1.一種測試電路，包括：

測試器，其被配置為執(zhí)行包括用于測試電子電路的多個測試命令的測試?yán)蹋渲校瑴y試器包括檢查器，所述檢查器被配置為針對要執(zhí)行的多個測試命令中的每個在測試命令的每個執(zhí)行之前檢查當(dāng)前是否存在其中執(zhí)行測試命令可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)，并且被配置為在其確定當(dāng)前存在其中執(zhí)行測試命令可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)的情況下輸出指示執(zhí)行測試?yán)炭赡軐?dǎo)致電子電路的損壞的信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，測試器還包括控制器，所述控制器被配置為響應(yīng)于所述信號而停止執(zhí)行測試命令。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，測試器還包括報告生成器，所述報告生成器被配置為生成關(guān)于測試?yán)痰膱?zhí)行的報告，并且被配置為響應(yīng)于所述信號而將測試命令曾要在其中執(zhí)行測試命令可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)中執(zhí)行的指示包括在報告中。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，所述狀態(tài)是測試電路的狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，測試電路包括被配置為生成用于電子電路的測試信號的功率儀和用于將功率儀與電子電路對接的設(shè)備接口板。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，所述狀態(tài)是包括測試電路和電子電路的布置的狀態(tài)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，所述狀態(tài)是測試電路的開關(guān)的狀態(tài)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，所述狀態(tài)是測試電路的一個或多個繼電器的狀態(tài)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試電路，其中，所述狀態(tài)包括測試電路的繼電器是斷開的還是閉合的。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試電路，其中，所述狀態(tài)包括測試電路的繼電器是否處于穩(wěn)定狀態(tài)。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，檢查器被配置為在執(zhí)行測試命令之前檢查當(dāng)前是否存在其中執(zhí)行測試命令可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中，多個測試命令是測試?yán)痰乃袦y試命令中滿足測試?yán)痰乃袦y試命令中的預(yù)定準(zhǔn)則的那些測試命令。

13.一種用于處理包括用于測試電子電路的多個測試命令的測試?yán)痰姆椒ǎ龇椒òǎ?/p>

針對多個測試命令中的每個測試命令確定測試命令是否滿足預(yù)定準(zhǔn)則；以及

向多個測試命令中滿足預(yù)定準(zhǔn)則的每個測試命令補充檢查命令，所述檢查命令在測試命令的每個執(zhí)行之前檢查執(zhí)行測試命令是否可能導(dǎo)致電子電路的損壞，并且在其確定當(dāng)前存在其中執(zhí)行測試命令可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)的情況下輸出指示執(zhí)行測試?yán)炭赡軐?dǎo)致電子電路的損壞的信號。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中，補充測試命令包括用其中向測試命令補充了檢查命令的庫來替換包括測試命令的庫。

15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中，測試命令包括控制動作，并且補充后的測試命令包括在執(zhí)行控制動作之前執(zhí)行檢查。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，控制動作是斷開或閉合開關(guān)。

17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，控制動作是斷開或閉合繼電器。

18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中，預(yù)定準(zhǔn)則是執(zhí)行測試命令可能在某個狀態(tài)下導(dǎo)致電子電路的損壞。