[發(fā)明專利]一種雙電離的離子源

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310617392.1
• 申請日: 2013-11-27
• 公開（公告）號: CN103594326A
• 公開（公告）日: 2014-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 唐紫超;史磊;李剛;王興龍;吳小虎;張世宇
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所
• 主分類號: H01J49/10
• 分類號: H01J49/10;H01J49/14;H01J49/16
• 代理公司: 沈陽晨創(chuàng)科技專利代理有限責(zé)任公司 21001
• 代理人: 張晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于離子源領(lǐng)域，具體涉及一種雙電離的離子源。

背景技術(shù)

質(zhì)譜技術(shù)是一種測量離子荷質(zhì)比的分析方法，其原理是使試樣中各組分在離子源中發(fā)生電離，生成不同荷質(zhì)比的帶正電荷的離子，經(jīng)加速電場的作用，形成離子束，進(jìn)入質(zhì)量分析器。在質(zhì)量分析器中，再利用電場和磁場使發(fā)生相反的速度色散，將它們分別聚焦而得到質(zhì)譜圖，從而確定其質(zhì)量。

待測樣品要在電離室中被離子源電離后才能被質(zhì)譜檢測到，以往的電離方式通常為單一的硬電離或軟電離，軟電離可得到樣品的分子離子峰，可更好的解析譜圖，但電離能量較低，對于難電離的樣品不適用；硬電離的電離能量較大，但易產(chǎn)生碎片離子，對譜圖的解析帶來一定的困難。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種雙電離的離子源，采用EI或PI兩種電離方式，拓寬了單一離子源分析多形態(tài)樣品時的適用性，同時提高了碎片離子的質(zhì)量選擇，可有效的分析離子組成和樣品結(jié)構(gòu)。

本發(fā)明提供了一種雙電離的離子源，該離子源由樣品管，推斥極、電離室、燈絲、紫外燈、引出極、聚焦極、出射極、接地柵板、推斥板組成；

該離子源是以樣品管為起點，依次為推斥極、電離室、燈絲、紫外燈、引出極、聚焦極、出射極、接地柵板及推斥板；其中，燈絲位于電離室的一側(cè)，紫外燈位于電離室的上方。

本發(fā)明提供的雙電離的離子源，該離子源由電子轟擊電離（EI源）和真空紫外燈電離（PI源）兩種電離方式組成。

本發(fā)明提供的雙電離的離子源，所述推斥極電壓為0～30V；所述引出極電壓為0～15V；所述聚焦極電壓為-110～0V；所述出射極電壓為-41～0V；所述燈絲電離能為-70eV；所述真空紫外燈電離能為8～15eV。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明電離方式為電子轟擊電離或紫外光電離兩種，拓寬了單一離子源分析多形態(tài)樣品時的適用性，同時提高了碎片離子的質(zhì)量選擇，可有效的分析離子組成和樣品結(jié)構(gòu)。電離產(chǎn)生的離子被推斥極向分析器推斥，在推斥過程中經(jīng)由引出極與聚焦極進(jìn)行匯聚，最終匯聚到離子源的出口上。通過調(diào)節(jié)推斥極、引出極、聚焦極的電壓可以調(diào)節(jié)出射離子的能量與方向分布。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一種雙電離的離子源的結(jié)構(gòu)圖，其中，1為樣品管；2為推斥極；3為電離室；4為燈絲；5為紫外燈；6為引出極；7為聚焦極；8為出射極；9為接地柵板；10為推斥板。

具體實施方式

下面結(jié)合圖1對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。

如圖1所示，本發(fā)明一種雙電離的離子源，以樣品管為起點，依次為推斥極、電離室、燈絲、紫外燈、引出極、聚焦極、出射極、接地柵板及推斥板。其中，燈絲位于電離室的一側(cè)，紫外燈位于電離室的上方。

本發(fā)明采用電子轟擊電離或紫外光電離兩種，拓寬了單一離子源分析多形態(tài)樣品時的適用性，同時提高了碎片離子的質(zhì)量選擇，可有效的分析離子組成和樣品結(jié)構(gòu)。電離產(chǎn)生的離子被推斥極向分析器推斥，在推斥過程中經(jīng)由引出極與聚焦極進(jìn)行匯聚，最終匯聚到離子源的出口上。通過調(diào)節(jié)推斥極、引出極、聚焦極的電壓可以調(diào)節(jié)出射離子的能量與方向分布。