[發明專利]一種相位延遲測量裝置及方法

無效

• 申請號: 201310636822.4
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN103604776A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 馮國進
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 李相雨

技術領域

本發明涉及測量技術領域，尤其涉及一種相位延遲測量裝置及方法。

背景技術

隨著材料學科的快速發展，對光學材料相位延遲特性的測量提出了很高的要求。

目前公知的相位延遲的測量方法主要有：諧振腔法、相位補償法、光譜掃描測量法、偏振調制法、光學差拍法、莫爾偏折法，補償法、雙光路相位比較法和光強法等。但這些方法的測量精度低，難以滿足需求。

發明內容

本發明提供了一種相位延遲測量裝置及方法，測量的準確度可以獨立與材料自身特性，且能夠極大提高測量的精度。

本發明提供了一種相位延遲測量裝置，包括單色偏振光源、分束計、第一探測器、第二探測器、第一轉臺、格蘭泰勒棱鏡，所述第一轉臺用于承載待檢測樣品沿水平軸轉動，且單色偏振光經分束計分光后，其中一束光束一照射到第一探測器，另一束光束二經過待檢測樣品照射到格蘭泰勒棱鏡上，并在經過格蘭泰勒棱鏡后照射到第二探測器上。

優選的，所述單色偏振光源包括：超連續光譜光源，分光系統，光闌；

其中，所述分光系統滿足如下條件：經所述分光系統出射的光束的消光比大于55dB。

優選的，該裝置還包括：恒溫箱，測量時所述待檢測樣品位于所述恒溫箱內。

優選的，該裝置還包括：光陷阱，用于吸收經第一探測器和/或第二探測器反射的光束。

本發明還提供了一種利用上述任一項所述的裝置實現相位延遲測量的方法，包括：

以光束二為軸按照預設步長旋轉所述待檢測樣品，并記錄所述第一探測器探測到的電流I₁和所述第二探測器探測到的電流I₂；

根據所述電流I₁和I₂計算所述待檢測樣品的相位延遲值。

優選的，當所述裝置中包含恒溫箱時，所述以光束二為軸按照預設步長旋轉所述待檢測樣品之前，所述方法還包括：將所述恒溫箱調節到所述預設的溫度。

優選的，所述根據所述電流I₁和I₂計算所述待檢測樣品的相位延遲值，具體為：利用如下公式計算待檢測樣品的相位延遲值σ:

δ=2arcsin(Imax-Imin)/(Imax+Imintan2θ2);]]>

其中I=I₁/I₂，I_max和I_max分別為I的最大取值和最小取值，θ為所述格蘭泰勒棱鏡起偏方向與所述單色偏振光的光路偏振面之間的夾角。

本發明提供的一種相位延遲測量裝置包括：分束計、第一探測器、第二探測器、第一轉臺、格蘭泰勒棱鏡，所述第一轉臺用于承載待檢測樣品沿水平軸轉動，且單色偏振光經分束計分光后，其中一束光束一照射到第一探測器，另一束光束二經過待檢測樣品照射到格蘭泰勒棱鏡上，并在經過格蘭泰勒棱鏡后照射到第二探測器上。本發明提供的相位延遲測量裝置及方法，其測量的準確度可以獨立與材料自身特性，且能夠極大提高測量的精度。

附圖說明

圖1為本發明提供的一種相位延遲測量裝置的結構示意圖；

圖2為本發明提供的一種相位延遲測量的方法流程圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本發明的具體實施方式作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本發明的技術方案，而不能以此來限制本發明的保護范圍。

本發明實施例一提供了一種相位延遲測量裝置，如圖1所示，包括：