[發明專利]測試設備、系統及方法

在審

• 申請號: 201310726379.X
• 申請日: 2013-12-25
• 公開（公告）號: CN104754093A
• 公開（公告）日: 2015-07-01
• 發明（設計）人: 閆春梅
• 申請（專利權）人: 北京信威通信技術股份有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24;H04B17/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測試設備，其特征在于，包括：

射頻部分電路，與被測設備連接，用于為所述被測設備提供測試射頻通道；

數字處理部分電路，與所述射頻部分電路連接，用于控制所述射頻部分電路向所述被測設備發射信號，并且，通過所述射頻部分電路接收所述被測設備發射的信號，完成對所述被測設備的測試。

2.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述射頻部分電路域所述數字處理部分電路設置在兩個電路板上，所述兩個電路板通過背板進行連接。

3.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述射頻部分電路包括：

功率檢波電路，用于獲取輸入和/或輸出功率值；

接收電路，用于接收信號；

發送電路，用于發送信號；

存儲器，用于存儲數據。

4.根據權利要求3所述的測試設備，其特征在于，所述射頻部分電路還包括：溫度傳感器，用于通過對溫度的測量，實現溫度補償。

5.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述數字處理部分電路包括：

第一處理器，用于執行以下至少之一：與網絡端口通信、系統參數設置、測試對象程序下載、加載第二處理器；

所述第二處理器，用于執行以下至少之一：測試流程控制、采集數據的處理與分析、產生和發送測試信號。

6.根據權利要求5所述的測試設備，其特征在于，所述數字處理部分電路還包括：

現場可編程門陣列，用于實現以下至少之一：所述第一處理器和所述第二處理器的接口設計、AD/DA接口設計、希爾伯特變換、鎖相環配置、被測設備邏輯控制。

7.根據權利要求5所述的測試設備，其特征在于，所述第一處理器為ARM處理器，所述第二處理器為DSP。

8.一種測試系統，其特征在于，包括權利要求1至7中任一項所述的測試設備，其特征在于，還包括：

計算機，與所述測試設備連接，所述計算機包括：屏幕，用于顯示人機界面，所述人機界面用戶顯示測試結果；存儲器，用于存儲測試結果；接口，用于接收測試命令和/或測試數據。

9.根據權利要求8所述的測試設備，其特征在于，還包括：網絡接口，位于所述計算機和/或所述測試設備上，用于接收遠程命令和/或數據。

10.根據權利要求9所述的測試設備，其特征在于，還包括：

所述網絡接口，還用于與其他測試系統連接，用于實現測試數據的共享。

11.一種測試方法，其特征在于，使用權利要求8至10中任一項所述的測試系統，所述方法包括：

下載測試程序到所述被測設備；

進行以下測試的至少之一：接收帶寬頻響測試、接收平坦度測試、接收校準表測試、接收隔離度測試、接收TDD?SINR系數測試、接收CNR系數測試、接收噪聲系數測試、接收ACPR測試；

在進行接收頻偏校準之后進行以下測試的至少之一：發射頻偏和發射I/Q不平度測試、最大線性發射功率測試、最大發射功率測試、最優發射功率校準、發射校準表測試、發射SINR和CNR測試、發射隔離度測試、發射平坦度測試、發射ACPR測試、發射載波抑制測試、發射帶寬頻響測試；

生成測試報告。