[發明專利]充電控制電路的校準方法和校準電路有效
| 申請號: | 201310630350.1 | 申請日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN104682466A | 公開(公告)日: | 2015-06-03 |
| 發明(設計)人: | 張富強 | 申請(專利權)人: | 展訊通信(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H02J7/00 | 分類號: | H02J7/00;G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 吳靖靚;駱蘇華 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區張*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 充電 控制電路 校準 方法 電路 | ||
技術領域
本發明涉及一種充電控制電路的校準方法和校準電路。
背景技術
現代電子產品日趨便攜化、智能化,因此也對它們的供電電池提出了輕便、高效的要求。充電電池是充電次數有限的可充電的電池,具有經濟和環保等優點,鋰離子電池因其優異的性能正逐漸成為現代電子產品的標準電池。
電子設備通常設置有充電電路,用來管理適配器和充電電池之間的充電。如圖1所示,現有充電電路包括:充電控制電路1、第一PMOS晶體管MP1、第二PMOS晶體管MP2和采樣電阻Rs。
充電控制電路1包括:電流電壓控制端C1、防倒灌控制端C2、電壓采樣端S1和電流采樣端S2和電壓調節端IN。
第一PMOS晶體管MP1的源極連接第一PMOS晶體管MP1的襯底并適于輸入充電電壓VBUS。第一PMOS晶體管MP1的柵極連接電流電壓控制端C1。第一PMOS晶體管MP1的漏極連接第二PMOS晶體管MP2的漏極。
第二PMOS晶體管MP2的源極連接第二PMOS晶體管MP2的襯底、采樣電阻Rs的第一端和電流采樣端S2。第二PMOS晶體管MP2的柵極連接防倒灌控制端C2。采樣電阻Rs的第二端連接電壓采樣端S1和電池。
如圖2所示,充電控制電路1還包括:防倒灌控制電路11、電流控制環路12、電壓控制環路13、第一電阻R1和第二電阻R2。
防倒灌控制電路11連接防倒灌控制端C2。電流控制環路12的第一輸入端連接電流采樣端S2,電流控制環路12的第二輸入端連接電壓采樣端S1和第一電阻R1的第一端。
電流控制環路12的輸出端連接電流電壓控制端C1。
電壓控制環路13的第一輸入端適于輸入基準電壓Vref,電壓控制環路13的第二輸入端連接第一電阻R1的第二端和第二電阻R2的第一端,電壓控制環路13的輸出端連接電流電壓控制端C1。第二電阻R2的第二端接地。
基準電壓Vref一般由帶隙基準源(bandgap)提供,帶隙基準源輸出的基準電壓Vref的電壓值在1.2V±5%,但是,充電控制電路1與電池連接節點的電壓Vs應該在4.2V±1%,基準電壓Vref的波動范圍過大。
為了校準充電控制電路1與電池連接節點的電壓Vs,現有技術通過電壓調節端IN輸入測試數據,第二電阻R2的電阻值可以根據電壓調節端IN輸入的測試數據而變化,不同電阻值的第二電阻R2使得輸出電壓Vs的電壓值也發生變化。測量充電控制電路1與電池連接節點的電壓Vs,當充電控制電路1與電池連接節點的電壓Vs為4.2V±1%時,將此時電壓調節端IN輸入的測試數據作為校準數據保存在充電控制電路1的存儲器中。充電電路正常工作時,使用經過測試得到的校準數據來校正充電控制電路1與電池連接節點的電壓Vs。
但是,充電電路中的第一PMOS晶體管MP1和第二PMOS晶體管MP2也需要參與上述電控制電路1的測試,即充電電路也是充電控制電路1的校準電路,這導致充電電路正常工作所需的第一PMOS晶體管MP1和第二PMOS晶體管MP2經常在測試階段就被損壞,或者使用壽命明顯縮短。
發明內容
本發明解決的問題是現有充電電路中的晶體管容易損壞。
為解決上述問題,本發明提供一種充電控制電路的校準方法,所述充電控制電路適于輸入充電電壓,所述充電控制電路包括:電流電壓控制端、電壓調節端和電壓采樣端,所述校準方法包括:
施加目標電壓至所述電壓采樣端;
通過所述電壓調節端依次輸入N個測試數據,N≥2,第n個測試數據大于第n-1個測試數據,N≥n≥2;
測量所述電流電壓控制端的檢測電壓以獲得每個測試數據對應的檢測電壓;
將突變測試電壓對應的測試數據作為所述充電控制電路的校準數據,所述突變測試電壓為檢測電壓中的第一個電壓值小于或等于電壓閾值的檢測電壓,所述電壓閾值為所述充電電壓的電壓值的一半。
可選的,所述測試數據為二進制數據,所述二進制數據的最小值為第1個測試數據,所述第n個測試數據和第n-1個測試數據的差值為1。
本發明還提供一種充電控制電路的校準方法,所述充電控制電路適于輸入充電電壓,所述充電控制電路包括:電流電壓控制端、電壓調節端和電壓采樣端,所述校準方法包括:
施加目標電壓至所述電壓采樣端;
通過所述電壓調節端依次輸入N個測試數據,N≥2,第n個測試數據小于第n-1個測試數據,N≥n≥2;
測量所述電流電壓控制端的檢測電壓以獲得每個測試數據對應的檢測電壓;
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