[發明專利]電子元器件收納狀態的確認方法

在審

• 申請號: 201310692858.4
• 申請日: 2013-12-17
• 公開（公告）號: CN103863641A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 山本重俊;小林康弘
• 申請（專利權）人: 株式會社村田制作所
• 主分類號: B65D1/36
• 分類號: B65D1/36
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 張鑫

1.一種電子元器件收納狀態的確認方法，該方法是對配置有多個用于收納電子元器件的元器件收納部的托盤的、所述元器件收納部內所述電子元器件的收納狀態進行確認的方法，其特征在于，

使用由具有透光性的材料形成的托盤來作為所述托盤，

在所述托盤的下表面側配置有由具有遮光性的材料形成，俯視時在與所述托盤的各元器件收納部的配置位置相對應的位置上設有貫通孔的輔助基板，以使得所述貫通孔的位置與所述托盤的所述元器件收納部內應收納的所述電子元器件的放置區域的至少一部分重合，

從配置在所述輔助基板的下表面側的光源向所述輔助基板照射光，通過從所述托盤的上表面側檢測出通過所述貫通孔，且透過所述托盤而到達所述托盤的上表面側的光，來識別所述元器件收納部內是否收納有所述電子元器件。

2.如權利要求1所述的電子元器件收納狀態的確認方法，其特征在于，

在所述托盤的各元器件收納部中與所述輔助基板的所述貫通孔相對應的位置上設有貫通孔。

3.如權利要求1或2所述的電子元器件收納狀態的確認方法，其特征在于，

所述光源是構成為能夠同時對設置于所述輔助基板的多個所述貫通孔分別照射光，且在該光源上配置所述輔助基板的面為平面狀的光源。

4.一種電子元器件收納狀態的確認方法，該方法是對配置有多個用于收納電子元器件的元器件收納部的托盤的、所述元器件收納部內電子元器件的收納狀態進行確認的方法，其特征在于，

作為所述托盤，使用由具有遮光性的材料形成，且設有貫通孔的托盤，以使得貫通孔位于各個所述元器件收納部內分別應收納的所述電子元器件的放置區域中的至少一部分，

從配置在所述托盤的下表面側的光源向所述托盤照射光，通過從所述托盤的上表面側檢測出通過所述貫通孔，而到達所述托盤的上表面側的光，來識別所述元器件收納部內是否收納有所述電子元器件。

5.如權利要求4所述的電子元器件收納狀態的確認方法，其特征在于，

所述光源是構成為能夠同時對配置于所述托盤的多個所述元器件收納部上所設置的所述貫通孔分別照射光，且在該光源上配置所述托盤的面為平面狀的光源。