[發明專利]測試設備、系統及方法

在審

• 申請號: 201310726379.X
• 申請日: 2013-12-25
• 公開（公告）號: CN104754093A
• 公開（公告）日: 2015-07-01
• 發明（設計）人: 閆春梅
• 申請（專利權）人: 北京信威通信技術股份有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24;H04B17/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及通信領域，具體而言，涉及測試設備、系統及方法。

背景技術

現有通信終端生產測試采用信號源、頻譜分析儀等儀器對終端進行射頻收發信機校準、射頻收發信機測試，采用通用儀器的方案需要的設備包括：射頻矢量信號源、射頻矢量信號分析儀等設備，PC與測試儀器之間通過GPIB線連接，這些測試設備成本高，同時PC與測試設備之間數據交互受總線影響，測試花費時間也比較長，測試速度較慢。?

對于相關技術中存在的上述問題，目前還沒有提出合理的解決方案。?

發明內容

本發明提供了測試設備、系統及方法，以至少解決相關技術中通信終端生產測試速度較慢的問題。?

根據本發明的一個方面，提供了一種測試設備，包括：射頻部分電路，與被測設備連接，用于為所述被測設備提供測試射頻通道；數字處理部分電路，與所述射頻部分電路連接，用于控制所述射頻部分電路想所述被測設備發射信號，并且，通過所述射頻部分電路接收所述被測設備發射的信號，完成對所述被測設備的測試。?

優選地，所述射頻部分電路域所述數字處理部分電路設置在兩個電路板上，所述兩個電路板通過背板進行連接。?

優選地，所述射頻部分電路包括：功率檢波電路，用于獲取輸入和/或輸出功率值；接收電路，用于接收信號；發送電路，用于發送信號；存儲器，用于存儲數據。?

優選地，所述射頻部分電路還包括：溫度傳感器，用于通過對溫度的測量，實現溫度補償。?

優選地，所述數字處理部分電路包括：第一處理器，用于執行以下至少之一：與網絡端口通信、系統參數設置、測試對象程序下載、加載第二處理器；?所述第二處理器，用于執行以下至少之一：測試流程控制、采集數據的處理與分析、產生和發送測試信號。?

優選地，所述數字處理部分電路還包括：?

現場可編程門陣列，用于實現以下至少之一：所述第一處理器和所述第二處理器的接口設計、AD/DA接口設計、希爾伯特變換、鎖相環配置、被測設備邏輯控制。?

優選地，所述第一處理器為ARM處理器，所述第二處理器為DSP。?

根據本發明的一個方面，還提供了一種測試系統，其特征在于，包括上述測試設備，還包括：計算機，與所述測試設備連接，所述計算機包括：屏幕，用于顯示人機界面，所述人機界面用戶顯示測試結果；存儲器，用于存儲測試結果；接口，用于接收測試命令和/或測試數據。?

優選地，還包括：網絡接口，位于所述計算機和/或所述測試設備上，用于接收遠程命令和/或數據。?

優選地，還包括：所述網絡接口，還用于與其他測試系統連接，用于實現測試數據的共享。?

根據本發明的另一個方面，還提供了一種測試方法，使用上述的測試系統，所述方法包括：下載測試程序到所述被測設備；進行以下測試的至少之一：接收帶寬頻響測試、接收平坦度測試、接收校準表測試、接收隔離度測試、接收TDD?SINR系數測試、接收CNR系數測試、接收噪聲系數測試、接收ACPR測試；在進行接收頻偏校準之后進行以下測試的至少之一：發射頻偏和發射I/Q不平度測試、最大線性發射功率測試、最大發射功率測試、最優發射功率校準、發射校準表測試、發射SINR和CNR測試、發射隔離度測試、發射平坦度測試、發射ACPR測試、發射載波抑制測試、發射帶寬頻響測試；生成測試報告。?

通過本發明，射頻部分電路，與被測設備連接，用于為所述被測設備提供測試射頻通道；數字處理部分電路，與所述射頻部分電路連接，用于控制所述射頻部分電路想所述被測設備發射信號，并且，通過所述射頻部分電路接收所述被測設備發射的信號，完成對所述被測設備的測試，解決了相關技術中通信終端生產測試設備成本高，測試速度較慢的問題，提高了生產效率。?

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。?

圖1是根據本發明實施例的測試設備的框圖；?

圖2是根據本發明實施例的ATE設計框圖；?

圖3是根據本發明實施例的射頻板結構框圖。?

具體實施方式