[發明專利]光探測器、X射線檢測裝置和計算機化斷層掃描設備在審
| 申請號: | 201310661115.0 | 申請日: | 2013-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN104688255A | 公開(公告)日: | 2015-06-10 |
| 發明(設計)人: | 曹蹊渺;黎淼;王學禮;牛軍;謝強 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 葉曉勇;劉春元 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 探測器 射線 檢測 裝置 計算機化 斷層 掃描 設備 | ||
1.一種光探測器,包括:
第一轉換單元,被構造為將入射到第一轉換單元的第一光轉換為第二光;
第二轉換單元,被構造為將從第一轉換單元入射到第二轉換單元的第二光轉換為電信號;
框架,被構造為容納第一轉換單元和第二轉換單元;
屏蔽構件,設置在第一轉換單元和第二轉換單元與框架之間,并被構造為阻擋穿過第一轉換單元和第二轉換單元的第一光到達框架。
2.如權利要求1所述的光探測器,其中,第一光是X射線,第一轉換單元包括將X射線轉換為作為第二光的可見光的閃爍體。
3.如權利要求1所述的光探測器,其中,第二轉換單元包括電荷耦合器件和互補金屬氧化物半導體器件中的至少一種。
4.如權利要求1所述的光探測器,其中,框架包括印刷電路板。
5.如權利要求1所述的光探測器,其中,屏蔽構件包括設置在第一轉換單元和第二轉換單元與框架之間的屏蔽板和形成在框架的面向第一轉換單元和第二轉換單元的表面上的屏蔽層中的至少一種。
6.如權利要求5所述的光探測器,其中,屏蔽板包括鉛、鎢和硫酸鋇中的至少一種。
7.如權利要求5所述的光探測器,其中,屏蔽板包括彼此堆疊的多個層,其中,所述多個層中的至少一層包括鉛、鎢和硫酸鋇中的至少一種。
8.如權利要求5所述的光探測器,其中,屏蔽層包括鉛、鎢和硫酸鋇中的至少一種。
9.如權利要求5所述的光探測器,其中,屏蔽層包括彼此堆疊的多個層,其中,所述多個層中的至少一層包括鉛、鎢和硫酸鋇中的至少一種。
10.如權利要求1所述的光探測器,其中,所述光探測器還包括:
準直器,設置在第一光入射到第一轉換單元所沿的光路上。
11.一種X射線檢測裝置,包括:
如權利要求1所述的光探測器,接收作為第一光的X射線并將接收的X射線轉換為電信號。
12.一種計算機化斷層掃描設備,包括:
X射線產生裝置,產生X射線;
X射線檢測裝置,包括如權利要求1所述的光探測器,所述光探測器接收作為第一光的由X射線產生裝置產生的X射線,并將接收的X射線轉換為電信號。
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