[發明專利]LED芯片制作方法無效
| 申請號: | 201310703714.4 | 申請日: | 2013-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN103633205A | 公開(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發明(設計)人: | 李忠武;魏天使;何金霞 | 申請(專利權)人: | 聚燦光電科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/02 | 分類號: | H01L33/02;H01L33/14;H01L21/027 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮 |
| 地址: | 215123 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | led 芯片 制作方法 | ||
技術領域
本發明涉及半導體發光器件技術領域,特別是涉及一種LED芯片制作方法。
背景技術
發光二極管(Light-Emitting?Diode,LED)是一種能發光的半導體電子元件。這種電子元件早在1962年出現,早期只能發出低光度的紅光,之后發展出其他單色光的版本,時至今日能發出的光已遍及可見光、紅外線及紫外線,光度也提高到相當的光度。而用途也由初時作為指示燈、顯示板等;隨著技術的不斷進步,發光二極管已被廣泛的應用于顯示器、電視機采光裝飾和照明。
現有LED芯片制作方法通常包括五道光刻、四道光刻或三道光刻,制程較為繁瑣,成本高。
五道光刻:包含CBL電流阻擋層,通常流程為:
1、MESA光刻:P/N臺階ICP刻蝕至N-GaN表面;
2、CBL光刻:P電極下方SiO2電流阻擋層;
3、TCL光刻:ITO透明導電層;
4、PAD光刻:P/N電極蒸發,剝離光刻膠層;
5、window光刻:SiO2保護層。
四道光刻:Window光刻SiO2保護層和PAD光刻P/N電極合成一道光刻,通常流程為:
1、MESA光刻:P/N臺階ICP刻蝕至N-GaN表面;
2、CBL光刻:P電極下方SiO2電流阻擋層;
3、TCL光刻:ITO透明導電層;
4、PAD光刻:SiO2保護層和P/N電極蒸發,剝離光刻膠層。
三道光刻:小尺寸芯片無CBL電流阻擋層,通常流程為:
1、MESA光刻:P/N臺階ICP刻蝕至N-GaN表面;
2、TCL光刻:ITO透明導電層;
3、PAD光刻:SiO2保護層和P/N電極蒸發,剝離光刻膠層。
現有技術上LED芯片制作流程復雜,且光刻道數多,制程反復經過同一站點(如勻膠、光刻、顯影、去膠等等),容易出現錯誤;并且會出現光刻步驟間的對位精度問題,工序多導致產品成本大;ITO與MESA間需要預留安全區域約4-5um,致使ITO有效面積變小,亮度偏低。
因此,針對上述技術問題,有必要提供一種新的LED芯片制作方法。
發明內容
有鑒于此,本發明的目的在于提供一種LED芯片制作方法,壓縮MESA和TCL光刻工藝為一道光刻工藝,即MESA光刻工藝,故不存在TCL光刻套刻MESA圖形出現的對位偏差問題,實現自對準功能。
為了實現上述目的,本發明實施例提供的技術方案如下:
一種LED芯片制作方法,所述方法包括以下步驟:
S1、提供一襯底,依次在襯底上制作N型半導體層、發光層和P型半導體層,形成LED晶圓;
S2、在LED晶圓上沉積ITO透明導電層;
S3、使用光刻膠對ITO透明導電層進行MESA光刻,在光刻膠層上形成MESA圖層;
S4、以MESA圖層為掩模對ITO透明導電層進行ITO刻蝕;
S5、以MESA圖層為掩模對LED晶圓進行ICP刻蝕,形成N型半導體臺面;
S6、去除MESA光刻后的光刻膠,露出下方的ITO透明導電層;
S7、在ITO透明導電層和N型半導體臺面上沉積鈍化層;
S8、使用光刻膠對鈍化層進行PAD光刻,在光刻膠層上形成PAD圖層;
S9、對PAD圖層進行鈍化層刻蝕,去除PAD圖層區域的鈍化層;
S10、在刻蝕掉的鈍化層上制作P電極和N電極;
S11、去除PAD光刻后的光刻膠。
作為本發明的進一步改進,所述步驟S2前還包括:
S01、在LED晶圓上沉積電流阻擋層;
S02、使用光刻膠對電流阻擋層進行CBL光刻,在光刻膠層上形成CBL圖層;
S03、對CBL圖層進行電流阻擋層刻蝕,形成與CBL圖層相對應的電流阻擋層;
S04、去除CBL光刻后的光刻膠。
作為本發明的進一步改進,所述步驟S3中的光刻膠為正膠,所述步驟S3具體為:
在ITO透明導電層上進行正膠勻膠,然后進行MESA圖層光刻,完成正膠曝光及顯影,而后沖水甩干,在光刻膠層上形成MESA圖層;
對形成的MESA圖層進行檢驗。
作為本發明的進一步改進,所述步驟S8中的光刻膠為負膠,所述步驟S8具體為:
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