[實用新型]功率半導體器件串并聯檢測設備有效
| 申請號: | 201320021282.4 | 申請日: | 2013-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN203054181U | 公開(公告)日: | 2013-07-10 |
| 發明(設計)人: | 肖彥;鄒宗林;吳擁軍;孫亞男;曾慶泉;可家軍 | 申請(專利權)人: | 湖北臺基半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 襄陽嘉琛知識產權事務所 42217 | 代理人: | 嚴崇姚 |
| 地址: | 441021 湖北省*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 功率 半導體器件 串并聯 檢測 設備 | ||
技術領域
本實用新型屬于功率半導體器件應用技術領域,具體涉及一種應用于功率半導體器件高電壓或大電流的應用領域中多只功率半導體器件串聯和并聯配組的功率半導體器件串并聯檢測設備。
背景技術
在功率半導體器件高電壓或大電流的應用領域,需要把多個功率半導體器件串聯或并聯起來使用。功率半導體器件的串并聯應用中,要求器件在不同的工況下特性參數一致,才能達到更好的使用效果。但由于元件特性不完全一致,若簡單地把元件串聯或并聯起來,會引起電壓或電流分配不均衡而造成器件的損壞。因此在使用時必須考慮元件串聯時的均壓和并聯時的均流問題。常規解決功率半導體串并聯方案的解決方案是根據器件參數和經驗,配置靜態均壓電阻和動態阻容吸收系統,但忽略了功率半導體器件在實際工況中的溫度特性、開通特性、恢復特性等綜合因素是影響器件動態均壓均流的關鍵。
發明內容
為解決上述問題,本實用新型提供一種可提高工作效率,并真實檢測出器件串并聯特性一致性的功率半導體器件串并聯檢測設備。其操作簡便,一次測試完成各項測試參數,計算機數據采樣并數據分析出相應的配組數據。
本實用新型的技術解決方案是:一種功率半導體器件串并聯檢測設備,包括測試主機、測試夾具和計算機控制單元;其中,測試主機包括阻斷測試單元、正向電壓測試單元、開通特性測試單元、恢復特性測試單元、門極特性測試單元;阻斷測試單元由阻斷測試主回路、阻斷檢測取樣單元組成;正向電壓測試單元由正向電壓測試主回路、正向電壓檢測取樣單元組成;開通特性測試單元由開通特性測試主回路、開通檢測取樣單元組成;恢復特性測試單元由恢復特性測試主回路、恢復檢測取樣單元組成;門極特性測試單元由門極特性測試主回路、門極檢測取樣單元組成;計算機控制單元包括計算機芯片及其外圍電路,并與測試主機電連接;其特征是:所述測試夾具包括第一夾頭、旋轉臂和第二夾頭;第一夾頭由加熱系統、第一上夾頭、第一下夾頭、第一氣缸、第一控制系統組成;旋轉臂由傳動系統、機械臂組成;第二夾頭由水冷系統、第二上夾頭、第二下夾頭、第二氣缸、第二控制系統組成;計算機控制單元還包括第一夾頭加壓控制電路、旋轉臂旋轉控制電路和第二夾頭加壓控制電路;第一夾頭加壓控制電路由加壓控制電路、壓力反饋電路、夾頭上升控制系統組成;旋轉臂旋轉控制電路由機械臂上升下降控制系統、機械臂橫向移動控制系統組成;第二夾頭加壓控制電路由加壓控制電路、壓力反饋電路、夾頭上升控制系統組成。
本實用新型的技術解決方案中所述的測試夾具中還包括由第三上夾頭、第三下夾頭、第三氣缸、第三控制系統構成的第三夾頭。
本實用新型由于采用由測試主機、測試夾具和計算機控制單元構成的功率半導體器件串并聯檢測設備,其中,測試主機包括阻斷測試單元、正向電壓測試單元、開通特性測試單元、恢復特性測試單元、門極特性測試單元,測試夾具包括第一夾頭、旋轉臂和第二夾頭,第一夾頭設有加熱系統,第二夾頭設有水冷系統,計算機控制單元包括計算機芯片及其外圍電路、第一夾頭加壓控制電路、旋轉臂旋轉控制電路和第二夾頭加壓控制電路,因而在功率半導體器件串并聯檢測設備測試刪選工作前,首先將被測器件在恒溫烘箱中加熱到需要的測試溫度,將第一夾頭調整加熱到需要的溫度,旋轉臂將被測器件放置在第一夾頭上,第一夾頭加壓系統對被測器件施加規定的壓力,計算機控制單元根據測試設置需要控制切換單元依次測試被測器件加溫狀態下的阻斷、壓降、開通、恢復、門極特性參數,然后旋轉臂將放置在第一夾頭上的被測器件旋轉放置在第二夾頭上,第二夾頭加壓系統對被測器件施加規定的壓力,計算機控制單元根據測試設置需要控制切換單元依次測試被測器件降溫狀態下的阻斷、壓降、開通、恢復、門極特性參數,最后計算機控制單元根據測試篩選方案將器件按根據測試器件使用要求做出配組刪選。本實用新型具有可提高工作效率,并真實檢測出器件串并聯特性一致性的特點。本實用新型主要應用于功率半導體器件高電壓或大電流的應用領域中多只功率半導體器件的串聯和并聯配組。
附圖說明
圖1為本實用新型的結構示意圖。
圖2為本實用新型的運行框圖。
圖3為本實用新型的夾具主視圖。
圖4為本實用新型的夾具俯視圖。
圖5為半導體器件參數特性曲線圖。
具體實施方式
如圖1所示。本實用新型功率半導體器件串并聯檢測設備測試由測試主機1、測試夾具2和計算機控制單元3構成。測試夾具2包括第一夾頭和第二夾頭。
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