[發(fā)明專利]位置檢測器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310737023.6
• 申請日: 2013-12-26
• 公開（公告）號: CN103900452B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發(fā)明（設計）人: 河野尚明;山中哲爾
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 王永建

本發(fā)明公開了一種位置檢測器，其具有以可運動的方式設置在模具（9）上在第一磁通傳輸部件（20）和第二磁通傳輸部件（30）之間的間隙（101）中以根據(jù)穿過其中的磁通密度輸出信號的霍爾IC（60）?；魻朓C相對于旋轉體（12）的運動被霍爾IC（60）檢測到?；魻朓C具有第一磁通收集器（70）和第二磁通收集器（80）。第一磁通收集器和第一磁通傳輸部件之間的第一磁路（M1）的磁阻以及第二磁通收集器和第二磁通傳輸部件之間的第二磁路（M2）的磁阻構造為使得霍爾IC相對于旋轉體在其中磁通密度減小至最小的預定徑向距離處可運動。

技術領域

本發(fā)明整體涉及一種用于檢測檢測對象的位置的位置檢測器。

背景技術

一般來說，磁力式位置檢測器檢測檢測對象的位置相對于參照部件的變化。磁力式位置檢測器可利用諸如磁體的磁通產生器。例如，在專利文獻1(即，日本專利特開No.JP-A-H 08-292004)中公開的位置檢測器被構造為形成具有設置在參照部件上的兩個磁通傳輸部件和兩個磁體的閉合磁路。在這種結構中，兩個磁體分別由兩個互相面對的磁通傳輸部件的端部束縛。在兩個磁通傳輸部件的各自端部之間的間隙內發(fā)生從一個傳輸部件至另一個傳輸部件的溢磁通(spill magnetic flux)流。磁通密度檢測器被構造為在兩個磁通傳輸部件之間的間隙內與檢測對象一起運動，并根據(jù)從中穿過的磁通輸出檢測信號。按照這種方式，位置檢測器基于從磁通檢測器輸出的輸出信號檢測檢測對象相對于參照部件的位置。

在專利文獻1中，將位置檢測器描述為能夠檢測相對于參照部件旋轉的檢測對象的旋轉位置(參見所述專利文獻中的圖8)。位置檢測器具有形成為沿著以檢測對象的旋轉軸線為中心的虛擬圓延伸的兩個磁通傳輸部件。此外，位置檢測器布置有兩個軛，軛設置為沿著虛擬圓的徑向束縛磁通密度檢測器或將其夾在中間，以將磁通流集中到所述兩個磁通傳輸部件之間的磁通密度檢測器。

在這種情況下，兩個軛的每個具有面對對應的磁通傳輸部件的面。每個對應的磁通傳輸部件具有平面形狀。此外，所述兩個磁通傳輸部件之一的面對軛的面具有凸狀，而所述兩個磁通傳輸部件的另一個的面對軛的面具有凹狀。因此，當磁通密度檢測器布置在兩個磁通傳輸部件之間的中點時，兩個磁路中的導磁性不同，也就是說，(i)從一個傳輸部件至軛的磁路和(ii)從另一傳輸部件至軛的磁路之間的導磁性不同。

在這種構造中，在兩個磁通傳輸部件之間的間隙中沿著虛擬圓的徑向磁通密度降低至最小的最小磁通位置沿著徑向從磁通密度檢測器的位置移開。結果，根據(jù)密度檢測器沿著虛擬圓徑向的移動，磁通密度在密度檢測器的附近的變化增大。因此，由于密度檢測器沿著虛擬圓的徑向的移動，來自密度檢測器的輸出信號的變化會增大。因此，知道針對密度檢測器的位移，位置檢測器的穩(wěn)健性會變差。也就是說，換句話說，在專利文獻1的位置檢測器中，用于檢測檢測對象的位置的位置檢測精度會變差。

發(fā)明內容

本發(fā)明的一方面是提供一種具有提高的位置檢測精度的具有磁通密度檢測部分的位置檢測器。