[發明專利]鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置

無效

• 申請號: 201310740975.3
• 申請日: 2013-12-30
• 公開（公告）號: CN103698343A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 沈安祺;王培源;金鈺龍;劉超
• 申請（專利權）人: 上海瑞伯德智能系統科技有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 上海世貿專利代理有限責任公司 31128
• 代理人: 嚴新德

技術領域:

本發明涉及物理領域，尤其涉及影像檢測技術，特別涉及鉛筆產品的缺陷檢測，具體的是一種鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置。

背景技術:

部分鉛筆在出廠前需要削尖筆頭，削尖后的筆頭可能存在筆芯顏色與筆桿不匹配、泵芯、斷芯、偏芯、傷缺、過尖、過平、膠合處開裂等缺點，因此需要對削尖后的筆頭進行合格性檢測。現有技術中，對削尖后的筆頭的合格性檢測由人工完成。通常一位工人在一分鐘之內需要檢測數百支鉛筆，因此往往發生錯檢、漏檢。

發明內容：

本發明的目的在于提供一種鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，所述的這種鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置要解決現有技術中人工檢測鉛筆筆頭過程中勞動強度大、容易發生錯檢和漏檢的技術問題。

本發明的這種鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，包括支架、照片采集器和光源，所述的照片采集器中包括鏡頭，其中，所述的照片采集器設置在支架的上部，支架的下部設置有兩個平面反射鏡，照片采集器的鏡頭朝向支架的下部，所述的兩個平面反射鏡分別位于鏡頭光軸的兩側且分別與鏡頭光軸呈小于90度的夾角，所述的光源呈環形，光源設置在支架的側面、兩個平面反射鏡的后上方。兩個平面反射鏡均經過鍍膜處理，可保證兩側圖像的大小和亮度基本與主像一致。

進一步的，支架的前方設置有一個傳送帶，所述的傳送帶平行于水平面，傳送帶在垂直于水平面的方向上位于光源圓心的下方、兩個平面反射鏡的上方。

進一步的，照片采集器連接有控制器，所述的控制器中包括照片采集控制模塊和圖形分析模塊。

進一步的，所述的兩塊平面反射鏡呈V形設置。

進一步的，兩個平面反射鏡上均設置有鍍膜。

進一步的，鏡頭的光軸垂直于傳送帶。

進一步的，所述的光源是白光光源。

本發明的工作原理是：將鉛筆平行排列在傳送帶上，削尖后的筆頭延伸到傳送帶的外側并位于兩個平面反射鏡的上方。環形的光源照亮筆頭的整個圓周，可將筆頭的缺陷更加明顯地突顯出來。照片采集器從筆頭的上方拍攝筆頭，同時拍攝兩個平面反射鏡中的筆頭的影像，從而獲得筆頭的整個圓周的影像。由控制器中的圖形分析模塊對比采集到的影像和合格產品的標準影像，從而實現合格性檢測。

本發明和已有技術相比較，其效果是積極和明顯的。本發明利用環形的光源照亮筆頭的整個圓周，可將筆頭的缺陷更加明顯地突顯出來，利用照片采集器和兩個平面反射鏡只拍攝一張照片即可采集筆頭的整個圓周的影像，由控制器中的圖形分析模塊對比采集到的影像和合格產品的標準影像，從而實現合格性檢測，能夠穩定有效地把筆頭的各種缺陷檢測出來，從而保證成品的質量。本發明可替代大量的人工，并可應用在高速生產線上，提高了生產效率。

附圖說明：?

圖1是本發明的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置的示意圖。

圖2是本發明的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置的俯視圖，圖2中未畫出照片采集器。

圖3是本發明的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置的一個實施例的側視圖。

圖4是本發明的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置的一個實施例的俯視圖。

圖5是本發明的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置的一個實施例的左視圖。

具體實施方式：

實施例1:

如圖1、圖2、圖3、圖4和圖5所示，本發明的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，包括支架4、照片采集器1和光源2，所述的照片采集器1中包括鏡頭，其中，所述的照片采集器1設置在支架4的上部，支架4的下部設置有兩個平面反射鏡3，照片采集器1的鏡頭朝向支架4的下部，所述的兩個平面反射鏡3分別位于鏡頭光軸的兩側且分別與鏡頭光軸呈小于90度的夾角，所述的光源2呈環形，光源2設置在支架4的側面、兩個平面反射鏡3的后上方。兩個平面反射鏡均經過鍍膜處理，可保證兩側圖像的大小和亮度基本與主像一致。

進一步的，支架4的前方設置有一個傳送帶6，所述的傳送帶6平行于水平面，傳送帶6在垂直于水平面的方向上位于光源2圓心的下方、兩個平面反射鏡3的上方。

進一步的，照片采集器1連接有控制器（圖中未示），所述的控制器中包括照片采集控制模塊和圖形分析模塊。

進一步的，所述的兩個平面反射鏡3呈V形設置。

進一步的，兩個平面反射鏡3上均設置有鍍膜。

進一步的，鏡頭的光軸垂直于傳送帶6。

進一步的，所述的光源2是白光光源。