[實(shí)用新型]滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320215323.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-04-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203209331U | 公開(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張亞納;郭昊卿 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 洛陽(yáng)久德軸承模具技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | B07C5/34 | 分類號(hào): | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;G01N21/88 |
| 代理公司: | 洛陽(yáng)公信知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 41120 | 代理人: | 張彬 |
| 地址: | 471000 河南省洛陽(yáng)市*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 滾子 側(cè)面 缺陷 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:包括用于使?jié)L子豎向依次落下的定位夾具(21)、位于定位夾具(21)下方的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)(24)、位于轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)(24)一側(cè)的圖像采集裝置(26)和用于接收來(lái)自轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)(24)的滾子的分選機(jī)構(gòu),定位夾具(21)的一側(cè)設(shè)置有將滾子推向分選機(jī)構(gòu)的推動(dòng)單元;所述圖像采集裝置(26)、轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)(24)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、分選機(jī)構(gòu)和推動(dòng)單元均與控制系統(tǒng)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:定位夾具(21)包括水平置物臺(tái)和帶斜坡的豎直下料通道,下料通道的寬度僅限容納一個(gè)豎向滾子,定位夾具(21)的一側(cè)設(shè)置有將滾子推向豎直下料通道的由氣缸Ⅰ(22)驅(qū)動(dòng)的推板Ⅰ(23)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述定位夾具(21)為輸送滾子的機(jī)械手。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)(24)由步進(jìn)電機(jī)(25)驅(qū)動(dòng),轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)(24)上設(shè)置有用于吸附由定位夾具(21)輸送來(lái)的滾子的磁鐵。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述分選機(jī)構(gòu)包括自動(dòng)分選臺(tái)(29)和用于將滾子分為合格品和次品的活動(dòng)翻板(293)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:自動(dòng)分選臺(tái)(29)連接有合格品下料槽(291)和廢品下料槽(292),活動(dòng)翻板(293)設(shè)置于合格品下料槽(291)和廢品下料槽(292)的入口交匯處。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的滾子側(cè)面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:該檢測(cè)系統(tǒng)還包括輔助光源,所述圖像采集裝置(26)采用CCD攝像頭。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于洛陽(yáng)久德軸承模具技術(shù)有限公司,未經(jīng)洛陽(yáng)久德軸承模具技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320215323.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





