[實(shí)用新型]AFM試樣角度可調(diào)的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320279528.8 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203224513U | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 范小紅;徐勇;石磊;徐哲;楊坤;趙延祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山東建筑大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01Q30/20 | 分類號(hào): | G01Q30/20 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 250101 山東*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | afm 試樣 角度 可調(diào) 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及的是應(yīng)用于AFM中可以使試樣發(fā)生動(dòng)態(tài)變化的設(shè)備,尤其涉及可以使AFM試樣角度可調(diào)的裝置的制備與研發(fā)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
AFM是科學(xué)研究和教學(xué)常用的測(cè)量設(shè)備,最常見的AFM工作臺(tái)是在用的普通樣品臺(tái)。現(xiàn)有的普通樣品臺(tái)只有放置試樣的功能,對(duì)于形狀不規(guī)則或表面不平整的試樣,現(xiàn)有的樣品臺(tái)不能使測(cè)量面處于水平位置,影響樣品的測(cè)定。這是現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足之處。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的,就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足,而提供AFM試樣角度可調(diào)的裝置,成本低廉、實(shí)用性強(qiáng)。
本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:AFM試樣角度可調(diào)的裝置,包括方形樣品臺(tái)底座、方形樣品臺(tái)、軸向調(diào)節(jié)球、臂桿。方形樣品臺(tái)底座與臂桿連接;臂桿與軸向調(diào)節(jié)球連接;軸向調(diào)節(jié)球與方形樣品臺(tái)相連。放置試樣時(shí),將試樣固定在方形樣品臺(tái)上,然后調(diào)節(jié)軸向調(diào)節(jié)球,使測(cè)量面處于水平位置,完成試樣角度的調(diào)節(jié)工作。
本實(shí)用新型的有益效果是:該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉、實(shí)用性強(qiáng)。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中,1為方形樣品臺(tái)底座,2為方形樣品臺(tái),3為軸向調(diào)節(jié)球,4為臂桿。
具體實(shí)施方式
為能清楚說明本方案的技術(shù)特點(diǎn),下面通過一個(gè)具體實(shí)施方式并結(jié)合附圖對(duì)本方案進(jìn)行闡述。
在圖1中,包括方形樣品臺(tái)底座、方形樣品臺(tái)、軸向調(diào)節(jié)球、臂桿。方形樣品臺(tái)底座與臂桿連接;臂桿與軸向調(diào)節(jié)球連接;軸向調(diào)節(jié)球與方形樣品臺(tái)相連。使用時(shí),將試樣固定在方形樣品臺(tái)上,然后調(diào)節(jié)軸向調(diào)節(jié)球,使測(cè)量面處于水平位置,完成試樣角度的調(diào)節(jié)工作。
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G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備;掃描探針技術(shù)的應(yīng)用,例如,掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q30-00 用于輔助或改進(jìn)掃描探針技術(shù)或設(shè)備的輔助手段,例如顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-02 .非SPM的分析裝置,例如,SEM[掃描電子顯微鏡],分光計(jì)或光學(xué)顯微鏡
G01Q30-04 .顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-08 .建立或調(diào)節(jié)樣本室所需環(huán)境條件的手段
G01Q30-18 .保護(hù)或避免樣品室內(nèi)部受到外界環(huán)境狀況影響的手段,例如振動(dòng)或電磁場(chǎng)
G01Q30-20 .樣品處理裝置或方法





