[發明專利]一種陣列基板

有效

• 申請號: 201310714840.X
• 申請日: 2013-12-20
• 公開（公告）號: CN103698915B
• 公開（公告）日: 2017-04-05
• 發明（設計）人: 黃式強;周紀登
• 申請（專利權）人: 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1333
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司11243
• 代理人: 許靜,黃燦

技術領域

本發明涉及顯示技術，特別是涉及一種陣列基板。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器TFT-LCD作為手機、Pad、筆記本電腦、顯示器及電視機等產品的顯示元件，在現今的生活中已變得不可或缺。

因此，現有的陣列基板中，為測試面板已經預先設置了不同的測試信號輸入端子。

如圖2所示，現有的陣列基板包括設置于陣列基板中的不同類型的數據線，如紅色、綠色和藍色亞像素對應的數據線；同時，與每一類數據線對應設置的，具有第一測試信號輸入端子的測試信號傳輸線（在圖2中，是以雙柵結構的陣列基板為例，第一測試信號輸入端子分別為DC、DM和DY，而對于單柵結構的陣列基板而言，測試信號傳輸線也是三條，第一測試信號輸入端子的標記相應為DR、DG和DB）。

由于二者對于數據線而言，僅僅是端子標記的不同，因此后續均以DC、DM和DY為例進行說明。

從數據線角度來看，在對面板進行單色測試時，如對紅色亞像素進行測試時，只需要向所有的紅色亞像素對應的數據線輸入信號即可，同理，對綠色亞像素進行測試時，只需要向所有的綠色亞像素對應的數據線輸入信號即可，對藍色亞像素進行測試時，只需要向所有的藍色亞像素對應的數據線輸入信號即可。

因此現有技術總，需要單獨測試紅色/綠色/藍色亞像素時，只需要通過DC/DM/DY輸入測試信號即可。

然而，對于液晶面板的測試，不僅僅包括上述的針對像素的點亮測試，還包括對液晶層雜質離子的測試就顯得尤為重要。

目前液晶層雜質離子的定量測試是在高溫條件下進行的。具體測試時，首先通過高溫治具向TFT-LCD面板中的連接柵極傳輸線的端子及連接數據信號傳輸線的端子DC、DM和DY施加測試信號，同時向連接公共電極的端子施加三角波電壓后，測量流入數據端子的電流。

因此，現有技術的對液晶層雜質離子的測試過程中，從數據線角度來看，需要3根探針，同時向DC、DM和DY施加測試信號。

而能夠在高溫條件下使用的探針價格昂貴，導致測試成本較高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種陣列基板，降低陣列基板進行雜質離子測試時的費用。

為了實現上述目的，本發明提供了一種陣列基板，包括：設置于陣列基板中的不同類型的數據線；

與每一類型數據線對應設置的，具有第一測試信號輸入端子的測試信號傳輸線；

所述陣列基板還包括：

開關結構，與所述測試信號傳輸線連接；

第二測試信號輸入端子，與所述測試信號傳輸線中的一條電連接；

控制信號輸入端子，與所述開關結構連接，用于輸出一個控制信號到所述開關結構，以通過所述控制信號控制所述開關結構中開關單元的狀態，導通與所述第二測試信號輸入端子電連接的測試信號傳輸線與其它的測試信號傳輸線，使得第二測試信號輸入端子輸入的測試信號能夠傳輸到所有測試信號傳輸線。

其中，上述的陣列基板，所述開關結構包括薄膜晶體管TFT。

其中，上述的陣列基板，所述陣列基板包括N根測試信號傳輸線，所述開關結構包括N-1個薄膜晶體管，每一個薄膜晶體管的柵極與所述控制信號輸入端子連接，所述N大于或等于3。

其中，上述的陣列基板，所述陣列基板包括N根測試信號傳輸線，測試信號傳輸線依序排列，所述開關結構包括N-1個薄膜晶體管，相鄰的測試信號傳輸線通過所述薄膜晶體管連接。

其中，上述的陣列基板，所述測試信號傳輸線中，與所述第二測試信號輸入端子連接的第一測試信號傳輸線與每一條第二測試信號傳輸線通過所述薄膜晶體管連接，所述第二測試信號傳輸線為所述測試信號傳輸線中除第一測試信號傳輸線之外的測試信號傳輸線。

本發明實施例具有以下有益效果：

本發明實施例的陣列基板，在測試信號傳輸線之間設置開關結構，由控制信號輸入端子輸出的控制信號控制開關結構中的開關單元的狀態，導通與所述第二測試信號輸入端子電連接的測試信號傳輸線與其它的測試信號傳輸線，使得第二測試信號輸入端子輸入的測試信號能夠傳輸到所有測試信號傳輸線。因此，對于測試信號而言，本發明實施例只需要兩根探針即可實現測試信號的輸入（一根用于輸入開關結構的控制信號，一根用于輸入測試信號），減少了昂貴的探針的使用，降低了測試成本。

同時，在本發明具體實施例中，所有數據線的測試信號都是來自同一個信號源，避免了輸入到不同數據線的信號的之間的差異導致的測試結果差異，提高了測試的準確度。

附圖說明

圖1為本發明實施例的第一結構示意圖；