[實(shí)用新型]一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320327911.6
• 申請(qǐng)日: 2013-06-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN203287485U
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余彬海;湯勇;丁鑫銳;李宇吉;朱本明;李宗濤
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 華南理工大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/26
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 廣州粵高專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 何淑珍

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及領(lǐng)域?qū)儆诎雽?dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種用于LED芯片及器件檢測(cè)的裝置。

背景技術(shù)

LED光源以其高光效，節(jié)能，環(huán)保，壽命長(zhǎng)，響應(yīng)時(shí)間短等諸多優(yōu)點(diǎn)成為第四代光源，已逐漸開(kāi)始取代傳統(tǒng)光源，在市場(chǎng)顯示出廣闊的潛力。尤其是大功率LED光源，在照明領(lǐng)域使用量非常巨大。在新興應(yīng)用市場(chǎng)不斷出現(xiàn)的帶動(dòng)下，近些年LED市場(chǎng)規(guī)模快速提升。市場(chǎng)對(duì)于LED的需求急劇上升，與之配套的LED生產(chǎn)設(shè)備的需求數(shù)量也在迅猛增加，市場(chǎng)調(diào)研機(jī)構(gòu)DisplaySearch的數(shù)據(jù)顯示，2009年LED市場(chǎng)需求758億顆；2010年則達(dá)960億顆，年增長(zhǎng)率達(dá)26%左右。預(yù)計(jì)到2014年，全球?qū)ED的需求量將超過(guò)2000億顆，是2009年總需求量的將近3倍。素有電子產(chǎn)業(yè)世界工廠之稱(chēng)的中國(guó)早已成為各大LED裝備制裝備供應(yīng)商爭(zhēng)相進(jìn)入的主要市場(chǎng)。LED裝備的需求逐漸走向自動(dòng)化和專(zhuān)業(yè)化，技術(shù)和科技含量也在逐步的提升和發(fā)展。LED檢測(cè)設(shè)備研發(fā)進(jìn)入了一個(gè)全面發(fā)展的新階段，要求設(shè)備的開(kāi)發(fā)應(yīng)用創(chuàng)新工藝和創(chuàng)新技術(shù)。

但目前我國(guó)絕大多數(shù)LED廠家均使用國(guó)外進(jìn)口的生產(chǎn)與檢測(cè)設(shè)備。根據(jù)LED?光電檢測(cè)設(shè)備產(chǎn)品的功能特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)所，可將其概括為實(shí)驗(yàn)室光電檢測(cè)分析儀器和生產(chǎn)用光電檢測(cè)設(shè)備兩大體系。LED?實(shí)驗(yàn)室光電檢測(cè)分析儀器是以產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制為目的，主要用于生產(chǎn)制造企業(yè)質(zhì)量控制、檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)以及科研院所研發(fā)等各類(lèi)實(shí)驗(yàn)室；而LED生產(chǎn)用光電檢測(cè)設(shè)備則是應(yīng)規(guī)模化生產(chǎn)需求出現(xiàn)，是指嵌入到LED生產(chǎn)企業(yè)生產(chǎn)工序中，對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中LED的光、色、電等性能參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試與控制檢測(cè)的設(shè)備，對(duì)自動(dòng)化技術(shù)及檢測(cè)效率要求較高。面對(duì)越來(lái)越多的市場(chǎng)，LED器件的檢測(cè)對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量及一致性尤為重要。目前，LED技術(shù)領(lǐng)域測(cè)試分選設(shè)備技術(shù)相對(duì)落后，尤其是自動(dòng)化程度高的自動(dòng)測(cè)試分選裝備主要依靠進(jìn)口，價(jià)格昂貴，耗費(fèi)大量資金，是制約LED器件成本，導(dǎo)致其成本無(wú)法下降的重要原因之一。傳統(tǒng)的LED檢測(cè)方法主要是靠?jī)呻姌O點(diǎn)觸，即檢測(cè)完一顆器件再檢測(cè)另一顆器件，效率低下，同時(shí)設(shè)備機(jī)構(gòu)動(dòng)作次數(shù)多，造成設(shè)備關(guān)鍵零部件損耗嚴(yán)重。此外，這種技術(shù)需要穩(wěn)定可靠，且具有高控制精度的關(guān)鍵部件以保證檢測(cè)探針的正常工作，系統(tǒng)復(fù)雜，元件昂貴，設(shè)備成本高。

????綜上所述，為應(yīng)對(duì)越來(lái)與廣闊的LED市場(chǎng)需求，新的高速檢測(cè)手段的開(kāi)發(fā)極為緊迫，根據(jù)現(xiàn)有的解決思路，檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)效率很難再有所提高，解決上述問(wèn)題，必須通過(guò)新的技術(shù)思路，提升檢測(cè)效率。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問(wèn)題。

本實(shí)用新型專(zhuān)利針對(duì)以上技術(shù)背景及技術(shù)現(xiàn)狀，著眼于新的檢測(cè)手段，通過(guò)方法與結(jié)構(gòu)創(chuàng)新，提出一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置。本實(shí)用新型的檢測(cè)方法不同于傳統(tǒng)的LED檢測(cè)方法，傳統(tǒng)檢測(cè)方式主要是靠?jī)呻姌O點(diǎn)觸，檢測(cè)完一顆器件再檢測(cè)另一顆器件。本實(shí)用新型采用輥式檢測(cè)裝置，采用掃描方式快速對(duì)同一工位的多顆測(cè)試對(duì)象進(jìn)行檢測(cè)，效率可提升6-10倍。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，包括方框形藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具、位于藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具下方的可轉(zhuǎn)動(dòng)或滾動(dòng)的環(huán)狀陣列測(cè)試電極輥、電源與電參數(shù)采集系統(tǒng)，所述環(huán)狀陣列測(cè)試電極輥包括以工程塑料或電木為材料的空心圓柱狀基體，該空心圓柱狀基體的側(cè)面沿軸向及周向均勻設(shè)置有環(huán)狀陣列通孔，每個(gè)環(huán)狀陣列通孔內(nèi)均向外延伸地設(shè)置有一根可彈性伸縮的金屬測(cè)試電極，所述金屬測(cè)試電極包括正極金屬測(cè)試電極和負(fù)極金屬測(cè)試電極，沿空心圓柱狀基體軸向設(shè)置的每一列環(huán)狀陣列通孔均勻間隔設(shè)置，各個(gè)正極金屬測(cè)試電極和負(fù)極金屬測(cè)試電極同電源與電參數(shù)采集系統(tǒng)電路連接，所述空心圓柱狀基體一端還設(shè)置有由步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的同步帶輪或齒輪。

進(jìn)一步地，所述藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具包括可水平移動(dòng)的上邊框夾具和可上下移動(dòng)的下邊框夾具，該藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具的寬度大于環(huán)狀陣列測(cè)試電極輥的長(zhǎng)度，所述下邊框夾具設(shè)有用于承載和滑動(dòng)LED基板器件的滑軌。

進(jìn)一步地，沿空心圓柱狀基體軸向上相鄰兩列環(huán)狀陣列通孔的中心線的夾角為30-60°。

進(jìn)一步地，所述金屬測(cè)試電極包括一端位于金屬測(cè)試電極外套內(nèi)的探測(cè)針以及彈簧，所述彈簧位于探測(cè)針底部與金屬測(cè)試電極外套內(nèi)部，使探測(cè)針具有可伸縮性，所述金屬測(cè)試電極外套上還設(shè)置有導(dǎo)線。

進(jìn)一步地，所述金屬測(cè)試電極外套與環(huán)狀陣列通孔的配合方式為螺紋配合。