[實用新型]用于對受測試電子裝置進行電氣檢查的設備

有效

• 申請號: 201320120733.X
• 申請日: 2013-03-15
• 公開（公告）號: CN203588644U
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 托馬斯·H·貝利;勞埃德·瓊斯
• 申請（專利權）人: 飛騰動力公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 吳曉輝

相關專利申請案的交叉參考

本非臨時專利申請案是基于2012年3月27日申請的第61/616,335號美國臨時專利申請案，且主張所述申請案的優先權權益，所述申請案的全部揭示內容以引用的方式并入本文中。?

技術領域

本實用新型大體上涉及用于檢查例如LCD和OLED面板等電子裝置的系統和方法，且更明確來說，涉及提供低質量、低成本、模塊化和放大率可調整的電壓成像光學系統(VIOS)和對應的方法。?

背景技術

液晶顯示器(LCD)面板并入展現出電場相依光調制特性的液晶。它們最頻繁用于在范圍從傳真機、膝上型計算機屏幕到大屏幕、高清TV的多種裝置中顯示圖像和其它信息。有源矩陣LCD面板是復雜分層結構，其由若干功能層組成：偏振膜；玻璃襯底，其并入薄膜晶體管(TFT)、存儲電容器、像素電極和互連配線、并入黑色矩陣、彩色濾光片陣列和透明共同電極的彩色濾光片玻璃襯底；由聚酰亞胺制成的定向膜；以及實際的液晶材料，其并入塑料/玻璃隔片以維持適當的LCD單元厚度。?

LCD和OLED面板是在清潔室環境中在高度受控的條件下制造以使良率最大化。但是，由于制造缺陷，大量LCD和OLED顯示器不得不丟棄。?

為了提高LCD面板生產良率，在LCD面板的整個制造過程期間實施了多個檢查和修復步驟。其中，最關鍵的檢查步驟中的一者是陣列測試，電氣檢查步驟在TFT陣列制造過程的末尾執行。?

在市場上目前LCD和OLED顯示器制造商可使用若干常規的陣列測試技術，其中最普遍的是使用電光換能器的電氣檢查。此類型的一種示范性檢查裝置是陣列檢驗器，其可從澳寶科技公司的光子動力學購得。具體來說，前述的陣列檢驗器檢查系統采用了所謂的“VOLTAGE?”方法，其利用經配置以測量個別TFT陣列像素上的?電壓的基于反射性液晶的電光換能器(調制器)。在陣列檢驗器對TFT陣列進行檢驗時，將驅動電壓模式施加到受測試TFT面板，且通過將前述的電光調制器定位成與受測試TFT陣列緊密靠近(通常在50微米左右)，且使其經受高電壓方波電壓模式，來測量或“成像”所得的面板像素電壓。舉例來說，施加到調制器的電壓方波模式的振幅可為300V和60Hz的頻率。通過在所施加的驅動電壓下使檢查系統的電光調制器靠近受測試TFT陣列的像素而在所述電光調制器上形成的電勢迫使調制器中的液晶改變其電場相依空間定向，從而局部地改變其在調制器上的光透射性。換句話說，調制器的光透射性變得代表其靠近的陣列像素上的電壓。為了俘獲所改變的調制器透射性，用一個或一個以上光脈沖來照射調制器，且由調制器反射的光被成像到相機上，所述相機俘獲并數字化所得的幀，且將其組合為圖像。前述光脈沖的持續時間可例如為1毫秒。一旦使用前述的基于液晶的電光換能器測量出TFT面板區域中的像素電壓分布，便將換能器移動到TFT面板的另一區域且獲取新的圖像。?

實用新型內容

發明性方法針對于大體上避免與用于檢查電子裝置的常規技術相關聯的以上和其它問題中的一者或一者以上的方法和系統。?

根據本文中所描述的技術的一個方面，提供一種用于對受測試電子裝置進行電氣檢查的設備，所述設備包括：檢查頭，其并入電光調制器；偏置電壓源，其產生施加到所述電光調制器的偏置電壓模式；光源，其用于產生用于照射電光調制器的光脈沖；非遠心透鏡組合件和相機，其用于獲取被照射的電光調制器的圖像；以及驅動電子器件，其經配置以將電壓信號施加到受測試電子裝置。在發明性設備中，照射光脈沖在照射到電光調制器之前不穿過非遠心透鏡組合件。?

在一個或一個以上實施例中，所述設備進一步包含折疊鏡。?

在一個或一個以上實施例中，所述設備進一步包含光束分離器，其中所述光源并入安置于所述光束分離器的同一側上的一發光二極管(LED)或不同波長的多個發光二極管(LED)。?

根據技術方案1所述的檢查設備，其進一步包括光束分離器，其中所述光源并入一發光二極管(LED)或安置于所述光束分離器的相對側上的不同波長的多個發光二極管(LED)。?

在一個或一個以上實施例中，所述光源并入經配置以產生一種或若干種波長的光的光照射器片。?

在一個或一個以上實施例中，所述設備進一步包含用于將光源成像到非遠心透鏡組合件的入射光瞳中的折射性聚光透鏡。?

在一個或一個以上實施例中，所述設備進一步包含聚光器，其中所述聚光器并入具有橢圓形狀的反射性內表面。?