[實用新型]芯片結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320000981.0 | 申請日: | 2013-01-04 |
| 公開(公告)號: | CN202996817U | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王之奇;喻瓊;王蔚 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州晶方半導體科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/488 | 分類號: | H01L23/488 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 楊林潔 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 結(jié)構(gòu) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于半導體制造技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種芯片結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
晶圓級芯片封裝(Wafer?Level?Chip?Size?Packaging,WLCSP)技術(shù)是對整片晶圓進行封裝測試后再切割得到單個成品芯片的技術(shù),封裝后的芯片尺寸與裸片一致。
晶圓級芯片順應了市場對微電子產(chǎn)品日益輕、小、短、薄化和低價化要求。經(jīng)晶圓級芯片封裝技術(shù)封裝后的芯片尺寸達到了高度微型化,芯片成本隨著芯片尺寸的減小和晶圓尺寸的增大而顯著降低。隨著科技生活的發(fā)展,對單顆芯片的集成度要求日益增高,單顆芯片的外部焊墊數(shù)(即I/O數(shù))也相應增多,導致單顆芯片尺寸相應增大,一整片晶圓上可供共同封裝的單顆芯片顆數(shù)相應減少,導致生產(chǎn)單顆芯片的效率降低,生產(chǎn)單顆芯片的成本增加。
在現(xiàn)有技術(shù)中,一般是通過縮小焊墊尺寸來保證在晶圓上的單顆芯片的顆數(shù),然而,縮小了焊墊尺寸會導致焊墊與導電線路電性連接的面積變小(現(xiàn)有技術(shù)中焊墊與導電線路的電連接面為切割焊墊后形成的切割面),降低了芯片的穩(wěn)定性。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型的目的在于提供一種芯片結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)可在提高生產(chǎn)芯片效率、降低生產(chǎn)芯片成本的情況下,進一步保證芯片的穩(wěn)定性。
為實現(xiàn)上述實用新型目的之一,本實用新型提供一種芯片結(jié)構(gòu),包括功能區(qū),與所述功能區(qū)電性連接的多個焊墊,所述多個焊墊位于所述功能區(qū)之外,其中,所述多個焊墊中的至少部分焊墊上設有內(nèi)壁為電連接面的內(nèi)孔,所述電連接面的面積大于所述焊墊任意側(cè)壁的面積。
作為本實用新型的進一步改進,所述多個焊墊僅設置于所述功能區(qū)的兩相對側(cè)。
作為本實用新型的進一步改進,所述焊墊的橫截面為正方形。
作為本實用新型的進一步改進,每個焊墊上均設有內(nèi)壁為電連接面的內(nèi)孔。
作為本實用新型的進一步改進,所述內(nèi)孔為貫穿所述焊墊的上表面和下表面的通孔。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型的芯片結(jié)構(gòu)通過在與功能區(qū)電性連接的焊墊上形成內(nèi)孔,使該內(nèi)孔的內(nèi)壁上形成可與導電線路電性連接的電連接面,從而在縮小焊墊尺寸,提高生產(chǎn)芯片效率、降低生產(chǎn)芯片成本的同時,保證了芯片與導電線路的電連接面面積,,保證芯片的穩(wěn)定性。
附圖說明
圖1是本實用新型芯片結(jié)構(gòu)一具體實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實用新型芯片結(jié)構(gòu)的焊墊一實施方式的俯視圖;
圖3是圖2所示的焊墊沿A-A’方向的剖視圖;
圖4是本實用新型芯片結(jié)構(gòu)的焊墊另一實施方式的俯視圖;
圖5是圖4所示的焊墊沿B-B’方向的剖視圖;
圖6是多個芯片結(jié)構(gòu)在晶圓上的排布示意圖;
圖7是本實用新型芯片制造方法一具體實施方式的流程圖。
具體實施方式
以下將結(jié)合附圖所示的具體實施方式對本實用新型進行詳細描述。但這些實施方式并不限制本實用新型,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)這些實施方式所做出的結(jié)構(gòu)、方法、或功能上的變換均包含在本實用新型的保護范圍內(nèi)。
如圖1所示,在本實施方式中,該芯片結(jié)構(gòu)10包括功能區(qū)12,以及與該功能區(qū)電性連接的多個焊墊13。所述多個焊墊13位于所述功能區(qū)之外的切割道中。所述焊墊包括上表面、下表面,以及連接所述上、下表面的側(cè)壁。優(yōu)選地,該焊墊的橫截面為正方形,由于正方形的長寬相同,便可更好的平衡該芯片的橫軸和縱軸上的尺寸。
如圖2至圖5所示,在本實用新型的一實施方式中,在多個焊墊中的至少部分焊墊13上設有內(nèi)孔131,該內(nèi)孔131的內(nèi)壁133為電連接面132。
該電連接面132可電性連接導線線路,以通過導電線路連接所述芯片的輸出端。所述電連接面的面積大于所述焊墊任意側(cè)壁的面積。
優(yōu)選地,在實施方式中,所述多個焊墊僅設置于所述功能區(qū)的兩相對側(cè)。每個焊墊上均設有該內(nèi)孔131,所述內(nèi)孔為貫穿所述焊墊的上表面和下表面的通孔。由于可控制該內(nèi)孔131的大小,形成合適的電連接面132面積。使得該芯片結(jié)構(gòu)可在縮小焊墊尺寸,降低芯片生產(chǎn)成本的同時保證芯片與導電線路的電連接面面積,保證芯片的穩(wěn)定性;并且,通過將焊墊只設置于功能區(qū)的相對兩側(cè),可進一步的縮小芯片面積,增加一片晶圓上形成的芯片顆數(shù)。
如圖2、圖3所示,該內(nèi)孔131的橫截面為圓形。
如圖4、圖5所示,該內(nèi)孔131的橫截面為矩形。
上述芯片結(jié)構(gòu)中焊墊與焊墊之間的距離可相對現(xiàn)有技術(shù)保持不變,克服了縮小焊墊與焊墊間的距離造成的縮小了導電線路間的距離,加大了斷路的可能性,提高了封裝工藝的難度,增加了封裝成本的缺陷。
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