[實用新型]用于檢測可移動目標(biāo)的位置的位置檢測裝置和注射泵有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320406648.X | 申請日: | 2013-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN203534530U | 公開(公告)日: | 2014-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 毛愛民 | 申請(專利權(quán))人: | 北京科力建元醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02;A61M5/142 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 孫紀(jì)泉 |
| 地址: | 100085 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢測 移動 目標(biāo) 位置 裝置 注射 | ||
1.一種用于檢測可移動目標(biāo)的位置的位置檢測裝置,其特征在于,包括:?
支架;?
第一檢測片,固定地安裝至位置檢測裝置的所述支架,所述第一檢測片包括多個連續(xù)的形狀均勻的標(biāo)記;?
第二檢測片,固定地安裝至位置檢測裝置的所述支架,所述第二檢測片包括多個連續(xù)的形狀漸變的標(biāo)記;?
檢測組件,配置成與所述可移動目標(biāo)固定連接并能夠在所述支架上移動,用于通過感測第一檢測片上的形狀均勻的標(biāo)記和第二檢測片的形狀漸變的標(biāo)記確定所述可移動目標(biāo)相對于所述支架的位置。?
2.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,所述檢測組件包括光耦開關(guān),所述光耦開關(guān)通過分別發(fā)射入射光信號至第一檢測片上的所述形狀均勻的標(biāo)記和第二檢測片的形狀漸變的標(biāo)記并檢測反射光信號對兩個檢測片上的標(biāo)記進行掃描,通過標(biāo)記的掃描確定所述可移動目標(biāo)的位置。?
3.如權(quán)利要求2所述的位置檢測裝置,其特征在于,所述檢測組件還包括處理器,所述處理器根據(jù)光耦開關(guān)掃描第一檢測片的所述形狀均勻的標(biāo)記和第二檢測片的形狀漸變的標(biāo)記的結(jié)果得出所述可移動目標(biāo)的位置。?
4.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,所述第一檢測片上的所述形狀均勻的標(biāo)記和第二檢測片的形狀漸變的標(biāo)記分別是形成在兩個檢測片上的形狀均勻的孔和形狀漸變的孔。?
5.如權(quán)利要求4所述的位置檢測裝置,其特征在于,所述形狀均勻的孔是方形孔,形狀漸變的孔是矩形孔。?
6.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,所述支架包括絲杠,所述絲杠配置用于驅(qū)動可移動目標(biāo)和檢測組件在所述支架上移動。?
7.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中形狀均勻的標(biāo)記用于確定可移動目標(biāo)的相對移動位置,形狀漸變的標(biāo)記用于確定?可移動目標(biāo)的絕對移動位置。?
8.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中形狀均勻的標(biāo)記之間的間距相等且在0.5-5mm之間。?
9.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中形狀漸變的標(biāo)記之間的間距相等且在0.5-10mm之間。?
10.如權(quán)利要求8所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中形狀均勻的標(biāo)記之間的間距為1mm。?
11.如權(quán)利要求9所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中形狀漸變的標(biāo)記之間的間距為1mm。?
12.如權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中第一檢測片與第二檢測片以一定間隔距離分離地布置。?
13.如權(quán)利要求6所述的位置檢測裝置,其特征在于,其中第一檢測片布置在絲杠的上側(cè),第二檢測片布置在絲杠的下側(cè)。?
14.一種注射泵,包括如前述權(quán)利要求中任一項所述的位置檢測裝置,其中所述位置檢測裝置用于檢測注射泵的用于推動注射器的推頭的位置。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京科力建元醫(yī)療科技有限公司,未經(jīng)北京科力建元醫(yī)療科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320406648.X/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測系統(tǒng)及目標(biāo)檢測方法
- 目標(biāo)監(jiān)測方法、目標(biāo)監(jiān)測裝置以及目標(biāo)監(jiān)測程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測方法和目標(biāo)檢測裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





