[發(fā)明專利]測試電路和用于處理測試例程的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310664182.8
• 申請日: 2013-12-10
• 公開（公告）號: CN103870389B
• 公開（公告）日: 2017-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: B.默斯勒;A.奧斯特洛
• 申請（專利權(quán)）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G01R31/28
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 王岳,馬永利

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及測試電路和用于處理測試例程的方法。

背景技術(shù)

電子電路通常在制造之后在將它們交付給客戶之前被測試。因為在此類測試過程中通常向要測試的電子電路應(yīng)用電測試信號，所以存在如果未適當?shù)貙嵭袦y試過程，例如在測試信號中存在電壓峰值，則電子電路在測試中受損壞的風(fēng)險。期望對此予以避免。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)一個實施例，提供了一種測試電路，包括：測試器，其被配置為執(zhí)行包括用于測試電子電路的多個測試命令的測試例程，其中，測試器包括檢查器，所述檢查器被配置為如果要執(zhí)行多個測試命令中的測試命令則檢查當前是否存在其中執(zhí)行測試命令可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)，并且被配置為在其確定當前存在其中執(zhí)行測試例程可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)的情況下輸出指示執(zhí)行測試例程可能導(dǎo)致電子電路的損壞的信號。

根據(jù)進一步的實施例，提供了一種用于處理包括用于測試電子電路的多個測試命令的測試例程的方法，所述方法包括針對多個測試命令中的每個測試命令確定測試命令是否滿足預(yù)定準則，以及向多個測試命令中滿足預(yù)定準則的每個測試命令補充檢查命令，所述檢查命令檢查執(zhí)行測試命令是否可能導(dǎo)致電子電路的損壞，并且在其確定當前存在其中執(zhí)行測試例程可能導(dǎo)致電子電路的損壞的狀態(tài)的情況下輸出指示執(zhí)行測試例程可能導(dǎo)致電子電路的損壞的信號。

附圖說明

在附圖中，同樣的參考字符一般貫穿不同視圖指代相同的部分。這些圖不一定是按比例的，代之以一般著重于圖示本發(fā)明的原理。在以下描述中，參照附圖來描述各個方面，其中：

圖1示出測試電路。

圖2示出流程圖。

圖3示出測試布置。

圖4示出測試布置。

圖5示出Excel程序窗口。

圖6示出第一對象結(jié)構(gòu)和第二對象結(jié)構(gòu)。

圖7示出Excel屏幕。

圖8示出用戶接口。

圖9示出選項屏幕。

圖10示出報告頭部。

圖11示出模塊配置段。

圖12示出出現(xiàn)段。

圖13示出示波器輸出。

圖14示出示波器輸出。

圖15示出示波器輸出。

具體實施方式

以下詳細描述參照附圖，附圖通過圖示的方式示出其中可以實踐本發(fā)明的本公開的具體細節(jié)和方面。足夠詳細地描述了本公開的這些方面以使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)嵺`本發(fā)明。可以使用本公開的其他方面，并且可以在不偏離本發(fā)明的范圍的情況下做出結(jié)構(gòu)、邏輯和電氣改變。本公開的各個方面并不一定是互斥的，因為本公開的一些方面可以與本公開的一個或多個其他方面進行組合以形成新的方面。

根據(jù)一個實施例，自動定位用于測試電子電路的測試例程（也稱為測試程序）的（例如，由于編程錯誤）導(dǎo)致不期望的硬件條件的部分。此類條件可以與測試工程師使用的硬件（例如，使用的設(shè)備接口板（DIB））組合出現(xiàn)。取代信任測試例程的作者應(yīng)用了足夠的編程技術(shù)和編程指南（如果可獲得的話），這允許測試例程在不期望的硬件條件（例如，（潛在地）引起對要測試的電路的損壞的條件）方面的驗證，而不用例如借助于示波器通過大量努力來手動檢查測試信號。

可以以這種方式處理或使用的測試例程例如是用像Teradyne的IGXL這樣的測試程序開發(fā)編程語言編寫的測試例程。例如，根據(jù)一個實施例，使用基于IGXL編程語言的硬件接口的覆蓋（overlay）技術(shù)。這允許在測試命令（例如，這樣的測試命令：這些測試命令的執(zhí)行例如依賴于它們被啟動的硬件狀態(tài)可能導(dǎo)致要測試的電路的損壞）的啟動之前和/或也在測試命令的執(zhí)行之后引入檢查點。該方式還允許例如通過引入附加檢查點和檢查方法來擴展檢查過程以增加測試例程（在避免電路損壞方面）的安全性。

例如，根據(jù)一個實施例，檢查器（例如，檢查程序）在可能的危險條件（例如，針對其中在執(zhí)行某個測試命令的情況下危險條件可能出現(xiàn)的狀態(tài)）的方面檢查測試例程的程序代碼，所述危險條件例如由切換設(shè)備接口板（DIB）上的繼電器引起，并且在所述危險條件中例如存在功率儀（例如，F(xiàn)lex DC90）的開環(huán)條件。功率儀可以例如與DIB的一個或多個繼電器相關(guān)聯(lián)，也即它經(jīng)由其而連接到要測試的電子電路（被測設(shè)備（DUT））的那個或那些繼電器。

硬件建模允許與測試硬件（例如，DIB）組合來檢查測試例程。