[發明專利]一種陣列基板和顯示裝置有效
| 申請號: | 201310741942.0 | 申請日: | 2013-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN103681772B | 公開(公告)日: | 2018-09-11 |
| 發明(設計)人: | 田棟協;柳奉烈;安星俊 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L27/32 | 分類號: | H01L27/32;G09G3/3258 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 陣列 顯示裝置 | ||
1.一種陣列基板,包括驅動顯示像素顯示圖像的電壓驅動電路,以及電流感應電路,其特征在于,還包括與顯示像素具有相同的初始參數性能的測試像素、電流比較電路和電壓補償電路,其中,
所述測試像素與所述電流感應電路連接,所述電流比較電路與所述電流感應電路和所述電壓補償電路相連接;
所述電流比較電路,用于將所述電流感應電路感應到的流經所述測試像素的電流的電流值與多個閾值進行比較,所述多個閾值為一設定閾值細分化后得到的多個閾值,當電流值超過一個所述閾值時,則改變所述閾值為另一個所述閾值,并將比較結果輸出至所述電壓補償電路,所述設定閾值是反映顯示像素基準材料溫度特性對應的電流值;
所述電壓補償電路,用于僅在所述電流值小于所述閾值時,對所述電壓驅動電路的驅動電壓進行補償。
2.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述測試像素包括紅色測試像素、綠色測試像素和藍色測試像素。
3.如權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述測試像素為一個像素單元中的紅色顯示像素、綠色顯示像素和藍色顯示像素。
4.如權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述測試像素設置于非顯示區域。
5.如權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述測試像素設置于顯示區域。
6.如權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述電流比較電路包括與所述紅色測試像素、所述綠色測試像素和所述藍色測試像素分別連接的比較器,其中,
所述比較器的正輸入端連接所述紅色測試像素、所述綠色測試像素或所述藍色測試像素,負輸入端連接基準電壓。
7.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,還包括:與所述電流比較電路相連接的計時器,其中,
所述計時器用于設定周期,使所述電流比較電路在設定周期內對所述電流值與所述設定閾值進行比較。
8.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述電壓補償電路與伽馬基準電路相連接,通過調整伽馬基準電路輸出的伽馬基準電壓對驅動所述電壓驅動電路的驅動電壓進行補償。
9.一種顯示裝置,其特征在于,包括權利要求1-8任一項所述的陣列基板。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





