[發(fā)明專利]電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310746448.3
• 申請日: 2013-12-30
• 公開（公告）號: CN103934207A
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張簡榮力
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)，進而有效執(zhí)行作業(yè)的電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備。

背景技術(shù)

現(xiàn)今電子元件正積極朝向小巧輕薄的小體積微接點發(fā)展，因此小體積微接點的電子元件置入于作業(yè)區(qū)的承置件內(nèi)的精準(zhǔn)度要求相當(dāng)高，若精準(zhǔn)度稍有偏差，即使得電子元件無法在承置件內(nèi)有效的執(zhí)行作業(yè)，而降低作業(yè)的品質(zhì)。

以電子元件的測試分類機為例，請參閱圖1，其是本申請人所申請的中國臺灣專利申請第96149417號可使電子元件精準(zhǔn)對位的移載裝置專利案，該測試分類機的機臺上包括有供料裝置10、輸入端輸送裝置11、作業(yè)區(qū)12、輸出端輸送裝置13及收料裝置14；輸入端輸送裝置11將供料裝置10上待測的電子元件分別輸送至作業(yè)區(qū)12內(nèi)的供料載具121，作業(yè)區(qū)12內(nèi)的第一、第二收料載具122、123上完測的電子元件，則依據(jù)檢測結(jié)果由輸出端輸送裝置13輸送至收料裝置14分類放置。請參閱圖2，作業(yè)區(qū)12包括有測試站124、取像機構(gòu)125、位于測試站124一側(cè)的第一收料載具122、位于測試站124另一側(cè)的供料載具121及第二收料載具123、第一移載取放器126及第二移載取放器127；其中，該供料載具121的上方設(shè)有復(fù)數(shù)個底面具鏤空孔且用來承置待測電子元件的承座1211，各承座1211配置有復(fù)數(shù)個可為伺服馬達且呈不同軸向設(shè)置的調(diào)整件1212、1213、1214，而可利用調(diào)整件1212、1213、1214驅(qū)動承座1211作X-Y兩軸向及θ角的位移，而供料載具121的下方則設(shè)有滑軌組1215，而可于作業(yè)區(qū)12的供料處供輸入端輸送裝置將待測電子元件置入于各承座1211上后，利用滑軌組1215將待測電子元件移載至取像機構(gòu)125處取像，并以各調(diào)整件1212、1213、1214驅(qū)動承座1211作X-Y兩軸向及θ角的補償校正，而可精確調(diào)整待測電子元件的擺置，另該第一、二收料載具122、123則供承置完測的電子元件，該第一、二收料載具122、123以固定的方式定位于相對測試站124的相關(guān)位置，以供第一、二移載取放器126、127及輸出端輸送裝置進行收料作業(yè)，該平行位于供料載具121側(cè)方的取像機構(gòu)125，是CCD取像器，并設(shè)置于機臺的透明臺板下方，且以線路連接信號至中央控制器，在供料載具121移載電子元件至取像機構(gòu)125處取像后，將取像信號傳輸至中央控制器，且經(jīng)由中央控制器的對比，而運算出其偏差量，進而命令供料載具121的各承座1211作位置或角度的補償校正，使電子元件精準(zhǔn)正確擺置，以供第一移載取放器126取出并移載置入于測試站124上執(zhí)行檢測作業(yè)。

該設(shè)計雖然于機臺的透明臺板下方設(shè)有為CCD取像器的取像機構(gòu)125，以供供料載具121移載電子元件至該處取像，并令供料載具121的各承座1211作位置或角度的補償校正，使電子元件精準(zhǔn)正確擺置，供第一移載取放器126取出并移載置入于測試站124上執(zhí)行檢測作業(yè)；然而，第一移載取放器126在供料載具121上取出并移載電子元件的過程中，第一移載取放器126將會因本身結(jié)構(gòu)上的誤差或組裝間隙或移動上的定位問題，使得在移動至測試站124時，可能造成電子元件微幅偏移的現(xiàn)象，而無法準(zhǔn)確置入于測試站124，也即該設(shè)計可使電子元件精準(zhǔn)正確擺置于供料載具121，但在第一移載取放器126移載置入于測試站124的重要階段中，卻可能造成電子元件微幅偏移的現(xiàn)象，這種情形對于現(xiàn)今講求小體積微接點的電子元件而言，精準(zhǔn)度稍有偏差，即可能導(dǎo)致無法有效的執(zhí)行作業(yè)，而降低作業(yè)的品質(zhì)。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于：提供一種可使移載取放裝置上的電子元件精準(zhǔn)對位放置于作業(yè)區(qū)的承置座內(nèi)，進而有效執(zhí)行作業(yè)的電子元件作業(yè)單元、作業(yè)方法及其應(yīng)用的作業(yè)設(shè)備。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：

一種電子元件作業(yè)單元，其特征在于，包含有：

作業(yè)區(qū)：設(shè)有供待執(zhí)行作業(yè)的電子元件對位放置的承置座，以對該電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)的作業(yè)；

移載取放裝置：設(shè)有至少一移載取放器，以將待執(zhí)行作業(yè)的電子元件移載至作業(yè)區(qū)的承置座，以及將作業(yè)區(qū)承置座內(nèi)完成作業(yè)的電子元件移出承置座；

對位檢查裝置：移動至作業(yè)區(qū)的承置座與移載取放器間的位置，以對移載取放器上的電子元件及作業(yè)區(qū)的承置座進行位置取像，并將取像資料傳輸至中央控制單元進行對比。

該作業(yè)區(qū)設(shè)有測試電路板，以及于測試電路板上設(shè)有供電子元件對位放置的承置座，承置座內(nèi)并設(shè)有復(fù)數(shù)個連接至電路板的電性接點，以供電子元件對位放置并執(zhí)行電性測試作業(yè)。