[發明專利]充電控制電路的校準方法和校準電路

有效

• 申請號: 201310630350.1
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN104682466A
• 公開（公告）日: 2015-06-03
• 發明（設計）人: 張富強
• 申請（專利權）人: 展訊通信（上海）有限公司
• 主分類號: H02J7/00
• 分類號: H02J7/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 吳靖靚;駱蘇華

1.一種充電控制電路的校準方法，所述充電控制電路適于輸入充電電壓，所述充電控制電路包括：電流電壓控制端、電壓調節端和電壓采樣端，其特征在于，所述校準方法包括：

施加目標電壓至所述電壓采樣端；

通過所述電壓調節端依次輸入N個測試數據，N≥2，第n個測試數據大于第n-1個測試數據，N≥n≥2；

測量所述電流電壓控制端的檢測電壓以獲得每個測試數據對應的檢測電壓；

將突變測試電壓對應的測試數據作為所述充電控制電路的校準數據，所述突變測試電壓為檢測電壓中的第一個電壓值小于或等于電壓閾值的檢測電壓，所述電壓閾值為所述充電電壓的電壓值的一半。

2.如權利要求1所述的充電控制電路的校準方法，其特征在于，所述測試數據為二進制數據，所述二進制數據的最小值為第1個測試數據，所述第n個測試數據和第n-1個測試數據的差值為1。

3.一種充電控制電路的校準方法，所述充電控制電路適于輸入充電電壓，所述充電控制電路包括：電流電壓控制端、電壓調節端和電壓采樣端，其特征在于，所述校準方法包括：

施加目標電壓至所述電壓采樣端；

通過所述電壓調節端依次輸入N個測試數據，N≥2，第n個測試數據小于第n-1個測試數據，N≥n≥2；

測量所述電流電壓控制端的檢測電壓以獲得每個測試數據對應的檢測電壓；

將突變測試電壓對應的測試數據作為所述充電控制電路的校準數據，所述突變測試電壓為檢測電壓中的第一個電壓值大于或等于電壓閾值的檢測電壓，所述電壓閾值為所述充電電壓的電壓值的一半。

4.如權利要求3所述的充電控制電路的校準方法，其特征在于，所述測試數據為二進制數據，所述二進制數據的最大值為第1個測試數據，所述第n-1個測試數據和第n個測試數據的差值為1。

5.如權利要求1或3所述的充電控制電路的校準方法，其特征在于，所述突變測試電壓所對應的測試數據為第N個測試數據。

6.如權利要求1或3所述的充電控制電路的校準方法，其特征在于，所述充電電壓為5-9V。

7.一種充電控制電路的校準電路，所述充電控制電路適于輸入充電電壓，所述充電控制電路包括：電流電壓控制端、電壓調節端和電壓采樣端，其特征在于，所述校準電路包括：

電壓提供單元，適于施加目標電壓至所述電壓采樣端；

數據輸入單元，適于通過所述電壓調節端依次輸入N個測試數據，N≥2，第n個測試數據大于第n-1個測試數據，N≥n≥2；

電壓測試單元，適于測量所述電流電壓控制端的檢測電壓以獲得每個測試數據對應的檢測電壓；

確定單元，適于將突變測試電壓對應的測試數據作為所述充電控制電路的校準數據，所述突變測試電壓為檢測電壓中的第一個電壓值小于或等于電壓閾值的檢測電壓，所述電壓閾值為所述充電電壓的電壓值的一半。

8.一種充電控制電路的校準電路，所述充電控制電路適于輸入充電電壓，所述充電控制電路包括：電流電壓控制端、電壓調節端和電壓采樣端，其特征在于，所述校準電路包括：

電壓提供單元，適于施加目標電壓至所述電壓采樣端；

數據輸入單元，適于通過所述電壓調節端依次輸入N個測試數據，N≥2，第n個測試數據小于第n-1個測試數據，N≥n≥2；

電壓測試單元，適于測量所述電流電壓控制端的檢測電壓以獲得每個測試數據對應的檢測電壓；

確定單元，適于將檢測電壓中的突變測試電壓所對應的測試數據作為所述充電控制電路的校準數據，所述突變測試電壓為第一個電壓值大于或等于電壓閾值的檢測電壓，所述電壓閾值為所述充電電壓的電壓值的一半。

9.如權利要求7或8所述的充電控制電路的校準電路，其特征在于，所述突變測試電壓所對應的測試數據為第N個測試數據。

10.如權利要求7或8所述的充電控制電路的校準電路，其特征在于，所述充電電壓為5-9V。