[發(fā)明專利]半導(dǎo)體設(shè)備和電子設(shè)備無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310629778.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103855136A | 公開(公告)日: | 2014-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 中村卓矢 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 索尼公司 |
| 主分類號(hào): | H01L25/065 | 分類號(hào): | H01L25/065;H01L27/146;H01L23/488;H01L23/367 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體設(shè)備 電子設(shè)備 | ||
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)要求于2012年12月6日提交的日本在先專利申請(qǐng)第JP2012-267398號(hào)的權(quán)益,其全部?jī)?nèi)容通過引用結(jié)合于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及一種半導(dǎo)體設(shè)備和一種電子設(shè)備,并且具體,涉及一種能夠減少圖像的噪聲并能以高速執(zhí)行算術(shù)處理的小尺寸改善的半導(dǎo)體設(shè)備以及一種包括該小尺寸改善的半導(dǎo)體設(shè)備的電子設(shè)備。
背景技術(shù)
對(duì)于包括圖像傳感器芯片的半導(dǎo)體封裝,在過去已經(jīng)應(yīng)用了針對(duì)由于在圖像傳感器芯片的光接收區(qū)中不必要光的泄漏而造成的雜散光的防范措施。
尤其是,因?yàn)槿菀追瓷涔獾慕饘偻ǔS糜谶B接圖像傳感器芯片和封裝基板的接合線,所以需要對(duì)接合線應(yīng)用對(duì)雜散光的防范措施。因此,為了防止由接合線反射的光泄露進(jìn)圖像傳感器芯片的光接收區(qū)中,在過去已經(jīng)提供給防閃光板。
此外,近幾年,隨著電子設(shè)備的尺寸減小和性能的改善,包括圖像傳感器芯片的半導(dǎo)體封裝期望具有更高的性能。例如,需要能夠以比現(xiàn)有的半導(dǎo)體封裝更快的速度執(zhí)行算術(shù)處理的半導(dǎo)體封裝。
另一方面,近幾年,已經(jīng)進(jìn)行了半導(dǎo)體芯片工藝的改良,并且已經(jīng)廣泛使用由能夠增加每單位面積的將被集成的晶體管的數(shù)量的新一代工藝制造的半導(dǎo)體芯片(稱為新一代半導(dǎo)體芯片)。
通過利用該新一代半導(dǎo)體芯片,可以將算術(shù)處理的速度提高至比現(xiàn)有的半導(dǎo)體芯片的算術(shù)處理的速度更高并且減少功耗。因此,已經(jīng)產(chǎn)生了包括新一代的半導(dǎo)體芯片作為外圍電路單元的半導(dǎo)體封裝,該外圍電路單元在過去已經(jīng)被結(jié)合在圖像傳感器芯片中。
然而,因?yàn)橐愿咚賵?zhí)行算術(shù)處理的新一代半導(dǎo)體芯片具有高發(fā)熱量,所以需要對(duì)新一代半導(dǎo)體芯片應(yīng)用針對(duì)散熱的防范措施。
例如,已經(jīng)提出一種通過提供將半導(dǎo)體芯片和封裝基板熱耦接在一起的熱傳導(dǎo)構(gòu)件來將從半導(dǎo)體芯片生成的熱量轉(zhuǎn)移至封裝基板的技術(shù)(參見,例如:日本專利申請(qǐng)公開第2012-124305號(hào))。
發(fā)明內(nèi)容
然而,在包括新一代半導(dǎo)體芯片作為外圍電路單元的半導(dǎo)體封裝中,由作為外圍電路單元的新一代半導(dǎo)體芯片反射的光有時(shí)泄露進(jìn)圖像傳感器芯片的光接收區(qū)中。
在現(xiàn)有技術(shù)中,并未應(yīng)用針對(duì)根據(jù)用作外圍電路單元的該新一代半導(dǎo)體芯片的雜散光的充分的防范措施,因此有時(shí)由于雜散光而生成重影。
考慮到上述情況,已經(jīng)提出本公開,期望提供包括小尺寸改善的圖象傳感器的半導(dǎo)體設(shè)備,其能夠減少圖像的噪聲并能以高速執(zhí)行算術(shù)處理。
根據(jù)本公開的第一實(shí)施方式,提供了一種半導(dǎo)體設(shè)備,包括:第一半導(dǎo)體芯片,其上形成有光電轉(zhuǎn)換單元,該光電轉(zhuǎn)換被配置為對(duì)在光接收區(qū)中所接收的光執(zhí)行光電轉(zhuǎn)換;第二半導(dǎo)體芯片,電連接至第一半導(dǎo)體芯片,所述第二半導(dǎo)體芯片被設(shè)置在第一半導(dǎo)體芯片的光接收區(qū)一側(cè)上的表面上;以及防閃光板,設(shè)置在所述第二半導(dǎo)體芯片上,所述防閃光板被配置為阻擋光,所述防閃光板與第二半導(dǎo)體芯片接觸。
防閃光板的在光接收區(qū)的一側(cè)上的端部可以被設(shè)置為使得從第二半導(dǎo)體芯片的在光接收區(qū)一側(cè)上的端部突出至少200μm。
防閃光板的在光接收區(qū)一側(cè)上的端部可向下傾斜地彎曲。
防閃光板的在光接收區(qū)一側(cè)上的端部可向下以直角彎曲。
散熱樹脂和用于散熱的導(dǎo)體中的一個(gè)的膜可形成在防閃光板的在防閃光板與第二半導(dǎo)體芯片接觸的一側(cè)上的表面上。
根據(jù)本公開的第二實(shí)施方式,提供了一種電子設(shè)備,包括:半導(dǎo)體設(shè)備,該半導(dǎo)體設(shè)備包括:第一半導(dǎo)體芯片,其上形成有光電轉(zhuǎn)換單元,該光電轉(zhuǎn)換被配置為對(duì)在光接收區(qū)中在所接收的光執(zhí)行光電轉(zhuǎn)換;第二半導(dǎo)體芯片,電連接至第一半導(dǎo)體芯片,所述第二半導(dǎo)體芯片被設(shè)置在第一半導(dǎo)體芯片的在光接收區(qū)一側(cè)上的表面上;以及防閃光板,設(shè)置在第二半導(dǎo)體芯片上,所述防閃光板被配置為阻擋光,所述防閃光板與第二半導(dǎo)體芯片接觸。
在本公開的第一和第二實(shí)施方式中,在設(shè)置在第一半導(dǎo)體芯片的光接收區(qū)一側(cè)上的表面上的第二半導(dǎo)體芯片上,設(shè)置被配置為阻擋光的防閃光板,并且防閃光板與第二半導(dǎo)體芯片接觸,該第二半導(dǎo)體芯片電連接至第一半導(dǎo)體芯片,在所述第一半導(dǎo)體芯片上形成被配置為對(duì)在光接收區(qū)中所接收的光執(zhí)行光電轉(zhuǎn)換的光電轉(zhuǎn)換單元。
根據(jù)本公開,可以提供一種包括小尺寸改善的圖象傳感器的半導(dǎo)體設(shè)備,其能夠減少圖像的噪聲并能以高速執(zhí)行算術(shù)處理。
如附圖所示,根據(jù)以下本公開的最佳模式的實(shí)施方式的詳細(xì)說明,本公開的這些以及其他的目標(biāo)、特征與優(yōu)點(diǎn)將變得顯而易見。
附圖說明
圖1是示出了根據(jù)本公開的實(shí)施方式的半導(dǎo)體設(shè)備的配置實(shí)例的截面圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于索尼公司,未經(jīng)索尼公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310629778.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L25-00 由多個(gè)單個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)器件組成的組裝件
H01L25-03 .所有包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中同一小組內(nèi)的相同類型的器件,例如整流二極管的組裝件
H01L25-16 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個(gè)或多個(gè)不同大組內(nèi)的類型的器件,例如構(gòu)成混合電路的
H01L25-18 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個(gè)或多個(gè)同一大組的不同小組內(nèi)的類型的器件
H01L25-04 ..不具有單獨(dú)容器的器件
H01L25-10 ..具有單獨(dú)容器的器件
- 用于檢測(cè)半導(dǎo)體設(shè)備的裝置
- 監(jiān)測(cè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)設(shè)備可靠性的方法及其裝置
- 半導(dǎo)體晶體移除設(shè)備和半導(dǎo)體晶體的產(chǎn)生方法
- 具有機(jī)械熔絲的半導(dǎo)體封裝
- 監(jiān)控退火設(shè)備出現(xiàn)小顆粒尺寸缺陷的方法
- 多晶硅柵極關(guān)鍵尺寸的先進(jìn)控制方法
- 具有磁耦合設(shè)備的半導(dǎo)體開關(guān)
- 半導(dǎo)體工藝及半導(dǎo)體設(shè)備
- 半導(dǎo)體設(shè)備封裝及其制造方法
- 半導(dǎo)體微波設(shè)備的控制方法和半導(dǎo)體微波設(shè)備





