[實用新型]IC測試座有效
| 申請號： | 201320409811.8 | 申請日： | 2013-07-10 |
| 公開（公告）號： | CN203365478U | 公開（公告）日： | 2013-12-25 |
| 發明（設計）人： | 曾強 | 申請（專利權）人： | 曾強 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京商專永信知識產權代理事務所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 高之波;鄔玥 |
| 地址： | 523000 廣東省東莞市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | ic 測試 | ||
1.IC測試座，其特征在于，包括測試架（1）和連接件（2），所述測試架（1）上設有凹槽（12），所述連接件（2）位于凹槽（12）的下方，所述連接件（2）包括導電柱（21）和絕緣骨架（22），所述導電柱（21）分布在絕緣骨架（22）上，所述導電柱（21）和絕緣骨架（22）為一體成型結構。?
2.根據權利要求1所述的IC測試座，其特征在于，所述導電柱（21）呈陣列狀分布在絕緣骨架（22）上。?
3.根據權利要求1所述的IC測試座，其特征在于，所述連接件（2）的厚度為1～2mm。?
4.根據權利要求1所述的IC測試座，其特征在于，還包括固定架（3），所述固定架（3）上設有定位槽（31），所述定位槽（31）與連接件（2）相匹配，所述固定架（3）與連接件（2）固定相連。?
5.根據權利要求4所述的IC測試座，其特征在于，所述固定架（3）相對應的兩端上分別設有第一定位孔（32）和第二定位孔（33），所述測試架（1）的下表面上設有與第一定位孔（32）相匹配的第一定位銷（14）和與第二定位孔（33）相匹配的第二定位銷（15）。?
6.根據權利要求5所述的IC測試座，其特征在于，所述第一定位孔（32）的直徑小于第二定位孔（33）的直徑。?
7.根據權利要求4所述的IC測試座，其特征在于，所述固定架（3）的一個角為斜角（34）。?
8.根據權利要求4所述的IC測試座，其特征在于，所述固定架（3）為金屬固定架。?
9.根據權利要求1～8任一項所述的IC測試座，其特征在于，所述測試架（1）的下表面上設有固定柱（13）。?
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