[實用新型]MS/MS型電感耦合等離子體質譜儀有效

申請?zhí)枺?/td>	201320004928.8	申請日：	2013-01-06
公開（公告）號：	CN203339108U	公開（公告）日：	2013-12-11
發(fā)明（設計）人：	山田憲幸;桑原健雄;北本淳	申請（專利權）人：	安捷倫科技有限公司
主分類號：	H01J49/42	分類號：	H01J49/42;H01J49/24
代理公司：	北京東方億思知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11258	代理人：	柳春雷
地址：	美國加利***	國省代碼：	美國;US
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摘要：
搜索關鍵詞：	ms 電感耦合等離子體質譜儀
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【說明書】：

技術領域

本實用新型涉及MS/MS型電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS/MS)中的新的差分抽氣構成。

背景技術

至今為止沒有MS/MS型電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS/MS)被轉化成商品的例子，但是介紹有很多在實驗研究中構成和使用的例子。即，ICP-MS/MS由電感耦合等離子體裝置(ICP)和與其連接的MS/MS型質譜儀(MS/MS)構成。電感耦合等離子體裝置用于生成包含分析樣品在內(nèi)的等離子體。MS/MS型質譜儀由接口以及離子透鏡、碰撞/反應(Collision/reaction)池(cell)、夾持池分別設置在其前級和后級的兩個濾質器、電子倍增管等的檢測器構成。兩個濾質器利用例如四極濾質器這樣的抽出離子的分離單元來按照質量電荷比分離離子束中的預定的離子。碰撞/反應池導入氫等的分子量比較小的反應氣體，通過使從前級的濾質器導入的離子束中的多原子分子離子與反應氣體分子碰撞、反應來選擇性地進行中和，由此防止對測量信號的干擾。

通過如上所述的構成，在電感耦合等離子體裝置(ICP)中生成的等離子體經(jīng)由接口作為離子束被導入到質譜儀(MS/MS)中，預定的質量電荷比的離子通過前級的濾質器被分離，被運送到碰撞/反應池中。在出前級的濾質器之后的離子束中可能包含具有同一質量電荷比的多種離子。該離子束在池內(nèi)與反應氣體碰撞、反應，生成具有更小或更大的質量電荷比的多原子分子離子，并且被運送到后級的濾質器中。后級的濾質器從碰撞/反應池導入的離子束中按照預定的質量電荷比進一步分離作為測量對象的離子，并運送到檢測器。

如上所述，ICP-MS/MS是利用兩個濾質器和池來從干擾離子中有效地分離并定量測量對象離子的裝置。在非專利文獻1中，介紹了如下實驗：在ICP-MS/MS中，利用離子分子反應能夠選擇性地減少被輸入到檢測器的離子。即，從離子源運送鋱離子(Tb⁺、質量數(shù)159)、鈰離子(Ce⁺、質量數(shù)140、142)、氧化鈰離子(CeO⁺、質量數(shù)156、158)并使它們通過前級的濾質器，并將它們導入到以氧(O₂)為反應氣體的碰撞/反應池。在池內(nèi)，Tb⁺和Ce⁺與O₂反應形成TbO⁺(質量數(shù)175)、CeO⁺(質量數(shù)156、158)，并將其運送到后級的濾質器，因此，通過使后級的濾質器以比前級的濾質器高16的質量電荷比進行動作，能夠從與TbO⁺、CeO⁺對應的質量數(shù)中分別檢測出鋱和鈰。另一方面，在池內(nèi)幾乎不形成CeO₂⁺離子(質量數(shù)172、174)，而僅保留CeO⁺離子。其結果是，在后級的濾質器中，幾乎不通過CeO₂⁺的質量數(shù)為172、174的離子。也就是說，利用池內(nèi)的離子分子反應的差，相對于Tb⁺的信號能夠顯著降低CeO⁺的信號。如該實驗所示，在ICP-MS/MS中，能夠利用離子分子反應來選擇性地減少離子，因此，基于該原理，ICP-MS/MS能夠減少相對于測量對象離子的干擾離子。