[發(fā)明專利]一種使用雙頻激光的三維光柵位移測量系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310674590.1 | 申請日: | 2013-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN103644848A | 公開(公告)日: | 2014-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林杰;關(guān)健;金鵬;譚久彬 | 申請(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市偉晨專利代理事務(wù)所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 張偉 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 使用 雙頻 激光 三維光柵 位移 測量 系統(tǒng) | ||
1.一種使用雙頻激光的三維光柵位移測量系統(tǒng),其特征在于:包括出射端接光纖的雙頻激光器(1)、分光部件(2)、偏振分光棱鏡(31)、測量臂四分之一波片(32)、測量臂折光元件(33)、參考臂四分之一波片(34)、參考臂折光元件(35)、二維反射式參考光柵(36)、光電探測及信號處理部件(4)和二維反射式測量光柵(5);
所述二維反射式測量光柵(5)的x方向周期和y方向周期均為d1,二維反射式參考光柵(36)的x方向周期和y方向周期均為d2;所述測量臂折光元件(33)的x方向折光角度和y方向折光角度均為θi1,參考臂折光元件(35)的x方向折光角度和y方向折光角度均為θi2,且分別滿足2d1sinθi1=±m(xù)λ1、2d2sinθi2=±m(xù)λ2,式中λ1、λ2分別為出射端接光纖的雙頻激光器(1)射出的兩個(gè)頻率光波的波長、m為衍射級次;
所述出射端接光纖的雙頻激光器(1)射出的雙頻激光經(jīng)過分光部件(2)分成四束光強(qiáng)相等的平行光,其中兩束光的傳播方向與xoy平面平行、另兩束光的傳播方向與xoz平面平行,這四束平行光經(jīng)過偏振分光棱鏡(31)后分為傳播方向偏轉(zhuǎn)90度的波長為λ1的測量光和沿原方向傳播的波長為λ2的參考光,測量光的偏振方向與參考光的偏振方向垂直;
測量光的四束平行光經(jīng)過快軸方向與測量光偏振方向呈45度的測量臂四分之一波片(32)后,均被測量臂折光元件(33)偏折,偏折后的四束測量光中兩束光的傳播方向平行于yoz平面、另兩束光的傳播方向平行于xoz平面,傳播方向平行于yoz平面的兩束測量光入射至二維反射式測量光柵(5)并分別被衍射為y方向的+m級衍射測量光和-m級衍射測量光,傳播方向平行于xoz平面的兩束測量光入射至二維反射式測量光柵(5)并分別被衍射為x方向的+m級衍射測量光和-m級衍射測量光,四束衍射測量光分別沿各自入射光傳播方向的反方向傳播,并再次經(jīng)過測量臂折光元件(33)、測量臂四分之一波片(32)和偏振分光棱鏡(31)后,入射至光電探測及信號處理部件(4);
參考光的四束平行光經(jīng)過快軸方向與參考光偏振方向呈45度的參考臂四分之一波片(34)后,均被參考臂折光元件(35)偏折,偏折后的四束參考光中兩束光的傳播方向平行于xoy平面、另兩束光的傳播方向平行于xoz平面,傳播方向平行于xoy平面的兩束參考光入射至二維反射式參考光柵(36)并分別被衍射為y方向的+m級衍射參考光和-m級衍射參考光,傳播方向平行于xoz平面的兩束參考光入射至二維反射式參考光柵(36)并分別被衍射為x方向的+m級衍射參考光和-m級衍射參考光,四束衍射參考光分別沿各自入射光傳播方向的反方向傳播,并再次經(jīng)過參考臂折光元件(35)、參考臂四分之一波片(34)和偏振分光棱鏡(31)后,入射至光電探測及信號處理部件(4);
x方向的兩束衍射測量光和x方向的兩束衍射參考光在光電探測及信號處理部件(4)表面形成兩組干涉拍頻信號,y方向的兩束衍射測量光和y方向的兩束衍射參考光在光電探測及信號處理部件(4)表面形成另兩組干涉拍頻信號;當(dāng)其他元件不動(dòng)、二維反射式測量光柵(5)沿x軸、y軸和z軸運(yùn)動(dòng)時(shí),光電探測及信號處理部件(4)分別輸出x方向、y方向和z方向的直線位移。
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