[發(fā)明專利]電子元器件收納狀態(tài)的確認(rèn)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310692858.4
• 申請日: 2013-12-17
• 公開（公告）號: CN103863641A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 山本重俊;小林康弘
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社村田制作所
• 主分類號: B65D1/36
• 分類號: B65D1/36
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 張鑫

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及對設(shè)置于托盤的多個元器件收納部內(nèi)的電子元器件的收納狀態(tài)進(jìn)行確認(rèn)的方法。

背景技術(shù)

近年來，在移動通信終端等中多使用模塊元器件、屏蔽外殼、同軸電纜等各種電子元器件。

并且，對于這些電子元器件，會有以分別收納于設(shè)置在托盤上的元器件收納部（空腔：cavity）內(nèi)的狀態(tài)出貨的情況（參照專利文獻(xiàn)1，專利文獻(xiàn)2）。

由此，在產(chǎn)品以收納于托盤的元器件收納部的狀態(tài)進(jìn)行出貨的情況下，通常要求設(shè)置于托盤的元器件收納部中無遺漏的收納有電子元器件。

然而，例如，當(dāng)去除在不合格產(chǎn)品檢查中所檢查出的電子元器件（不合格產(chǎn)品），使得收納該電子元器件的元器件收納部變成空的狀態(tài)時(shí)，或者在發(fā)生遺漏收納等的情況下，盡管在空的元器件收納部內(nèi)收納了其他電子元器件之后再進(jìn)行出貨，但仍然會出現(xiàn)忽略了空的元器件收納部的存在，并在該狀態(tài)（所謂缺牙狀態(tài)）下（即，以數(shù)量不足的狀態(tài)）進(jìn)行出貨的情況。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本專利特開2007－30917號公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本專利特開2008－308192號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明所要解決的技術(shù)問題

這里，作為確認(rèn)托盤內(nèi)所收納的元器件是否存在數(shù)量不足的問題的方法，例如考慮下述方法，即，使用由具有透光性的材料形成的托盤來作為托盤，在元器件收納部內(nèi)收納有電子元器件的托盤的下方設(shè)置輔助托盤或輔助板，該輔助托盤或輔助板中在與元器件收納部相對應(yīng)的位置上粘貼有例如印刷了○印記的標(biāo)簽，這樣透過托盤的元器件收納部的底部，通過查看是否有上述標(biāo)簽的圓形標(biāo)記來確認(rèn)是否存在電子元器件（也就是說，可以獲知在觀察到圓形標(biāo)記的元器件收納部內(nèi)未收納電子元器件）。

但是，在這種方法中，可視性并不一定充分，會產(chǎn)生容易忽略數(shù)量不足，可靠性較低的問題。

因此，為了提高元器件收納部內(nèi)電子元器件的收納狀態(tài)的檢測精度，還考慮了下述方法等，即在產(chǎn)品位置上配置反射型光電傳感器，在檢測出空的元器件收納部的情況下，通過蜂鳴器的報(bào)警音或燈泡的點(diǎn)亮等來通知數(shù)量不足，但是在采用這種結(jié)構(gòu)的情況下，不只裝置結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜，還帶來成本增加的問題。

本發(fā)明的目的在于解決上述技術(shù)問題，提供一種可以高精度的確認(rèn)形成在托盤上的多個元器件收納部內(nèi)是否收納有電子元器件（電子元器件的收納狀態(tài)），并且不需要復(fù)雜結(jié)構(gòu)的設(shè)備，經(jīng)濟(jì)性優(yōu)良的電子元器件的收納狀態(tài)的確認(rèn)方法。

解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案

為了解決上述問題，本發(fā)明的另一種電子元器件收納狀態(tài)的確認(rèn)方法是對設(shè)置有多個用于收納電子元器件的元器件收納部的托盤的、所述元器件收納部內(nèi)所述電子元器件的收納狀態(tài)進(jìn)行確認(rèn)的方法，其特征在于，

使用由具有透光性的材料形成的托盤來作為所述托盤，

在所述托盤的下表面?zhèn)扰渲糜杏删哂姓诠庑缘牟牧闲纬桑┮晻r(shí)在與所述托盤的各元器件收納部的配置位置相對應(yīng)的位置上設(shè)有貫通孔的輔助基板，以使得所述貫通孔的位置與所述托盤的所述元器件收納部內(nèi)應(yīng)收納的所述電子元器件的放置區(qū)域的至少一部分重合，

從配置在所述輔助基板的下表面?zhèn)鹊墓庠聪蛩鲚o助基板照射光，通過從所述托盤的上表面?zhèn)葯z測出通過所述貫通孔，且透過所述托盤而到達(dá)所述托盤的上表面?zhèn)鹊墓猓瑏碜R別所述元器件收納部內(nèi)是否收納有所述電子元器件。

此外，在本發(fā)明的另一種電子元器件收納狀態(tài)的確認(rèn)方法中，優(yōu)選為在所述托盤的各元器件收納部中與所述輔助基板的所述貫通孔相對應(yīng)的位置設(shè)有貫通孔。

通過使用在各元器件收納部與輔助基板的貫通孔相對應(yīng)的位置上設(shè)有貫通孔的托盤，對于未收納電子元器件的元器件收納部，可以從托盤的上表面?zhèn)葯z測出更充足的通過光，從而能夠提高收納狀態(tài)的確認(rèn)的可靠性。

此外，優(yōu)選所述光源是構(gòu)成為能夠同時(shí)對設(shè)置于所述輔助基板的多個所述貫通孔分別照射光，且在該光源上配置所述輔助基板的面為平面狀的光源。

通過具有上述結(jié)構(gòu)，可以同時(shí)對形成于輔助基板的各貫通孔分別照射光，從而能夠高效的確認(rèn)元器件收納部內(nèi)電子元器件的收納狀態(tài)。

此外，本發(fā)明的另一種電子元器件收納狀態(tài)的確認(rèn)方法是對設(shè)置有多個用于收納電子元器件的元器件收納部的托盤的、所述元器件收納部內(nèi)電子元器件的收納狀態(tài)進(jìn)行確認(rèn)的方法，其特征在于，

作為所述托盤，使用由具有遮光性的材料形成，且設(shè)有貫通孔的托盤，以使得貫通孔位于各個所述元器件收納部內(nèi)應(yīng)收納的所述電子元器件的放置區(qū)域中的至少一部分，