[實(shí)用新型]一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320327911.6
• 申請(qǐng)日: 2013-06-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN203287485U
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余彬海;湯勇;丁鑫銳;李宇吉;朱本明;李宗濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華南理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 何淑珍

1.一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：包括方框形藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具(1)、位于藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具(1)下方的可轉(zhuǎn)動(dòng)或滾動(dòng)的環(huán)狀陣列測(cè)試電極輥(2)、電源與電參數(shù)采集系統(tǒng)(3)，所述環(huán)狀陣列測(cè)試電極輥(2)包括以工程塑料或電木為材料的空心圓柱狀基體(21)，該空心圓柱狀基體(21)的側(cè)面沿軸向及周向均勻設(shè)置有環(huán)狀陣列通孔，每個(gè)環(huán)狀陣列通孔內(nèi)均向外延伸地設(shè)置有一根可彈性伸縮的金屬測(cè)試電極，所述金屬測(cè)試電極包括正極金屬測(cè)試電極(22)和負(fù)極金屬測(cè)試電極(23)，沿空心圓柱狀基體(21)軸向設(shè)置的每一列環(huán)狀陣列通孔均勻間隔設(shè)置，各個(gè)正極金屬測(cè)試電極(22)和負(fù)極金屬測(cè)試電極(23)同電源與電參數(shù)采集系統(tǒng)(3)電路連接，所述空心圓柱狀基體(21)一端還設(shè)置有由步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的同步帶輪(24)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：所述藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具(1)包括可水平移動(dòng)的上邊框夾具(11)和可上下移動(dòng)的下邊框夾具(12)，該藍(lán)膜或器件基板裝夾夾具(1)的寬度大于環(huán)狀陣列測(cè)試電極輥(2)的長(zhǎng)度，所述下邊框夾具(12)設(shè)有用于承載和滑動(dòng)LED基板器件(5)的滑軌。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：沿空心圓柱狀基體(21)軸向上相鄰兩列環(huán)狀陣列通孔的中心線的夾角為30-60°。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：所述金屬測(cè)試電極包括一端位于金屬測(cè)試電極外套(221)內(nèi)的探測(cè)針(223)以及彈簧(222)，所述彈簧(222)位于探測(cè)針(223)底部與金屬測(cè)試電極外套(221)內(nèi)部，使探測(cè)針(223)具有可伸縮性，所述金屬測(cè)試電極外套(221)上還設(shè)置有導(dǎo)線(224)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：所述金屬測(cè)試電極外套(221)與環(huán)狀陣列通孔的配合方式為螺紋配合。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：所述金屬測(cè)試電極外套(221)與環(huán)狀陣列通孔的配合方式為過(guò)渡配合，所述空心圓柱狀基體(21)內(nèi)設(shè)置有用于調(diào)節(jié)金屬測(cè)試電極伸出長(zhǎng)度的電極長(zhǎng)度調(diào)節(jié)芯(4)，該電極長(zhǎng)度調(diào)節(jié)芯(4)上相對(duì)地設(shè)置有與環(huán)狀陣列通孔軸線重合且直徑小于金屬測(cè)試電極外套(221)的用于穿過(guò)導(dǎo)線的過(guò)線小孔。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于LED芯片及器件的檢測(cè)裝置，其特征在于：所述電源與電參數(shù)采集系統(tǒng)(3)包括可編程外部直流電源(31)和電參數(shù)采集設(shè)備(32)，所述可編程外部直流電源(31)為可編程多通道直流恒流電源，所述電參數(shù)采集設(shè)備(32)為可編程多通道采集儀。