[發(fā)明專利]用于檢測缺陷像素的設(shè)備和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310681177.8 | 申請日： | 2013-12-12 |
| 公開（公告）號： | CN103888690B | 公開（公告）日： | 2018-08-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 平野真理子 | 申請（專利權(quán)）人： | 韓華泰科株式會社 |
| 主分類號： | H04N5/367 | 分類號： | H04N5/367 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人： | 王兆賡;李云霞 |
| 地址： | 韓國慶尚*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢測 缺陷 像素 設(shè)備 方法 | ||
公開了一種用于檢測缺陷像素的設(shè)備和方法。所述設(shè)備包括：計算器，計算包括圍繞目標(biāo)像素并排列在多個預(yù)定方向中的一個方向上的鄰近像素的鄰近像素組的像素值的梯度；識別單元，從所述多個預(yù)定方向之中識別由計算器計算的梯度最小的方向；確定器，基于目標(biāo)像素的像素值和包括在鄰近像素組中的鄰近像素的像素值之間的差，確定目標(biāo)像素是否為缺陷像素，所述鄰近像素在由識別單元識別的方向上與目標(biāo)像素顏色相同并與目標(biāo)像素相鄰。
本申請要求于2012年12月19日提交到日本專利局的第2012-0277230號日本專利申請以及于2013年08月28日提交到韓國知識產(chǎn)權(quán)局的第10-2013-0102660號韓國專利申請的權(quán)益，其公開完整地包含于此，以資參考。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的一個或更多個實施例涉及一種用于檢測缺陷像素的設(shè)備和方法，其可應(yīng)用于四個不同的濾色鏡被分配到每個2×2像素陣列的成像裝置。
背景技術(shù)
成像裝置，諸如電荷耦合裝置（CCD）或互補金屬氧化物半導(dǎo)體圖像傳感器（CIS），不可避免地導(dǎo)致缺陷像素。
對于由制造工藝造成的像素缺陷，當(dāng)像素缺陷被轉(zhuǎn)發(fā)給工廠出貨時成像裝置記住缺陷的位置信息，以在執(zhí)行拍攝時基于缺陷的位置信息校正缺陷。除此之外，當(dāng)執(zhí)行拍攝時，成像裝置動態(tài)地檢測和校正發(fā)生在已制成的成像裝置中的像素缺陷。
作為確定捕獲到的圖像的目標(biāo)像素是否為缺陷像素的技術(shù)，比較目標(biāo)像素的像素值和具有與目標(biāo)像素相同顏色的相鄰像素的像素值的方法，以確定目標(biāo)像素是否為孤立像素。然而，如果缺陷像素存在于捕獲到的圖像的三行之上或周圍，則很難利用具有與目標(biāo)像素相同顏色的相鄰像素來檢測缺陷像素。因此，如專利文件1中所公開，拜耳排列（Bayerarrangement）的成像裝置通過使用以格子圖案排列在目標(biāo)像素周圍的綠色(G)像素來檢測邊緣方向并基于在邊緣方向上相鄰于目標(biāo)像素的綠色(G)像素的像素信息來確定目標(biāo)像素是否為缺陷像素，以改善檢測性能。
【現(xiàn)有技術(shù)文件1】日本公開號為2008-154276的專利文件
發(fā)明內(nèi)容
然而，對于其中以每個2×2像素周期排列的四個不同的濾色鏡的成像裝置而言，不存在適合檢測類似于拜耳排列的G像素的邊緣方向的像素。同樣，很難通過使用具有與目標(biāo)像素相同顏色的相鄰像素檢測存在于捕獲到的圖像的三行之上或周圍的缺陷像素。
本發(fā)明的一個或更多個實施例包括用于檢測缺陷像素的設(shè)備和方法，通過所述設(shè)備和方法，四個不同的濾色鏡以每個2×2像素周期被分配的成像裝置基于多個彩色像素確定存在于捕獲到的圖像的三行之上或周圍的缺陷像素。
其他方面將在隨后的描述中部分地闡述，并且部分地從描述中將是明顯的，或可通過提出的實施例的實踐得知。
根據(jù)本發(fā)明的一個或更多個實施例，一種用于檢測缺陷像素的設(shè)備，包括：計算器，計算包括圍繞目標(biāo)像素并排列在多個預(yù)定方向中的一個方向上的鄰近像素的鄰近像素組的像素值的梯度；識別單元，從所述多個預(yù)定方向之中識別由計算器計算的梯度最小的方向；確定器，基于目標(biāo)像素的像素值和包括在鄰近像素組中的鄰近像素的像素值之間的差，確定目標(biāo)像素是否為缺陷像素，所述鄰近像素在由識別單元識別的方向上與目標(biāo)像素顏色相同并與目標(biāo)像素相鄰。
鄰近像素組可包括在由識別單元識別的方向上與目標(biāo)像素顏色相同并與目標(biāo)像素相鄰的鄰近像素。
計算器可基于針對在預(yù)定的方向上與目標(biāo)像素相鄰的鄰近像素組的彩色像素的組合分別計算的像素值之間的差來計算梯度。
如果目標(biāo)像素的像素值在由識別單元識別的方向上與目標(biāo)像素相鄰的兩個相同顏色的相鄰像素的像素值之間的相對大小關(guān)系相同，并且目標(biāo)像素的像素值和所述兩個相同顏色的相鄰像素的像素值之間的所有差均大于閾值，則確定器可確定目標(biāo)像素是缺陷像素。
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