[實用新型]一種PECVD裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320298474.X | 申請日: | 2013-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN203284466U | 公開(公告)日: | 2013-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 何祝兵;王春柱;蘇奇聰 | 申請(專利權(quán))人: | 南方科技大學(xué) |
| 主分類號: | C23C16/513 | 分類號: | C23C16/513 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址: | 518000 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 pecvd 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及真空鍍膜領(lǐng)域,尤其涉及一種PECVD裝置。
背景技術(shù)
等離子體化學(xué)氣相沉積(Plasma?Enhanced?Chemical?Vapor?Deposition,PECVD)技術(shù)是利用等離子體放電產(chǎn)生帶電粒子、自由基、活性基團等物質(zhì)在基片表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)沉積薄膜的技術(shù)。因為等離子體激發(fā)了反應(yīng)氣體分子的活性,使沉積薄膜工藝的溫度變低,而且沉積速率快,所生長薄膜致密性好,缺陷少,工藝重復(fù)性好而被廣泛應(yīng)用。最早應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片加工工業(yè)中,用于沉積氧化硅、氮化硅薄膜;近年來液晶平板顯示技術(shù)及太陽能光伏行業(yè)的蓬勃發(fā)展,PECVD技術(shù)被用于制備薄膜晶體管(Thin-Film?Transistor,TFT)特別是制備非晶硅、微晶硅薄膜。這些領(lǐng)域的核心裝備—PECVD設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了由半導(dǎo)體中的小尺寸到現(xiàn)在用于TFT、太陽能光伏薄膜電池的大面積的過程,其等離子體放電方式也經(jīng)歷了高頻微波的電子回旋共振放電、電感耦合放電到現(xiàn)在平板式甚高頻電容耦合放電的過程。現(xiàn)有主流的PECVD設(shè)備通常采用在同一真空腔室中設(shè)置多個工藝反應(yīng)室的結(jié)構(gòu)形式。
現(xiàn)有主流技術(shù)中PECVD設(shè)備具有如下問題:1)用于大面積基板制備薄膜時,氣體從反應(yīng)室的一側(cè)進(jìn)入,從另一側(cè)抽出,因而氣流的均勻性很差;2)反應(yīng)室可以采用單獨加熱,但因多個反應(yīng)室堆棧排布,勢必會造成頂部的工藝反應(yīng)室溫度高于底部的反應(yīng)室溫度,從而產(chǎn)生各反應(yīng)室相互間溫度一致性較差;3)反應(yīng)室分別固定在真空腔室的內(nèi)壁,相互間間隙很小,造成后期維護(hù)復(fù)雜、費時、困難;4)多個反應(yīng)室排布在同一個真空腔室內(nèi),造成整個裝置很笨重,多時重達(dá)幾噸,這使得后期維護(hù)、保養(yǎng)人員操作很不方便,并存在安全隱患。隨著基板面積的不斷增大,對薄膜均勻性、電性能提出了更高的要求,這就需要近一步提高反應(yīng)室的溫度一致性和氣流均勻性。在射頻平行板式反應(yīng)室中,許多因素影響工藝反應(yīng)室的溫度一致性和氣流均勻性。如何通過優(yōu)化工藝反應(yīng)室的相關(guān)設(shè)計,獲得具有更高的溫度一致性和氣流均勻性的PECVD模塊化裝置,具有重要的現(xiàn)實意義和應(yīng)用價值。
實用新型內(nèi)容
本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于,提供一種PECVD裝置,可提高各反應(yīng)室的溫度一致性。
本實用新型的實施例提供了一種PECVD裝置,包括工藝腔體,以及均設(shè)置在所述工藝腔體內(nèi)的承載架、冷卻均熱板及至少一個反應(yīng)室;所述冷卻均熱板為多個,沿豎直向呈層式排布安裝至所述承載架;所述反應(yīng)室水平設(shè)置在相鄰兩個所述冷卻冷卻均熱板之間,且各所述反應(yīng)室的上下兩側(cè)均設(shè)置有所述冷卻均熱板。
其中,所述承載架包括支撐件及與所述冷卻均熱板一一對應(yīng)的多個固定框,多個所述固定框沿豎直向呈層式排布安裝于所述支撐件,各所述冷卻均熱板分別安裝于各所述固定框中。
其中,所述冷卻均熱板包括均熱管、上均熱面板及下均熱面板,所述均熱管位于所述上均熱面板與所述下均熱面板之間;所述PECVD裝置還包括液體冷卻交換設(shè)備,各所述冷卻均熱板的均熱管的兩端均連接至液體冷卻交換設(shè)備。
其中,每個所述冷卻均熱板所包含的上均熱面板及下均熱面板的數(shù)目相同,且均為兩個或兩個以上;各所述上均熱面板與各所述下均熱面板一一相對設(shè)置形成子冷卻均熱板;所述冷卻均熱板所包含的均熱管數(shù)目為一個;所述固定框內(nèi)固設(shè)有中桿,所述中桿位于相鄰兩個子冷卻均熱板之間。
其中,所述承載架還包括可調(diào)連接件,所述可調(diào)連接件連接在所述支撐件與所述固定框之間,用于調(diào)整所述固定框在豎直向的位置。
其中,所述反應(yīng)室包括相互配合的上電極部和下電極部,所述上電極部和所述下電極部之間形成用于工藝反應(yīng)的工藝腔室;所述上電極部的上表面中央位置開設(shè)有連通至所述工藝腔室的進(jìn)氣口,所述反應(yīng)室上開設(shè)有出氣口,所述出氣口為兩個或兩個以上,均勻排布在所述上電極部與所述下電極部之間的周向連接處。
其中,所述反應(yīng)室水平滑動放置在相鄰兩個所述冷卻均熱板之間。
其中,所述固定框的上表面設(shè)有用于與所述反應(yīng)室配合的滾輪;所述固定框的下表面設(shè)有直線吊軌,所述反應(yīng)室的上表面設(shè)有與所述直線吊軌相配合的微型輪。
其中,所述承載架滑動放置于所述工藝腔體中。
其中,所述PECVD還包括真空系統(tǒng)、遠(yuǎn)程等離子體源清洗系統(tǒng)、及氣路系統(tǒng);各所述反應(yīng)室共用所述真空系統(tǒng)、所述遠(yuǎn)程等離子體源清洗系統(tǒng)、及所述氣路系統(tǒng);所述遠(yuǎn)程等離子體源清洗系統(tǒng)及所述真空系統(tǒng)均通過所述氣路系統(tǒng)連通至各所述反應(yīng)室。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機材料為特征的





