[發(fā)明專利]一種陣列基板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310714840.X | 申請日： | 2013-12-20 |
| 公開（公告）號： | CN103698915B | 公開（公告）日： | 2017-04-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 黃式強;周紀(jì)登 | 申請（專利權(quán)）人： | 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13;G02F1/1333 |
| 代理公司： | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11243 | 代理人： | 許靜,黃燦 |
| 地址： | 230012 安徽*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 陣列 | ||
1.一種陣列基板，包括：
設(shè)置于陣列基板中的不同類型的數(shù)據(jù)線；
與每一類型數(shù)據(jù)線對應(yīng)設(shè)置的，具有第一測試信號輸入端子的測試信號傳輸線；
其特征在于，所述陣列基板還包括：
開關(guān)結(jié)構(gòu)，與所述測試信號傳輸線連接；
第二測試信號輸入端子，與所述測試信號傳輸線中的一條電連接；
控制信號輸入端子，與所述開關(guān)結(jié)構(gòu)連接，用于輸出一個控制信號到所述開關(guān)結(jié)構(gòu)，以通過所述控制信號控制所述開關(guān)結(jié)構(gòu)中開關(guān)單元的狀態(tài)，導(dǎo)通與所述第二測試信號輸入端子電連接的測試信號傳輸線與其它的測試信號傳輸線，使得第二測試信號輸入端子輸入的測試信號能夠傳輸?shù)剿袦y試信號傳輸線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述開關(guān)結(jié)構(gòu)包括薄膜晶體管TFT。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括N根測試信號傳輸線，所述開關(guān)結(jié)構(gòu)包括N-1個薄膜晶體管，每一個薄膜晶體管的柵極與所述控制信號輸入端子連接，所述N大于或等于3。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括N根測試信號傳輸線，測試信號傳輸線依序排列，所述開關(guān)結(jié)構(gòu)包括N-1個薄膜晶體管，相鄰的測試信號傳輸線通過所述薄膜晶體管連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的陣列基板，其特征在于，所述測試信號傳輸線中，與所述第二測試信號輸入端子連接的第一測試信號傳輸線與每一條第二測試信號傳輸線通過所述薄膜晶體管連接，所述第二測試信號傳輸線為所述測試信號傳輸線中除第一測試信號傳輸線之外的測試信號傳輸線。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào)，上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的；用于上述操作的技術(shù)或工藝；變頻；非線性光學(xué)；光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置，例如，轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制；非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制，即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
