[發(fā)明專(zhuān)利]一種Ni摻雜晶硅中間帶材料及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310726455.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103681900A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳朝;陳蓉;范寶殿 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廈門(mén)大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L31/0264 | 分類(lèi)號(hào): | H01L31/0264;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廈門(mén)南強(qiáng)之路專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 35200 | 代理人: | 馬應(yīng)森 |
| 地址: | 361005 *** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ni 摻雜 中間 材料 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及晶體硅,尤其涉及一種Ni摻雜晶硅中間帶材料及其制備方法。
背景技術(shù)
太陽(yáng)能光伏發(fā)電是未來(lái)最理想的潔凈可再生能源之一,近些年太陽(yáng)電池的研究主要圍繞降低電池生產(chǎn)成本和提高太陽(yáng)電池效率兩個(gè)大方向而進(jìn)行。通過(guò)能帶工程在硅的禁帶中引入新的中間能帶,能夠提高硅材料對(duì)可見(jiàn)光范圍的吸收和拓展紅外吸收范圍,在不改變開(kāi)路電壓的同時(shí)提高短路電流,從而大幅提高硅基中間帶太陽(yáng)電池的光電轉(zhuǎn)換效率。
目前在半導(dǎo)體中引入中間帶主要有兩種方式:(1)量子點(diǎn)中間帶,即利用能帶剪裁或量子尺寸效應(yīng)來(lái)產(chǎn)生中間帶;(2)雜質(zhì)中間帶,即摻入高濃度的深能級(jí)雜質(zhì)形成雜質(zhì)中間帶。通過(guò)在一種材料中注入其它的元素形成中間帶,技術(shù)更簡(jiǎn)單成本相對(duì)較低,且很有希望能將該技術(shù)應(yīng)用于目前主流的太陽(yáng)電池材料Si中,易實(shí)現(xiàn)規(guī)模化生產(chǎn)。
要獲得雜質(zhì)中間帶,需要采用非平衡態(tài)技術(shù),使深能級(jí)雜質(zhì)的摻雜濃度高于Mott極限濃度(Luque?Antonio,MartíAntonio,Antolín?Elisa,Tablero?César.Intermediate?bands?versus?levels?in?non-radiative?recombination[J].Physica?B:Condensed?Matter2006;382(1):320-327)。目前已報(bào)道的成功在硅中引入雜質(zhì)中間帶的元素金屬有鈦(Olea?J,Toledano-Luque?M,Pastor?D,San-Andrés?E,Mártil?I,González-Díaz?G.High?quality?Ti-implanted?Si?layers?above?the?Mott?limit[J].Journal?of?Applied?Physics2010;107(10):103524-5),非金屬元素有、硫、硒和碲;而以金屬作為深能級(jí)雜質(zhì)進(jìn)行過(guò)飽和摻雜所采用的非平衡態(tài)技術(shù)主要是:先采用離子注入,再進(jìn)行脈沖激光退火。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供通過(guò)一維線(xiàn)型連續(xù)激光輻照摻雜制備的一種Ni摻雜晶硅中間帶材料及其制備方法。
所述Ni摻雜晶硅中間帶材料的載體為晶體硅,在晶體硅中摻雜Ni雜質(zhì),Ni元素在晶體硅中的濃度大于5.9×1019cm-3,摻雜Ni雜質(zhì)形成雜質(zhì)中間帶。
所述Ni摻雜晶硅中間帶材料的制備方法,包括如下步驟:
1)使用磁控濺射法或蒸發(fā)鍍膜法在硅片表面制備一層Ni薄膜;
2)使用一維線(xiàn)型連續(xù)激光對(duì)Ni薄膜進(jìn)行激光輻照;
3)用氫氟酸溶液對(duì)激光輻照后的硅片進(jìn)行腐蝕后,得Ni摻雜晶硅中間帶材料。
在步驟1)中,所述硅片的厚度可為200~500μm,所述Ni薄膜厚度與硅片厚度之比可為(1~3)∶1000。
在步驟2)中,所述激光輻照所用的激光包括但不限于YAG:Nd一維線(xiàn)型連續(xù)激光,激光器輸入功率可為900~1250W;激光器的掃描速率可為2~10mm/s。
在步驟3)中,所述氫氟酸溶液的質(zhì)量濃度可為10%~40%;所述腐蝕的時(shí)間可為5~15min。
本發(fā)明具有以下效果:
1)本發(fā)明所述Ni摻雜晶硅中間帶材料能明顯提高紅外光譜的吸收,提高少子壽命,使用該材料制備的中間帶電池能明顯提高太陽(yáng)能電池對(duì)紅外部分太陽(yáng)光的利用率,減少電池的發(fā)熱,提高電池效率,成本低,制作快速簡(jiǎn)便;由于該材料是硅基光電材料,故易與硅基的光電器件集成,也易與硅微電子加工工藝兼容,有利于實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化。
2)本發(fā)明制備的的Ni摻雜晶體硅中間帶材料的少子壽命從10μs以下提高到50~200μs(測(cè)試儀器為WT1000B少子壽命測(cè)試儀);與未經(jīng)摻雜處理的原始硅片相比,經(jīng)過(guò)處理后得到的Ni摻雜晶體硅中間帶材料對(duì)1~3μm波段紅外光的吸收率提高了30%以上。這種材料不僅提高了硅材料的光吸收,還提高材料的少子壽命,使用該材料制作的太陽(yáng)能電池能夠大大提高電池的效率。同時(shí)該材料還能用于制作光電探測(cè)器。
3)本發(fā)明所提供的制備方法解決了Ni雜質(zhì)在硅材料中超過(guò)Mott極限濃度的摻雜問(wèn)題。
附圖說(shuō)明
圖1是原始硅片少子壽命的測(cè)試結(jié)果。
圖2是本發(fā)明實(shí)施例1所得中間帶材料少子壽命的測(cè)試結(jié)果。
圖3是本發(fā)明實(shí)施例2所得中間帶材料少子壽命的測(cè)試結(jié)果。
圖4是本發(fā)明實(shí)施例3所得中間帶材料少子壽命的測(cè)試結(jié)果。
具體實(shí)施方式
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專(zhuān)門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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