[發明專利]光探測器、X射線檢測裝置和計算機化斷層掃描設備

在審

• 申請號: 201310661115.0
• 申請日: 2013-12-09
• 公開（公告）號: CN104688255A
• 公開（公告）日: 2015-06-10
• 發明（設計）人: 曹蹊渺;黎淼;王學禮;牛軍;謝強
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 葉曉勇;劉春元

技術領域

本發明通常涉及計算機化斷層掃描（CT）技術領域，更具體地講，涉及一種光探測器、X射線檢測裝置和計算機化斷層掃描設備。

背景技術

計算機化斷層掃描（CT）設備通過向目標對象發射X射線并將穿過目標對象的X射線轉換成電信號，來得到目標對象的掃描圖像。CT設備通常包括產生X射線的X射線產生裝置以及接收穿過包括穿過目標對象的X射線并將接收的X射線轉換成電信號的X射線檢測裝置。

X射線檢測裝置包括光探測器。光探測器包括將X射線轉換成可見光的光-光轉換器和將光-光轉換器轉換的可見光轉換成電信號的光-電轉換器。此外，光探測器還包括容納光-光轉換器和光-電轉換器的框架。

入射到光-光轉換器的X射線可以被稱為前散射（front?scatter）X射線。光-光轉換器將前散射X射線轉換為可見光，光-電轉換器將這樣的可見光轉換為電信號，從而得到掃描圖像。

然而，光-光轉換器可能不能將全部的前散射X射線轉換為可見光。例如，入射到光-光轉換器的X射線（即，前散射X射線）中的一部分可能穿透光-光轉換器并傳播到框架，并可能因此被框架反射并再次入射到光-光轉換器。這樣的被框架反射到光-光轉換器的X射線被稱為后散射（back?scatter）X射線。因入射到光-光轉換器的后散射X射線而使光-光轉換器產生的可見光也將被光-電轉換器轉換為電信號。因此，得到的掃圖像將包括因后散射X射線而產生的電信號和因前散射X射線而產生的電信號。因此，這樣的因后散射X射線而產生的電信號將導致掃描圖像中的偽像，從而使掃描圖像的質量劣化。

因此，需要一種能夠減少或防止后散射的光探測器。

發明內容

本發明的示例性實施例的目的在于克服現有技術中的上述的和/或其他的問題。因此，本發明的示例性實施例提供了一種能夠減少或防止后散射的光探測器、X射線檢測裝置和計算機化斷層掃描（CT）設備。

根據示例性實施例，一種光探測器包括：第一轉換單元，被構造為將入射到第一轉換單元的第一光轉換為第二光；第二轉換單元，被構造為將從第一轉換單元入射到第二轉換單元的第二光轉換為電信號；框架，被構造為容納第一轉換單元和第二轉換單元；屏蔽構件，設置在第一轉換單元和第二轉換單元與框架之間，并被構造為阻擋穿過第一轉換單元和第二轉換單元的第一光到達框架。

根據另一示例性實施例，一種X射線檢測裝置包括如上所述的接收作為第一光的X射線并將接收的X射線轉換為電信號的光探測器。

根據再一示例性實施例，一種計算機化斷層掃描設備包括：X射線產生裝置，產生X射線；X射線檢測裝置，包括如上所述的光探測器，所述光探測器接收作為第一光的由X射線產生裝置產生的X射線，并將接收的X射線轉換為電信號。

通過下面的詳細描述、附圖以及權利要求，其他特征和方面會變得清楚。

附圖說明

通過結合附圖對于本發明的示例性實施例進行描述，可以更好地理解本發明，在附圖中：

圖1是示出根據示例性實施例的光探測器的示圖；

圖2是示出現有的光探測器的散射曲線圖；

圖3和圖4是示出根據示例性實施例的散射曲線圖；

圖5是示出現有的光探測器得到的掃描圖像的示圖；

圖6是示出根據示例性實施例的光探測器得到的掃描圖像的示圖；

圖7是示出根據另一示例性實施例的光探測器的示圖；

圖8是示出根據再一示例性實施例的光探測器的示圖；

圖9是示出根據示例性實施例的X射線檢測裝置的照片的示圖；

圖10是示出根據根據示例性實施例的計算機化斷層掃描（CT）設備的示意圖。

具體實施方式

以下將描述本發明的具體實施方式，需要指出的是，在這些實施方式的具體描述過程中，為了進行簡明扼要的描述，本說明書不可能對實際的實施方式的所有特征均作詳盡的描述。應當可以理解的是，在任意一種實施方式的實際實施過程中，正如在任意一個工程項目或者設計項目的過程中，為了實現開發者的具體目標，為了滿足系統相關的或者商業相關的限制，常常會做出各種各樣的具體決策，而這也會從一種實施方式到另一種實施方式之間發生改變。此外，還可以理解的是，雖然這種開發過程中所作出的努力可能是復雜并且冗長的，然而對于與本發明公開的內容相關的本領域的普通技術人員而言，在本公開揭露的技術內容的基礎上進行的一些設計，制造或者生產等變更只是常規的技術手段，不應當理解為本公開的內容不充分。