[發明專利]背透檢測方法和背透檢測設備

在審

• 申請號: 201310744057.8
• 申請日: 2013-12-30
• 公開（公告）號: CN104751165A
• 公開（公告）日: 2015-07-01
• 發明（設計）人: 曹瓊;劉汝杰
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G06K9/62
• 分類號: G06K9/62
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 康建峰;吳瓊

1.一種背透檢測方法，該背透檢測方法包括：

獲取已對齊的雙面圖像對中的正面圖像和反面圖像，其中針對所述正面圖像中的每一個第一點已知在所述反面圖像中與其對應的第二點，從而獲得由所述第一點和對應的所述第二點構成的像素對；

確定所述正面圖像和所述反面圖像中的部分前景像素和部分背景像素；

基于上述確定結果，針對以下四種類型的像素對基于預定特征進行建模，以形成四個模型：第一點和第二點都是前景像素、第一點和第二點都是背景像素、第一點是前景像素且第二點是背景像素、第一點是背景像素且第二點是前景像素；

針對未被建模的像素對，根據該像素對的預定特征，分別計算該像素對與所述四個模型的相似度，以確定該像素對的類型；

將與被確定為前景像素的第一點對應的、被確定為背景像素的第二點判定為所述反面圖像上的背透，將與被確定為前景像素的第二點對應的、被確定為背景像素的第一點判定為所述正面圖像上的背透。

2.如權利要求1所述的方法，其中所述確定正面圖像和反面圖像中的部分前景像素和部分背景像素包括：

根據每一個第一點的像素值與預定的第一前景閾值的大小關系，確定所述正面圖像中的部分前景像素；

根據每一個第二點的像素值與預定的第二前景閾值的大小關系，確定所述反面圖像中的部分前景像素；

根據每一個第一點的像素值與預定的第一背景閾值的大小關系，確定所述正面圖像中的部分背景像素；

根據每一個第二點的像素值與預定的第二背景閾值的大小關系，確定所述反面圖像中的部分背景像素。

3.如權利要求1或2所述的方法，其中所述確定正面圖像和反面圖像中的部分前景像素和部分背景像素包括：根據每一個第一點的像素值與對應的第二點的像素值的大小關系，確定所述正面圖像和反面圖像中的部分前景像素和部分背景像素。

4.如權利要求3所述的方法，其中所述根據每一個第一點的像素值與對應的第二點的像素值的大小關系，確定正面圖像和反面圖像中的部分前景像素和部分背景像素包括：

將所述第一點的像素值與對應的第二點的像素值的商與預定的第三閾值和第四閾值作比較，所述第三閾值小于1，所述第四閾值大于1；

如果所述商小于所述第三閾值，則所述第一點是所述正面圖像中的前景像素，所述第二點是所述反面圖像中的背景像素；

如果所述商大于所述第四閾值，則所述第二點是所述反面圖像中的前景像素，所述第一點是所述正面圖像中的背景像素。

5.如權利要求1所述的方法，還包括：確定所述正面圖像和所述反面圖像中的候選前景像素；

其中所述未被建模的像素對包括：所述候選前景像素中的、除所述部分前景像素之外的像素所屬的像素對。

6.如權利要求5所述的方法，其中所述確定正面圖像和反面圖像中的候選前景像素包括：

如果所述第一點的像素值小于或等于預定的第一背景閾值，則確定所述第一點是所述正面圖像中的候選前景像素；

如果所述第二點的像素值小于或等于預定的第二背景閾值，則確定所述第二點是所述反面圖像中的候選前景像素。

7.如權利要求1所述的方法，其中所述針對未被建模的像素對，根據該像素對的預定特征，分別計算該像素對與四個模型的相似度，以確定該像素對的類型包括：

分別計算所述四個模型的平均像素值對和方差；

根據所述四個模型的平均像素值對和方差、該像素對的像素值，分別計算該像素對到所述四個模型的距離；

將該像素對的類型確定為最小距離對應的模型的像素對的類型。

8.如權利要求1所述的方法，還包括：

將被確定為前景像素的第一點判定為所述正面圖像上的前景，將被確定為前景像素的第二點判定為所述反面圖像上的前景。