[實用新型]光學式瑕疵檢測裝置有效
| 申請號: | 201320068388.X | 申請日: | 2013-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN203203941U | 公開(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發明(設計)人: | 陳文生;蔡宗霖 | 申請(專利權)人: | 聯策科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/89 | 分類號: | G01N21/89 |
| 代理公司: | 上海信好專利代理事務所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 張靜潔;徐雯瓊 |
| 地址: | 中國臺灣桃園*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 瑕疵 檢測 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種瑕疵檢測裝置,特別是關于一種利用兩種不同參數配置的影像擷取模塊,以進行檢測待檢測物的光學式瑕疵檢測裝置,其中所述不同參數尤其是指分辨率的不同或全彩式影像與灰階式影像的差別。
背景技術
一般來說自動光學檢測裝置(AOI)是用來檢測待檢測物的外觀缺陷或測量尺寸等檢測項目,尤其是應用于表面黏著制程的零件(如印刷電路板(PCBs)上焊接組件)或對于印刷電路板(PCBs)、平面顯示面板(FPDs)或觸控式面板的布線檢測,更是需要進行精確的外觀缺陷或尺寸測量等檢測項目,例如導體的完整性(斷裂、連續、破裂等)及尺寸、絕緣體或基板的完整性及尺寸、孔尺寸及配置、穿孔尺寸及配置、導體間距、線寬及線長、芯片特征、上膠、組件放置或焊接缺陷等,以確保表面黏著組件或組件布線的質量。現有技術中的自動光學檢測裝置(AOI)大多為使用一檢測臺、一光源模塊及一攝影模塊,其中單一攝影模塊大多是指同一種分辨率的攝影模塊,在不同的情況應用下,亦有可能使用多個攝影模塊,但其在分辨率上的應用是相同的。檢測臺擺放需檢測的待檢測物,再來利用光源模塊對著待檢測物發出一正向或背向光源,接著利用攝影模塊擷取影像,最后依據擷取的影像進行外觀瑕疵或尺寸測量等檢測項目。
但是,現有技術使用單一攝影模塊進行檢測,因自動光學檢測裝置在同一待檢測物的檢測過程中,無法動態變化其分辨率以進行檢測,也就是說對于同一待檢測物在一檢測過程中是無法臨時變更其分辨率的。若欲變更分辨率以進行檢測,則須在另一完整檢測過程中方可變更分辨率進行檢測。為使待檢測物檢測得以精確,通常會調整攝影模塊至較高的分辨率或全彩式的影像以進行檢測,而此時使用較高的分辨率或較高的分辨率搭配全彩式的影像,其檢測時須花費較多的時間,此情形在制造工時日益要求提高的制造產業下,實為一大阻礙。
再者,若將使用全彩式影像的攝影模塊的分辨率提高,則檢測速度會更慢;另一方面若為使檢測速度不變慢,而將全彩式影像變更為灰階式影像的話,但灰階式影像對于待檢測物的顏色輕微變異卻不易檢測。
綜觀前所述,本實用新型的發明人思索并設計一種光學式瑕疵檢測裝置,以不提高全彩式影像的攝影模塊的分辨率,以其檢測灰階式影像的攝影模塊對于顏色判定上的弱點,再搭配灰階式影像的攝影模塊并提高其分辨率,以彌補較差分辨率的全彩式影像的攝影模塊對較小缺點的檢測能力,如此整體檢測速度并未因改變攝影模塊的分辨率提高而減慢,以此針對現有技術的缺陷加以改善,進而增進產業上的實施利用。
實用新型內容
有鑒于上述現有技術的問題,本實用新型的目的是提供一種光學式瑕疵檢測裝置,以解決現有技術的檢測效率不佳的問題。
根據本實用新型的目的,提出一種光學式瑕疵檢測裝置,其包含:一工作平臺、至少一第一影像擷取模塊、至少一第二影像擷取模塊及至少一處理模塊。工作平臺是運送一待檢測物。至少一第一影像擷取模塊是擷取待檢測物的影像,以產生至少一第一影像信號。至少一第二影像擷取模塊的擷取速率對應于至少一第一影像擷取模塊。至少一第二影像擷取模塊擷取待檢測物的影像,以產生至少一第二影像信號。至少一處理模塊電性連接第一影像擷取模塊及至少一第二影像擷取模塊,以根據至少一第一影像信號、至少一第二影像信號或至少一第一影像信號及至少一第二影像信號,而判斷出待檢測物的至少一瑕疵特征。
其中,至少一第一影像擷取模塊可產生全彩式的第一影像信號。至少一第二影像擷取模塊可產生灰階式的至少一第二影像信號。
其中,至少一第一影像擷取模塊的影像分辨率可低于至少一第二影像擷取模塊的影像分辨率。
其中,至少一第一影像擷取模塊及至少一第二影像擷取模塊可為線型感光組件(Line?Scan?CCD)。
其中,至少一處理模塊更可包含一預定樣板;至少一處理模塊可根據預定樣板與至少一第一影像信號或至少一第二影像信號,以判斷出待檢測物的至少一瑕疵特征。
其中,至少一處理模塊可根據預定樣板將待檢測物的一表面區分為多個區塊;多個區塊分別設定為不同的檢測參數;所述表面為面向至少一第一影像擷取模塊或至少一第二影像擷取模塊的表面。
其中,至少一處理模塊可根據至少一第一影像信號及各區塊的檢測參數,以判斷出待檢測物的至少一瑕疵特征。
其中,至少一處理模塊可根據至少一第二影像信號及各區塊的檢測參數,以判斷出待檢測物的至少一瑕疵特征。
其中,可先經由至少一第一影像擷取模塊根據待檢測物產生至少一第一影像信號后,再經由至少一第二影像擷取模塊根據待檢測物產生至少一第二影像信號。
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