IC測試座組裝非常方便，組裝成本低，并且能夠實現大批量生產。同時采用這種結構連接件，它與IC以及功能型測量裝置之間接觸的間隙小，測量過程中損失的信號少，測量也更加的精確。

在一些實施方式中，導電柱可以呈陣列狀分布在絕緣骨架上。由于導電柱呈陣列狀分布在絕緣骨架上，絕緣骨架將相鄰的導電柱分隔開，并且進行固定，因此連接件可以很好的與待測IC上陣列狀的金手指進行吻合，從而實現對待測IC的測定。

在一些實施方式中，連接件的厚度可以為1～2mm。由于連接件的厚度只有1～2mm，因此在連接件上衰減的信號也會減少，故而本實用新型IC測試座測量的結果也會更加的精確。

在一些實施方式中，本實用新型IC測試座還可以包括固定架，該固定架上設有定位槽，該定位槽與連接件相匹配，固定架與連接件固定相連。由于將連接件固定在固定架上，因此可以防止連接件的變形，同時便于對連接件進行定位。

在一些實施方式中，固定架相對應的兩端上可以設有第一定位孔和第二定位孔，該測試架的下表面上設有與第一定位孔相匹配的第一定位銷和與第二定位孔相匹配的第二定位銷。由于設有相匹配的第一定位孔與第一定位銷和第二定位孔與第二定位銷，因此可以將定位架固定在測試架上。

在一些實施方式中，第一定位孔的直徑可以小于第二定位孔的直徑。由于第一定位孔的直徑與第二定位孔不同，因此可以有效的避免裝配的失誤，提高成品的合格率。

在一些實施方式中，固定架的一個角可以為斜角。由于將固定架的一個角設為斜角，因此可以更好的區分固定架的安裝方向，使連接件與待測IC之間的接觸間隙更小，測量也更加精確。

在一些實施方式中，固定架可以為金屬固定架。由于采用金屬材料作為固定架，因此固定架的剛塑性好，可以更好的固定連接件，防止連接件變形，同時利于生產和加工。

在一些實施方式中，測試架的下表面上設有固定柱。由于通過固定柱將本實用新型IC測試座與功能型測定裝置相連，因此可以實現對待測IC進行性能的檢測。

附圖說明

圖1為本實用新型IC測試座的剖視圖。

圖2為本實用新型IC測試座的仰視圖。

圖3為本實用新型IC測試座固定架的結構示意圖。

圖4為本實用新型IC測試座連接件的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型作進一步詳細說明。

參照圖1：IC測試座包括測試架1和連接件2，測試架1下端有一凹槽12，連接件2在凹槽12的正下方。一待測IC（半導體集成電路器件）4位于連接件2的上方并與連接件2的上表面相接觸，在壓力柱11的作用下連接件2與IC4緊密接觸。

參照圖4：連接件2為一種導電膠，它包括導電柱21和絕緣骨架22，其中導電柱21和絕緣骨架22為固定連接在一起的一個整體，導電柱21豎向設置在絕緣骨架22上，且呈陣列狀排布。