[發明專利]一種儀器校準方法及裝置

有效

• 申請號: 201310724200.7
• 申請日: 2013-12-25
• 公開（公告）號: CN103697928A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 張偉楠;楊立杰;胡志臣;史雄偉;李浩璧;鄒璞
• 申請（專利權）人: 北京航天測控技術有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 工業和信息化部電子專利中心 11010
• 代理人: 梁軍

1.一種儀器校準方法，其特征在于，包括：

建立儀器列表，所述儀器列表中包括至少兩個儀器的校準屬性信息；

根據待校準儀器的型號，從所述儀器列表中確定所述待校準儀器的校準屬性信息；

根據所述校準屬性信息校準所述待校準儀器。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述校準屬性信息包括：屬性地址、儀器型號、校準類型、校準通道個數、端口個數、端口類型、量程個數、量程范圍、校準點個數、校準數據存儲地址和校準條件存儲地址，其中，所述校準類型包括輸入校準或輸出校準。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述校準屬性信息校準所述待校準儀器包括：

確定所述待校準儀器的每個量程范圍內的校準點；

根據所述待校準儀器的校準類型確定每個所述校準點對應的校準參考值；

將所述校準參考值存儲到所述校準數據存儲地址。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述待校準儀器的校準類型確定每個所述校準點對應的校準參考值包括：

如果所述待校準儀器的校準類型為輸入校準，控制外部校準源向所述待校準儀器輸入所述校準點代表的標準信號；

通過對所述標準信號進行測量，確定所述校準點對應的校準參考值。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述待校準儀器的校準類型確定每個所述校準點對應的校準參考值包括：

如果所述待校準儀器的校準類型為輸出校準，控制所述待校準儀器向外部標準測量設備輸出所述校準點代表的待校信號；

通過接收所述外部標準測量設備對所述待校信號的測量值，確定所述校準點對應的校準參考值。

6.根據權利要求3-5中任一項所述的方法，其特征在于，所述將所述校準參考值存儲到所述校準數據存儲地址包括：

在緩沖區建立多維數組，所述多維數組為包括儀器的端口號、校準通道號、量程號、校準點信息的多維數組；

將所述校準參考值存儲到所述多維數組的量程號所指示的數組維度中；

將存儲了所述校準參考值的所述多維數組存儲到所述校準數據存儲地址。

7.一種儀器校準裝置，其特征在于，包括：

建立單元，用于建立儀器列表，所述儀器列表中包括至少兩個儀器的校準屬性信息；

確定單元，用于根據待校準儀器的型號，從所述儀器列表中確定所述待校準儀器的校準屬性信息；

校準單元，用于根據所述校準屬性信息校準所述待校準儀器。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，

所述校準屬性信息包括：屬性地址、儀器型號、校準類型、校準通道個數、端口個數、端口類型、量程個數、量程范圍、校準點個數、校準數據存儲地址和校準條件存儲地址，其中，所述校準類型包括輸入校準或輸出校準。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述校準單元具體包括：

校準點確定模塊，用于確定所述待校準儀器的每個量程范圍內的校準點；

參考值確定模塊，用于根據所述待校準儀器的校準類型確定每個所述校準點對應的校準參考值；

存儲模塊，用于將所述校準參考值存儲到所述校準數據存儲地址。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述存儲模塊具體用于：

在緩沖區建立多維數組，所述多維數組為包括儀器的端口號、校準通道號、量程號、校準點信息的多維數組；

將所述校準參考值存儲到所述多維數組的量程號所指示的數組維度中。