[發(fā)明專利]用于檢測缺陷像素的設備和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310681177.8 | 申請日： | 2013-12-12 |
| 公開（公告）號： | CN103888690B | 公開（公告）日： | 2018-08-03 |
| 發(fā)明（設計）人： | 平野真理子 | 申請（專利權）人： | 韓華泰科株式會社 |
| 主分類號： | H04N5/367 | 分類號： | H04N5/367 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產(chǎn)權代理有限公司 11286 | 代理人： | 王兆賡;李云霞 |
| 地址： | 韓國慶尚*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 檢測 缺陷 像素 設備 方法 | ||
1.一種用于檢測缺陷像素的設備，所述設備包括：
計算器，計算包括圍繞目標像素并排列在多個預定方向中的一個方向上的鄰近像素的鄰近像素組的像素值的梯度；
識別單元，從所述多個預定方向之中識別由計算器計算的梯度最小的方向；以及
確定器，基于目標像素的像素值和包括在鄰近像素組中的在由識別單元識別的方向上與目標像素相鄰且與目標像素顏色相同的第一鄰近像素的像素值之間的差，確定目標像素是否為缺陷像素，
其中，計算器基于針對在預定的方向上與目標像素相鄰的鄰近像素組的彩色像素的組合分別計算的像素值之間的差來計算梯度。
2.根據(jù)權利要求1所述的設備，其中，如果目標像素的像素值和在由識別單元識別的方向上與目標像素相鄰且與目標像素顏色相同的兩個相鄰像素的像素值之間的相對大小關系相同，并且目標像素的像素值和所述兩個相鄰像素的像素值之間的所有差均大于閾值，則確定器確定目標像素是缺陷像素。
3.根據(jù)權利要求1所述的設備，所述設備還包括：
校正器，校正目標像素的像素值，
其中，如果確定器確定目標像素是缺陷像素，則校正器基于鄰近像素的像素值校正目標像素的像素值。
4.根據(jù)權利要求3所述的設備，其中，校正器基于鄰近像素組中的在由識別單元識別的方向上與目標像素相鄰且與目標像素顏色相同的第一鄰近像素的像素值，來校正目標像素的像素值。
5.根據(jù)權利要求1所述的設備，其中，目標像素和鄰近像素是形成通過成像裝置輸出的圖像的像素，其中，四個不同的濾色鏡以每個2×2像素陣列的矩陣排列在圖像上。
6.一種檢測缺陷像素的方法，所述方法包括：
計算包括圍繞目標像素并排列在多個預定方向中的一個方向上的鄰近像素的鄰近像素組的像素值的梯度；
從所述多個預定方向之中識別計算的梯度最小的方向；以及
基于目標像素的像素值和包括在鄰近像素組中的在識別的方向上與目標像素相鄰且與目標像素顏色相同的第一鄰近像素的像素值之間的差，確定目標像素是否為缺陷像素，
其中，基于針對在預定方向上與目標像素相鄰的鄰近像素組的彩色像素的組合分別計算的像素值之間的差，來計算所述梯度。
7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其中，如果目標像素的像素值和在識別的方向上與目標像素相鄰且與目標像素顏色相同的兩個相鄰像素的像素值之間的相對大小關系相同，并且目標像素的像素值和兩個相同顏色的相鄰像素的像素值之間的所有差均大于閾值，則將目標像素確定為缺陷像素。
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