[發(fā)明專利]微粒分析裝置與微粒分析方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310628845.0
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN103852408A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 棚瀨廣宣
• 申請（專利權(quán)）人: 索尼公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種微粒分析裝置，包括：

光照射單元，包括發(fā)射具有不同波長的激光束的多個光源，并且被配置為使用所述激光對流經(jīng)通道的微粒進(jìn)行照射；以及

光源驅(qū)動控制單元，被配置為控制所述光照射單元中的每個光源的光發(fā)射，

其中，所述光源驅(qū)動控制單元被配置為向每個光源提供第一電流，并且在提供所述第一電流的同時，以時間分割方式向每個光源提供第二電流。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述第一電流大于所述第二電流。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述光源驅(qū)動控制單元針對每個光源包括被配置為控制所述第一電流的供給的第一電流控制單元和被配置為控制所述第二電流的供給的第二電流控制單元。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粒分析裝置，其中，所述光源驅(qū)動控制單元針對每個光源包括功率自動控制電路和驅(qū)動電路。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粒分析裝置，還包括：

光檢測單元，被配置為檢測從被照射有所述激光的微粒發(fā)射的光；

其中，所述光檢測單元至少包括下列項：

光分離光學(xué)系統(tǒng)，被配置為根據(jù)波長分離出從所述微粒發(fā)射的光，以及

多個光電檢測器，被配置為檢測由所述光分離光學(xué)系統(tǒng)分離的光。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微粒分析裝置，其中，所述光檢測單元針對每個光電檢測器包括被配置為控制檢測信號的獲取的檢測電路。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的微粒分析裝置，其中，所述檢測電路包括被配置為在校正模式與測量模式之間切換的開關(guān)。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微粒分析裝置，還包括：

多個功率自動控制電路，被設(shè)置在所述光源驅(qū)動控制單元中；以及

定時生成電路，被配置為將定時信號輸出到設(shè)置在所述光檢測單元中的多個檢測電路。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粒分析裝置，所述光照射單元還包括將由所述光源單元產(chǎn)生的激光聚集到所述微粒上的物鏡單元。

10.一種微粒分析方法，包括：

從多個光源中發(fā)射彼此具有不同波長的激光束；并且

利用每個激光束照射流經(jīng)通道的微粒，

其中，通過向每個光源提供第一電流并且在提供所述第一電流的同時以時間分割方式向每個光源提供第二電流，用具有不同波長的所述多個激光束以時間分割方式對所述微粒進(jìn)行照射。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的微粒分析方法，其中，所述第一電流被設(shè)置為大于所述第二電流。

12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的微粒分析方法，其中，分別且獨立地控制所述第一電流的供給和所述第二電流的供給。

13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的微粒分析方法，還包括：

光分離步驟，根據(jù)波長分離出從被照射有激光的所述微粒發(fā)射的光；并且

檢測步驟，使用多個光電檢測器檢測在所述光分離步驟中分離出的光。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的微粒分析方法，其中，所述光源的發(fā)射和所述光電檢測器的檢測同步進(jìn)行。

15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的微粒分析方法，其中，基于預(yù)先檢測的偏移數(shù)據(jù)對在所述檢測步驟中檢測的熒光數(shù)據(jù)進(jìn)行校正。