[發(fā)明專利]一種校驗質(zhì)量流量控制器的裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310638823.2 | 申請日: | 2013-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN104678985B | 公開(公告)日: | 2018-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳嘯;胡錫峰;毛偉晨 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華潤華晶微電子有限公司 |
| 主分類號: | G05B23/02 | 分類號: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 214028 江蘇省無錫市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 校驗 質(zhì)量 流量 控制器 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種校驗質(zhì)量流量控制器的裝置及方法,所述裝置包括:標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器組、被校驗質(zhì)量流量控制器、第一傳感器、第二傳感器、處理器和氣動閥組;標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器組包括至少兩個標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,第一傳感器讀取氣體流經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器的第一參數(shù);第二傳感器讀取氣體流經(jīng)被校驗質(zhì)量流量控制器的第二參數(shù);處理器選擇標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,并判斷被校驗質(zhì)量流量控制器是否合格;氣動閥組包括第一氣動閥,還包括第二氣動閥和第三氣動閥。通過本發(fā)明公開的裝置及方法,能夠依據(jù)被校驗質(zhì)量流量控制器的量程自動選擇與之相對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,不再需要頻繁的拆裝標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,提高了校準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器的效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及微電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種校驗質(zhì)量流量控制器裝置及方法。
背景技術(shù)
質(zhì)量流量控制器(MASS FLOW CONTROLLER,MFC)在廣泛應(yīng)用于各類工藝氣體流量的精密控制,具有反應(yīng)速度快和控制精度高等優(yōu)點。在使用一段時間后質(zhì)量流量傳感器可能會發(fā)生零點漂移,一旦發(fā)生零點漂移就會引起產(chǎn)品工藝質(zhì)量波動。因此需要對質(zhì)量流量控制器進(jìn)行定期校驗。而且質(zhì)量流量控制器用于腐蝕性、有毒、易燃易爆場合,經(jīng)過長時間使用,質(zhì)量流量控制器會老化而發(fā)生泄漏,產(chǎn)生嚴(yán)重的安全事故,因此也需要定期對質(zhì)量流量控制器進(jìn)行泄露檢測。
現(xiàn)有技術(shù)中,依據(jù)被檢測的質(zhì)量流量控制器檢測的氣體的種類選擇合適量程的標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,將被檢測的質(zhì)量流量控制器和標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器串接后,通入氣體,傳感器讀取氣體通過被檢測的質(zhì)量流量控制器的讀數(shù)和檢測通過標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器的讀數(shù),比較兩者的讀數(shù)差值是否在預(yù)設(shè)的范圍內(nèi),來判斷被檢測的質(zhì)量流量控制器是否能夠正常使用。
由于使用的氣體種類多,在校驗過程中,需要頻繁拆裝更換相應(yīng)量程的標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器進(jìn)行MFC(MASS FLOW CONTROLLER,質(zhì)量流量控制器)性能檢測。頻繁地人工拆裝,費時費力且難以完成長時間重復(fù)性檢測,不能準(zhǔn)確反映被校驗質(zhì)量流量控制器的性能。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明實施例提供了一種校驗質(zhì)量流量控制器的裝置及方法,以解決上述技術(shù)問題。
本發(fā)明實施例提供了一種校驗質(zhì)量流量控制器的裝置,包括:
標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器組、被校驗質(zhì)量流量控制器、第一傳感器、第二傳感器、處理器和氣動閥組;
所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器組包括至少兩個標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,各個所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器具有不同量程;
所述第一傳感器與所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器組連接,用于讀取氣體流經(jīng)所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器的第一參數(shù);
所述第二傳感器與所述被校驗質(zhì)量流量控制器連接,用于讀取氣體流經(jīng)所述被校驗質(zhì)量流量控制器的第二參數(shù);
所述處理器,用于依據(jù)所述被校驗質(zhì)量流量控制器的量程來選擇所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器,并根據(jù)接收到的所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù)來判斷所述被校驗質(zhì)量流量控制器是否合格;
所述氣動閥組包括若干個與各個所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器相對應(yīng)的第一氣動閥,各個所述第一氣動閥的一端與進(jìn)氣口連接,另一端與相對應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器連接;
所述氣動閥組還包括第二氣動閥和第三氣動閥,所述第二氣動閥的一端連接標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器組,另一端連接所述被校驗質(zhì)量流量控制器;
所述第三氣動閥的一端連接所述被校驗質(zhì)量流量控制器,另一端連接排氣端。
優(yōu)選地,所述氣動閥組還包括:
第四氣動閥,一端連接所述進(jìn)氣口,另一端連接所述被校驗質(zhì)量流量控制器。
優(yōu)選地,所述的校驗質(zhì)量流量控制器的裝置還包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫華潤華晶微電子有限公司,未經(jīng)無錫華潤華晶微電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310638823.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種網(wǎng)絡(luò)驗證信息的方法和裝置
- 數(shù)據(jù)安全校驗方法、裝置及校驗設(shè)備
- XBRL實例文檔校驗方法以及系統(tǒng)
- 一次性可編程存儲裝置以及對其進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗的方法
- 信息校驗方法及裝置
- 一種基于Java系統(tǒng)的數(shù)據(jù)校驗方法及系統(tǒng)
- 用于獨立冗余磁盤陣列的數(shù)據(jù)管理方法、設(shè)備和計算機程序產(chǎn)品
- 數(shù)據(jù)校驗方法及應(yīng)用系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)校驗方法、裝置、電子設(shè)備
- 一種業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)校驗方法及裝置





