[實用新型]AFM試樣角度可調(diào)的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320279528.8 | 申請日： | 2013-05-16 |
| 公開（公告）號： | CN203224513U | 公開（公告）日： | 2013-10-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 范小紅;徐勇;石磊;徐哲;楊坤;趙延祥 | 申請（專利權(quán)）人： | 山東建筑大學(xué) |
| 主分類號： | G01Q30/20 | 分類號： | G01Q30/20 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 250101 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | afm 試樣 角度 可調(diào) 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.AFM試樣角度可調(diào)的裝置，包括方形樣品臺底座、方形樣品臺、軸向調(diào)節(jié)球、臂桿，其特征在于：方形樣品臺底座與臂桿連接；臂桿與軸向調(diào)節(jié)球連接；軸向調(diào)節(jié)球與方形樣品臺相連。
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- 專利分類
G01 測量；測試
G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備；掃描探針技術(shù)的應(yīng)用，例如，掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q30-00 用于輔助或改進掃描探針技術(shù)或設(shè)備的輔助手段，例如顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-02 .非SPM的分析裝置，例如，SEM[掃描電子顯微鏡]，分光計或光學(xué)顯微鏡
G01Q30-04 .顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-08 .建立或調(diào)節(jié)樣本室所需環(huán)境條件的手段
G01Q30-18 .保護或避免樣品室內(nèi)部受到外界環(huán)境狀況影響的手段，例如振動或電磁場
G01Q30-20 .樣品處理裝置或方法
G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備；掃描探針技術(shù)的應(yīng)用，例如，掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q30-00 用于輔助或改進掃描探針技術(shù)或設(shè)備的輔助手段，例如顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
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G01Q30-08 .建立或調(diào)節(jié)樣本室所需環(huán)境條件的手段
G01Q30-18 .保護或避免樣品室內(nèi)部受到外界環(huán)境狀況影響的手段，例如振動或電磁場
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