[發明專利]微粒分析裝置與微粒分析方法無效
| 申請號: | 201310628845.0 | 申請日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN103852408A | 公開(公告)日: | 2014-06-11 |
| 發明(設計)人: | 棚瀨廣宣 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G01N15/14 | 分類號: | G01N15/14 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微粒 分析 裝置 方法 | ||
相關申請的交叉引用
本申請要求于2012年12月6日提交的日本優先專利申請JP2012-267648的優先權,其全部內容結合于此作為參考。
背景技術
本技術涉及用于光學檢測諸如微粒等樣本的一種微粒分析裝置和一種微粒分析方法。更具體地,本技術涉及使用多個光源的微粒分析裝置和一種微粒分子方法。
利用使用流動細胞計量術(流動細胞計)的光學測量方法來識別諸如微生物、核糖體等有關生物學的微粒。流動細胞計量術是一種分析技術,這種分析技術通過使用具有特定波長的激光對以單向流經通道的微粒進行照射、并且對從微粒發射出的熒光和散光進行檢測來識別多個微粒之中的各個微粒。
此外,最近,通過使用多種熒光染料來涂敷微粒,并且然后,分離并且檢測從相應微粒發射的熒光,還可進行用于獲得關于每個微粒的多種信息的多色分析。已經設計出這樣一種流動細胞計(例如,涉及JP-A-2007-46947、JP-A-2009-270990和JP-A-2010-286381),即能夠使用具有不同波長的多種激光束對流經通道的微粒進行照射并且對從微粒發射的多種波長中的熒光進行檢測,從而進行該多色分析。
圖16是示意性地示出了JP-A-2007-46947中所描述的傳統式流動細胞計配置的圖表。如圖16所示,JP-A-2007-46947中所描述的流動細胞計101主要由流動系統102、光學系統103、以及信號處理裝置104配置而成。此外,涂有熒光染料的細胞105在流動系統102的流動細胞中布置成一條線,并且通過光學系統103使用具有不同波長的多種激光束對每個細胞105進行照射。
在這次操作過程中,從包括在調制器內的光源106a、106b和106c以預定時間段而非以彼此不同的階段發射彼此具有不同波長的多種激光束。通過光導元件107沿著相同入射光程導向多種光束,并且將多種光束聚集在細胞105上。此外,通過半反射鏡、帶通濾波器等從細胞105發射的散光和熒光中分離出其相應的波長,并且由相應的PMT(光電倍增管)對散光和熒光進行檢測。
發明內容
然而,在傳統的流動細胞計中,因為來自非目標熒光染料的熒光泄漏到各個檢測器中,為了精確地進行分子,所以進行熒光校正時減去熒光重疊的部分。類似于JP-A-2009-270990中的測量方法,盡管通過使用其激光光譜并不重疊的色素可消除熒光泄漏問題,然而,能夠選擇的色素有限。
另一方面,盡管JP-A-2007-46947描述的流動細胞計以預定時間段而非以彼此不同的階段發射多種光束,然而,在本方法中,由于交替重復地打開和關閉各種激光,所以在發射之后會發生發射延遲現象和弛豫振蕩。例如,當重復地發射光,然后以幾百MHz的頻率熄滅時,由這種重復發射和熄滅導致的發射延遲的持續時間達到約幾納秒。尤其當在開啟與關閉之間迅速切換時,波長控制就變得非常困難。此外,如果發生激光松弛振蕩現象,因為峰值不再恒定,所以有可能檢測出變化的值。在這種情況下,測量值的精確度降低。
根據本發明的實施方式,提供這樣一種微粒分析裝置和一種微粒分析方法,即,即使當以多種熒光染料涂敷微粒時,微粒分析裝置和微粒分析方法也能夠精確地檢測從各種色素發射的熒光。
根據本發明的實施方式,提供一種微粒分析裝置,包括:光照射單元,光照射單元包括發射具有不同波長的激光束的多個光源,并且光照射單元被配置為使用激光對流經通道的微粒進行照射;和光源驅動控制單元,被配置為控制光照射單元中的每個光源的光發射。光源驅動控制單元被配置為向每個光源提供第一電流,并且在提供第一電流的同時以時間分割方式向每個光源提供第二電流。
第一電流可被設置為大于第二電流。
光源驅動控制單元針對每個光源可包括第一電流控制單元和第二電流控制單元,第一電流控制單元被配置為控制第一電流的供給;并且第二電流控制單元控制第二電流的供給。
光源驅動控制單元針對每個光源可包括功率自動控制電路和驅動電路。
微粒分析裝置可進一步包括被配置為對從使用激光照射的微粒發出的光進行檢測的光檢測單元。光檢測單元至少包括:光分離光學系統,被配置為根據波長分離出從微粒發射的光;和多個光電檢測器,被配置為對通過光分離光學系統分離的光進行檢測。
光檢測單元針對各個光電檢測器可包括被配置為控制對檢測信號的獲取的檢測電路。
檢測電路可包括被配置為在校正模式與測量模式之間切換的開關。
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