[發(fā)明專利]鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310740975.3 | 申請日： | 2013-12-30 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103698343A | 公開（公告）日： | 2014-04-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 沈安祺;王培源;金鈺龍;劉超 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海瑞伯德智能系統(tǒng)科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/89 | 分類號(hào)： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 上海世貿(mào)專利代理有限責(zé)任公司 31128 | 代理人： | 嚴(yán)新德 |
| 地址： | 200335 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 鉛筆 筆頭 缺陷 檢測 裝置 | ||
1.一種鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，包括支架、照片采集器和光源，所述的照片采集器中包括鏡頭，其特征在于：所述的照片采集器設(shè)置在支架的上部，支架的下部設(shè)置有兩個(gè)平面反射鏡，照片采集器的鏡頭朝向支架的下部，所述的兩個(gè)平面反射鏡分別位于鏡頭光軸的兩側(cè)且分別與鏡頭光軸呈小于90度的夾角，所述的光源呈環(huán)形，光源設(shè)置在支架的側(cè)面、兩個(gè)平面反射鏡的后上方。
2.如權(quán)利要求1所述的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，其特征在于：支架的前方設(shè)置有一個(gè)傳送帶，所述的傳送帶平行于水平面，傳送帶在垂直于水平面的方向上位于光源圓心的下方、兩個(gè)平面反射鏡的上方。
3.如權(quán)利要求1所述的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，其特征在于：照片采集器連接有控制器，所述的控制器中包括照片采集控制模塊和圖形分析模塊。
4.如權(quán)利要求1所述的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，其特征在于：所述的兩塊平面反射鏡呈V形設(shè)置。
5.如權(quán)利要求2所述的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，其特征在于：鏡頭的光軸垂直于傳送帶。
6.如權(quán)利要求1所述的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，其特征在于：所述的光源是白光光源。
7.如權(quán)利要求1所述的鉛筆筆頭缺陷的檢測裝置，其特征在于：兩個(gè)平面反射鏡上均設(shè)置有鍍膜。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
