[發(fā)明專利]一種儀器校準(zhǔn)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310724200.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103697928A | 公開(公告)日: | 2014-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張偉楠;楊立杰;胡志臣;史雄偉;李浩璧;鄒璞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01D18/00 | 分類號(hào): | G01D18/00 |
| 代理公司: | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 梁軍 |
| 地址: | 100041 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 儀器 校準(zhǔn) 方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測(cè)控技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種儀器校準(zhǔn)方法及裝置。
背景技術(shù)
各種測(cè)量?jī)x器,如數(shù)據(jù)采集儀器等,由于受外界因素的影響,如使用地點(diǎn)及環(huán)境的變化,輸入與輸出之間未必具有良好的線性關(guān)系,測(cè)量精度會(huì)發(fā)生變化,即使在同一地點(diǎn)儀器長(zhǎng)時(shí)間使用,也會(huì)發(fā)生時(shí)漂,從而使儀器的測(cè)量精度難以保障。因此需要對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),利用得到的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)測(cè)量的原始數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償,從而確保儀器在不同的地點(diǎn)及環(huán)境下都能獲取理想的測(cè)量精度。
目前,由于儀器個(gè)體的差異性,如:校準(zhǔn)參考通道通常不同(有的只需校準(zhǔn)一個(gè)通道即可補(bǔ)償所有通道,而有的必須每個(gè)通道都進(jìn)行儀器校準(zhǔn),并各個(gè)通道分別補(bǔ)償),不同儀器的性能指標(biāo)也各異(例如量程大小、通道數(shù)個(gè)數(shù)、輸入方式種類),一般的儀器校準(zhǔn)軟件只適用于某一特定的儀器,兼容性差,當(dāng)儀器對(duì)象改變時(shí),就要重新開發(fā)軟件,造成人力和財(cái)力的浪費(fèi)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種儀器校準(zhǔn)方法及裝置,用以解決現(xiàn)有技術(shù)中儀器校準(zhǔn)軟件只適用于某一特定的儀器、兼容性差的問題。
為解決上述技術(shù)問題,一方面,本發(fā)明提供一種儀器校準(zhǔn)方法,包括:
建立儀器列表,所述儀器列表中包括至少兩個(gè)儀器的校準(zhǔn)屬性信息;根據(jù)待校準(zhǔn)儀器的型號(hào),從所述儀器列表中確定所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)屬性信息;根據(jù)所述校準(zhǔn)屬性信息校準(zhǔn)所述待校準(zhǔn)儀器。
可選的,所述校準(zhǔn)屬性信息包括:屬性地址、儀器型號(hào)、校準(zhǔn)類型、校準(zhǔn)通道個(gè)數(shù)、端口個(gè)數(shù)、端口類型、量程個(gè)數(shù)、量程范圍、校準(zhǔn)點(diǎn)個(gè)數(shù)、校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)地址和校準(zhǔn)條件存儲(chǔ)地址,其中,所述校準(zhǔn)類型包括輸入校準(zhǔn)或輸出校準(zhǔn)。
具體的,所述根據(jù)所述校準(zhǔn)屬性信息校準(zhǔn)所述待校準(zhǔn)儀器包括:確定所述待校準(zhǔn)儀器的每個(gè)量程范圍內(nèi)的校準(zhǔn)點(diǎn);根據(jù)所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)類型確定每個(gè)所述校準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)參考值;將所述校準(zhǔn)參考值存儲(chǔ)到所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)地址。
可選的,所述根據(jù)所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)類型確定每個(gè)所述校準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)參考值包括:如果所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)類型為輸入校準(zhǔn),控制外部校準(zhǔn)源向所述待校準(zhǔn)儀器輸入所述校準(zhǔn)點(diǎn)代表的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào);通過對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行測(cè)量,確定所述校準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)參考值。
可選的,所述根據(jù)所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)類型確定每個(gè)所述校準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)參考值包括:如果所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)類型為輸出校準(zhǔn),控制所述待校準(zhǔn)儀器向外部標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量設(shè)備輸出所述校準(zhǔn)點(diǎn)代表的待校信號(hào);通過接收所述外部標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量設(shè)備對(duì)所述待校信號(hào)的測(cè)量值,確定所述校準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)參考值。
可選的,所述將所述校準(zhǔn)參考值存儲(chǔ)到所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)地址包括:在緩沖區(qū)建立多維數(shù)組,所述多維數(shù)組為包括儀器的端口號(hào)、校準(zhǔn)通道號(hào)、量程號(hào)、校準(zhǔn)點(diǎn)信息的多維數(shù)組;將所述校準(zhǔn)參考值存儲(chǔ)到所述多維數(shù)組的量程號(hào)所指示的數(shù)組維度中;將存儲(chǔ)了所述校準(zhǔn)參考值的所述多維數(shù)組存儲(chǔ)到所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)地址。
一方面,本發(fā)明提供一種儀器校準(zhǔn)裝置,包括:建立單元,用于建立儀器列表,所述儀器列表中包括至少兩個(gè)儀器的校準(zhǔn)屬性信息;確定單元,用于根據(jù)待校準(zhǔn)儀器的型號(hào),從所述儀器列表中確定所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)屬性信息;校準(zhǔn)單元,用于根據(jù)所述校準(zhǔn)屬性信息校準(zhǔn)所述待校準(zhǔn)儀器。
可選的,所述校準(zhǔn)屬性信息包括:屬性地址、儀器型號(hào)、校準(zhǔn)類型、校準(zhǔn)通道個(gè)數(shù)、端口個(gè)數(shù)、端口類型、量程個(gè)數(shù)、量程范圍、校準(zhǔn)點(diǎn)個(gè)數(shù)、校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)地址和校準(zhǔn)條件存儲(chǔ)地址,其中,所述校準(zhǔn)類型包括輸入校準(zhǔn)或輸出校準(zhǔn)。
可選的,所述校準(zhǔn)單元具體包括:校準(zhǔn)點(diǎn)確定模塊,用于確定所述待校準(zhǔn)儀器的每個(gè)量程范圍內(nèi)的校準(zhǔn)點(diǎn);參考值確定模塊,用于根據(jù)所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)類型確定每個(gè)所述校準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)參考值;存儲(chǔ)模塊,用于將所述校準(zhǔn)參考值存儲(chǔ)到所述校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)地址。
可選的,所述存儲(chǔ)模塊具體用于:在緩沖區(qū)建立多維數(shù)組,所述多維數(shù)組為包括儀器的端口號(hào)、校準(zhǔn)通道號(hào)、量程號(hào)、校準(zhǔn)點(diǎn)信息的多維數(shù)組;將所述校準(zhǔn)參考值存儲(chǔ)到所述多維數(shù)組的量程號(hào)所指示的數(shù)組維度中。
本發(fā)明實(shí)施例提供的儀器校準(zhǔn)方法及裝置,建立了所支持的儀器的儀器列表,所述儀器列表中包括至少兩個(gè)儀器的校準(zhǔn)屬性信息,這樣在進(jìn)行儀器校準(zhǔn)時(shí)就可以根據(jù)待校準(zhǔn)儀器的型號(hào),從所述儀器列表中確定所述待校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)屬性信息,并根據(jù)該校準(zhǔn)屬性信息對(duì)該待校準(zhǔn)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),這樣,即能夠?qū)α斜碇兴ǖ母鞣N儀器都進(jìn)行有針對(duì)性的校準(zhǔn),從而大大提高了校準(zhǔn)軟件的兼容性。
附圖說明
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的儀器校準(zhǔn)方法的一種流程圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司,未經(jīng)北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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