[發(fā)明專利]一種延遲單元電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310633168.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103647545A | 公開(公告)日: | 2014-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張漢儒;尹航;王釗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫中星微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03K19/0175 | 分類號(hào): | H03K19/0175 |
| 代理公司: | 北京億騰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 11309 | 代理人: | 陳霽 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市無錫*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 延遲 單元 電路 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,具體涉及一種延遲單元電路。
背景技術(shù)
延遲單元電路,廣泛應(yīng)用于各種集成電路中。延遲單元可以有效地控制電路中的瞬態(tài)過電壓和電壓突變,對(duì)電路起緩沖作用,并保護(hù)器件安全運(yùn)行。有些時(shí)間較短的延遲單元不使用數(shù)字時(shí)鐘計(jì)時(shí),而使用電阻電容形成延遲,由于電阻電容容易受到噪聲干擾導(dǎo)致輸出異常。
例如圖1為現(xiàn)有技術(shù)的延遲單元電路。第一反相器包括第一PMOS管(MP1)和第一NMOS(MN1)管,以下簡稱MP1、MN1,第二反相器包括第二PMOS管(MP2)和第二NMOS(MN2)管,以下簡稱MP2、MN2。IN為數(shù)字信號(hào)輸入端口,OUT為延遲數(shù)字信號(hào)輸出端口,當(dāng)數(shù)字信號(hào)輸入端口輸入信號(hào)從低電平變高電平時(shí),MP1截止,MN1開啟,C1通過限流電阻R1向GND放電,圖2是現(xiàn)有技術(shù)的延遲單元電路波形圖。當(dāng)節(jié)點(diǎn)node1電平下降到低于由MN2,MP2組成的反相器翻轉(zhuǎn)電平時(shí),數(shù)字信號(hào)輸出端口電平翻轉(zhuǎn)從低變高。此時(shí)數(shù)字信號(hào)輸入端口信號(hào)上升沿到數(shù)字信號(hào)輸出端口信號(hào)上升沿之間有延遲,即延遲了數(shù)字信號(hào)輸出端口信號(hào)的輸出。當(dāng)電源出現(xiàn)較大噪聲時(shí),則節(jié)點(diǎn)node1電平在反相器翻轉(zhuǎn)電平附近受到干擾,導(dǎo)致數(shù)字信號(hào)輸出端口信號(hào)出現(xiàn)多次翻轉(zhuǎn),進(jìn)一步影響到輸出信號(hào)高低電平不穩(wěn)定。圖3即為受到噪聲干擾的延遲單元電路波形圖。
導(dǎo)致上述問題的根本原因在于節(jié)點(diǎn)node1電平在反相器翻轉(zhuǎn)電平附近不穩(wěn)定。增加反饋控制模塊,實(shí)現(xiàn)電容電壓盡快遠(yuǎn)離后級(jí)信號(hào)放大電路的翻轉(zhuǎn)電平,是解決上述問題的有效途徑。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,在延遲單元電路的基礎(chǔ)上,增加一個(gè)反饋控制模塊,從而提高延遲單元電路抗干擾能力。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明設(shè)計(jì)了一種延遲單元電路驅(qū)動(dòng)反饋控制的方法,所述延遲單元電路包括:數(shù)字信號(hào)輸入端口、數(shù)字信號(hào)輸出端口、第一反相器、第二反相器、反饋控制模塊、節(jié)點(diǎn)node1、電源和電容;
所述第一反相器的輸入級(jí)與數(shù)字信號(hào)輸入端口相連接,輸出級(jí)與節(jié)點(diǎn)node1相連接;
所述第二反相器的輸入級(jí)與節(jié)點(diǎn)node1相連接,輸出級(jí)與數(shù)字信號(hào)輸出端口相連接;
所述第一反相器的輸出級(jí)和所述第二反相器的輸入級(jí)通過所述節(jié)點(diǎn)node1相連接;
所述的反饋控制模塊,兩端輸入級(jí)分別與信號(hào)輸入端口、信號(hào)輸出端口連接,兩個(gè)連接端分別與所述節(jié)點(diǎn)node1、地相連接,當(dāng)所述數(shù)字信號(hào)輸入端口和所述數(shù)字信號(hào)輸出端口同時(shí)為第一電平時(shí),將所述節(jié)點(diǎn)node1和地相連,當(dāng)所述數(shù)字信號(hào)輸入端口和所述數(shù)字信號(hào)輸出端口不同時(shí)為第一電平時(shí),將所述節(jié)點(diǎn)node1和地?cái)嚅_;
所述的電容,連接于節(jié)點(diǎn)node1和地之間;
優(yōu)選地,所述第一反相器包括電阻、第一PMOS管(MP1)和第一NMOS(MN1)管;
所述MN1的第一NMOS襯底和源極相接并接地(接最低電平);所述MP1的襯底和源極相接并接電源(接最高電平),所述MN1柵極和所述MP1柵極互連并做為所述第一反相器的輸入級(jí),所述MN1的漏極經(jīng)由所述電阻與所述MP1的漏極相連,所述MP1的漏極作為所述第一反相器的輸出級(jí)連接于所述節(jié)點(diǎn)node1;
所述第二反相器包括第二PMOS管(MP2)和第二NMOS(MN2)管;所述MP2的管的襯底和源極相接并接電源(接最高電平),所述第二NMOS襯底和源極相接并接地(接最低電平),所述MN2柵極和所述MP2柵極互連并作為所述第一反相器的輸入級(jí)連接于所述節(jié)點(diǎn)node1,所述MN2的漏極和所述MP2的漏極連接做為所述數(shù)字信號(hào)輸出端;
當(dāng)所述數(shù)字信號(hào)輸入端口的輸入信號(hào)從低電平變高電平后,所述MP1截止,所述MN1、MN4導(dǎo)通,當(dāng)所述節(jié)點(diǎn)node1電平低于所述第二反相器翻轉(zhuǎn)電平時(shí),所述MP2導(dǎo)通,所述MN2截止,所述數(shù)字信號(hào)輸出端口被拉升至所述電源電壓高電平,所述MN3導(dǎo)通,所述反饋模塊啟動(dòng)控制所述延遲電容放電進(jìn)程。
優(yōu)選地,所述反饋控制模塊包括第三NMOS管(MN3)、第四NMOS管(MN4),以下簡稱MN3、MN4,所述數(shù)字信號(hào)輸入端驅(qū)動(dòng)所述第四NMOS管的柵極,所述數(shù)字信號(hào)輸出端驅(qū)動(dòng)所述第三NMOS管的柵極,所述第三NMOS管的漏極連接于所述節(jié)點(diǎn)node1,所述第三NMOS管的源極與所述第四NMOS管的漏極相連,所述第四NMOS管的源極接地;
當(dāng)所述數(shù)字信號(hào)輸入端口、所述數(shù)字信號(hào)輸出端口都為高電平時(shí),所述MN3、MN4都導(dǎo)通,所述的反饋控制模塊開啟,拉低所述節(jié)點(diǎn)node1電平。
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