[發明專利]像素缺陷檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201310713365.4
• 申請日: 2013-12-20
• 公開（公告）號: CN104732900A
• 公開（公告）日: 2015-06-24
• 發明（設計）人: 劉將;魏朝剛
• 申請（專利權）人: 昆山國顯光電有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01N21/89
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 唐清凱

1.一種像素缺陷檢測方法，其特征在于，包括如下步驟:

對待測基板進行視頻掃描；

抽取滿足預設條件的視頻幀圖片；

將所述視頻幀圖片與參考圖片進行配準獲取配準圖片；

將所述配準圖片與所述參考圖片進行對比分析確定缺陷像素。

2.如權利要求1所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，所述將所述配準圖片與所述參考圖片進行對比分析確定缺陷像素的步驟包括：

根據所述參考圖片中的采樣點確定所述配準圖片中的采樣區域；

將所述采樣區域與所述參考圖片中的對應區域進行對比，判斷所述采樣區域內是否有所述缺陷像素；

確定所述采樣區域的所述缺陷像素。

3.如權利要求2所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，在所述對待測基板進行視頻掃描的步驟前，還包括插入相應的濾波裝置的步驟。

4.如權利要求3所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，所述對待測基板進行視頻掃描具體為多次使用不同波長的濾波裝置重復的對所述待測基板進行視頻掃描。

5.如權利要求4所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，還包括獲取所述采樣區域像素的光譜曲線，然后根據所述光譜曲線的一致性判斷異常點的位置。

6.如權利要求2所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，將所述采樣區域的像素灰度與所述參考圖片中的對應區域的像素灰度的差值大于所述預設閾值的像素作為缺陷像素。

7.如權利要求1所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，所述抽取滿足預設條件的視頻幀圖片具體為等間隔抽取圖片之間的相關度在預設范圍的視頻幀圖片。

8.如權利要求1所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，所述對待測基板進行視頻掃描的模式為基板移動模式或相機移動模式。

9.如權利要求1所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，通過S型路徑勻速移動所述待測基板實現對所述待測基板進行視頻掃描。

10.如權利要求1至9中任一項所述的像素缺陷檢測方法，其特征在于，所述將所述視頻幀圖片與參考圖片進行配準獲取配準圖片的步驟包括：

計算所述視頻幀圖片與所述參考圖片之間的相關度；

將所述相關度最大值對應的所述視頻幀圖片和所述參考圖片相應部分對應起來作為配準圖片。